เครื่องทดสอบในวงจร FA1220
ฝังลงในอุปกรณ์ที่มีอยู่เพื่อทำการทดสอบการทำงานของส่วนประกอบแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์แต่ละชิ้นหรือขณะติดตั้งบน PCBs
ฮิโอกิ PCB และอุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวใช้ประโยชน์จากความสามารถหลักของเราในการทดสอบส่วนประกอบที่มีความแม่นยำสูง FA1220 เป็นส่วนประกอบการวัด PCB แบบฝังได้ ซึ่งให้ความสามารถในการทดสอบฟังก์ชันที่ครอบคลุมเพื่อเสริมอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติที่มีอยู่
ฟีเจอร์หลัก
- ฟังก์ชันการทำงานรวมอยู่ในทาวเวอร์เดสก์ท็อปเพียงตัวเดียวที่สามารถฝังลงในอุปกรณ์ที่มีอยู่ได้อย่างง่ายดาย
- การทดสอบฟังก์ชันที่กว้างขวาง
- ตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าและการตรวจจับการแทรกย้อนกลับของ IC
- ฟังก์ชั่นการทดสอบมาโครเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการทดสอบ
- การวัดค่าความต้านทานต่ำสี่ขั้วสำหรับการวัดค่าความต้านทานต่ำที่เสถียร
หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)
FA1220 | ยูนิตหลักเท่านั้น |
---|
• ข้อมูลจากรุ่น 1101 และ 1102 รุ่นเก่าไม่สามารถแปลงเพื่อใช้งานโดย 1220 (FA1220) เนื่องจาก ฮิโอกิ ไม่สามารถจัดหาคอมพิวเตอร์ที่สามารถเรียกใช้ซอฟต์แวร์สนับสนุน 1137 ได้
• ความเข้ากันได้ของข้อมูลระหว่าง FA1220/FA1221 และผลิตภัณฑ์รุ่นเก่า (1220-00/-01/-02/-11/-50/-51/-52/-55): แม้ว่าข้อมูลที่สร้างขึ้นสำหรับผลิตภัณฑ์รุ่นเก่าจะสามารถใช้ได้ ข้อมูลดังกล่าว ไม่สามารถใช้งานร่วมกับ FA1220/FA1221 ได้อย่างสมบูรณ์ อาจจำเป็นต้องดำเนินการรับค่าความจุที่หลงทาง การได้มาซึ่งความต้านทานสายไฟ การเก็บข้อมูล S/O การเก็บข้อมูล IC และการดีบักการทดสอบส่วนประกอบ โดยเฉพาะอย่างยิ่ง อาจจำเป็นต้องเก็บประจุกลับคืนมาในการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการวัดค่าความจุประจุไฟฟ้าขนาดเล็ก
• ความเข้ากันได้ของข้อมูลระหว่าง FA1220/FA1221 และผลิตภัณฑ์รุ่นเก่า (1220-00/-01/-02/-11/-50/-51/-52/-55): แม้ว่าข้อมูลที่สร้างขึ้นสำหรับผลิตภัณฑ์รุ่นเก่าจะสามารถใช้ได้ ข้อมูลดังกล่าว ไม่สามารถใช้งานร่วมกับ FA1220/FA1221 ได้อย่างสมบูรณ์ อาจจำเป็นต้องดำเนินการรับค่าความจุที่หลงทาง การได้มาซึ่งความต้านทานสายไฟ การเก็บข้อมูล S/O การเก็บข้อมูล IC และการดีบักการทดสอบส่วนประกอบ โดยเฉพาะอย่างยิ่ง อาจจำเป็นต้องเก็บประจุกลับคืนมาในการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการวัดค่าความจุประจุไฟฟ้าขนาดเล็ก
ภาพรวมข้อมูลจำเพาะ FA1220
จำนวนคะแนนสอบ | แม็กซ์ 1024 พิน (สามารถเพิ่มเป็นบล็อคได้ 128 พิน) มาตรฐาน : 0 พิน (แผงเครื่องสแกนเนอร์มีจำหน่ายเป็นตัวเลือก) |
|||||
---|---|---|---|---|---|---|
จำนวนขั้นตอนการทดสอบ | ข้อมูลสั้น/เปิดแบบ Round-robin : 1024 พิน ข้อมูลส่วนประกอบ : สูงสุด 10,000 ก้าว ข้อมูลมาโคร : 1024 พิน/1024 ขั้น (โดยไม่คำนึงถึงจำนวนพิน) ข้อมูล IC : 500 ขั้น (สูงสุด 1024 พิน/ขั้น) ข้อมูลการชาร์จ : 40 ชุด พินข้อมูลการติดต่อ : 1024 พิน ข้อมูลกลุ่ม : 255 กลุ่ม |
|||||
พารามิเตอร์ทดสอบและช่วงการวัด | Round-robin สั้น/เปิด : | 4 Ω ถึง 400 kΩ (ค่าเริ่มต้น: 40 Ω) | ||||
การทดสอบมาโคร (อิมพีแดนซ์) : | 1 Ω ถึง 10 MΩ | |||||
การทดสอบส่วนประกอบ : | เป็นไปได้ | |||||
การตรวจจับการแทรกย้อนกลับของ IC: | เป็นไปได้ | |||||
หน่วยวัด | โวลต์มิเตอร์กระแสตรง : | 800 μV fs ถึง 25 V fs, 8 ช่วง | ||||
ดีซีแอมมิเตอร์ : | 100 nA fs ถึง 250 mA fs, 9 ช่วง | |||||
แอมป์มิเตอร์ : | 10 μArms fs ถึง 10 mA rms fs, 4 ช่วง | |||||
การทดสอบมาโคร : | แอมมิเตอร์ 10 μ / 100 μ / 1 m / 10 m Arms, 4 ranges | |||||
เครื่องสแกน (*2) | ซอฟต์แวร์ที่ใช้ : | สวิตช์อนาล็อก (บอร์ดสแกนเนอร์ E4201, E4202) | ||||
จำนวนช่อง : | 128 ช่อง / บอร์ด (สลับได้ 2-/4-terminal) | |||||
การป้องกันอินพุต : | ±15 V / ±0.5 V (กำหนดเป็นชุดได้, บอร์ดสแกนเนอร์ E4201 / E4202 เท่านั้น) | |||||
I/O ภายนอก (*2) | การใช้บอร์ด I/O E4220 (*1) : 60 อินพุต, 56 เอาต์พุต | |||||
หน่วยควบคุม | คอมพิวเตอร์ภายนอก (แยกจำหน่าย) FA1220: ระบบปฏิบัติการแบบเรียลไทม์, LAN สำหรับการเชื่อมต่อพีซี (พอร์ต 10 / 100 ×1) |
|||||
แหล่งจ่ายไฟ | 100 ถึง 240 V AC (±10%), เฟสเดียว, 50 Hz / 60 Hz, สูงสุด 260 W (พร้อมแผงสแกนเนอร์ 1024 พินเต็ม) | |||||
ขนาดและน้ำหนัก | กว้าง 200 มม. (7.87 นิ้ว) × 323 มม. (12.72 นิ้ว) สูง × 298 มม. (11.73 นิ้ว) ลึก 10 กก. (352.7 ออนซ์) | |||||
เครื่องประดับ | คู่มือการใช้งาน ×1, สายวัดทดสอบ ×1, สายไฟ ×1, อุปกรณ์โลหะ ×1, ซีดีการติดตั้ง ×1 |
- *1: ฮิโอกิ วางแผนที่จะอัปเดต FA1220/FA1221 เพื่อให้มีฟังก์ชันสำหรับการกำหนดค่าบอร์ด I/O E4220
- *2: จำหน่ายแยกต่างหาก
Testing data creation (2)
1220 ซอฟต์แวร์จัดองค์ประกอบข้อมูล 1137-05
สำหรับแก้ไขข้อมูลบนคอมพิวเตอร์