TESTER IN-CIRCUIT FA1220

O equipamento de inspeção de substrato e PCB da Hioki aproveita nossa competência central em testes de componentes de alta precisão. O FA1220 é um componente de medição PCB incorporável que oferece amplos recursos de teste de função para complementar o equipamento de teste automático existente.

Características principais

A funcionalidade foi consolidada em uma única torre de desktop que pode ser facilmente incorporada em equipamentos existentes
Testes de função extensivos
Capacitor eletrolítico e detecção de inserção reversa IC
Função de teste de macro para aumentar a eficiência do teste
Medição de baixa resistência de quatro terminais para medição estável de baixa resistência

Nº do modelo (Código do pedido)

FA1220	Apenas unidade principal

•Os dados do legado 1101 e 1102 não podem ser convertidos para uso pelo 1220 (FA1220) porque Hioki não pode fornecer computadores que possam executar o software de suporte 1137.
• Compatibilidade de dados entre o FA1220/FA1221 e produtos legados (1220-00/-01/-02/-11/-50/-51/-52/-55): Embora os dados criados para produtos legados possam ser usados, tais dados não é totalmente compatível com o FA1220/FA1221. Pode ser necessário realizar aquisição de capacitância parasita, aquisição de resistência de fiação, aquisição de dados S/O, aquisição de dados IC e depuração de teste de componente. Em particular, pode ser necessário readquirir capacitância parasita em aplicações que envolvem a medição de valores de capacitância minúsculos.

Visão geral das especificações do FA1220

Número de pontos de teste	Máx. 1024 pinos (pode ser adicionado em blocos de 128 pinos.) Padrão: 0 pinos (placas de scanner são vendidas como opcionais.)
Número de etapas de teste	Dados curtos/abertos round-robin: 1024 pinos Dados do componente: máx. 10.000 passos Dados de macro: 1024 pinos/1024 passos (independentemente do número de pinos) Dados IC: 500 passos (máx. 1024 pinos/passo) Dados de carga: 40 conjuntos Dados de contato do pino: 1024 pinos Dados do grupo: 255 grupos
Parâmetros de teste e faixas de medição	Round-robin curto/aberto:	4 Ω a 400 kΩ (Padrão: 40 Ω)
	Teste de macro (impedância):	1 Ω a 10 MΩ
	Testes de componentes:	Possível
	Detecção de inserção reversa IC:	Possível
Unidade de medida	Voltímetro DC:	800 μV fs a 25 V fs, 8 faixas
	amperímetro CC:	100 nA fs a 250 mA fs, 9 faixas
	amperímetro CA:	10 μArms fs a 10 mA rms fs, 4 faixas
	Teste macro:	Amperímetro 10 μ / 100 μ / 1 m / 10 m Braços, 4 faixas
Unidade do scanner (*2)	Softwares usados:	Interruptor analógico (placa do scanner E4201, E4202)
	Número de canais:	128 canais/placa (comutável de 2/4 terminais)
	Proteção de entrada:	±15 V / ±0,5 V (configurável em lote, placa de scanner E4201 / E4202 apenas)
E/S Externa (*2)	Usando a placa de E/S E4220 (*1): 60 entradas, 56 saídas
Unidade de controle	Computador externo (vendido separadamente) FA1220: Sistema operacional em tempo real, LAN para conectividade com PC (porta 10 / 100 ×1)
Fonte de energia	100 a 240 V AC (±10%), monofásico, 50 Hz / 60 Hz, máx. 260 W (com 1024 pinos completos de placas de scanner)
Dimensões e massa	200 mm (7,87 pol) L × 323 mm (12,72 pol) A × 298 mm (11,73 pol) D, 10 kg (352,7 oz)
Acessórios	Manual de instruções ×1, pontas de prova ×1, cabo de alimentação ×1, acessórios de metal ×1, CD de instalação ×1

*1: Hioki planeja atualizar o FA1220/FA1221 para fornecer funcionalidade para configurar a placa de E/S E4220.
*2: Vendido separadamente.