PROBADOR EN CIRCUITO FA1220

Intégrelo en equipos existentes para realizar pruebas funcionales de componentes de placas de circuitos electrónicos individuales o mientras está montado en PCB

El equipo de inspección de PCB y sustratos de Hioki aprovecha nuestra competencia central en pruebas de componentes de alta precisión. El FA1220 es un componente de medición de PCB integrable que brinda amplias capacidades de prueba de funciones para complementar el equipo de prueba automática existente.

Características principales

  • La funcionalidad se ha consolidado en una sola torre de escritorio que se puede integrar fácilmente en el equipo existente
  • Amplias pruebas de función
  • Condensador electrolítico y detección de inserción inversa IC
  • Función de macroprueba para aumentar la eficiencia de la prueba
  • Medición de baja resistencia de cuatro terminales para una medición estable de baja resistencia

Nº de modelo (código de pedido)

FA1220 Solo unidad principal
•Los datos del 1101 y 1102 heredados no se pueden convertir para que los use el 1220 (FA1220) porque Hioki no puede proporcionar computadoras que puedan ejecutar el software de soporte 1137.
•Compatibilidad de datos entre FA1220/FA1221 y productos heredados (1220-00/-01/-02/-11/-50/-51/-52/-55): aunque se pueden usar datos creados para productos heredados, dichos datos no es totalmente compatible con FA1220/FA1221. Puede ser necesario realizar adquisición de capacitancia parásita, adquisición de resistencia de cableado, adquisición de datos S/O, adquisición de datos IC y depuración de pruebas de componentes. En particular, puede ser necesario volver a adquirir capacitancia parásita en aplicaciones que involucran la medición de valores de capacitancia minúsculos.

Descripción general de las especificaciones FA1220

Número de puntos de prueba máx. 1024 pines (Se pueden agregar en bloques de 128 pines).
Estándar: 0 pines (las placas del escáner se venden como opciones).
Número de pasos de prueba Round-robin short/open data: 1024 pines
Datos del componente : Máx. 10000 pasos
Datos macro: 1024 pines/1024 pasos (independientemente del número de pines)
Datos IC: 500 pasos (máx. 1024 pines/paso)
Datos de carga: 40 juegos
Datos de contacto del pin: 1024 pines
Datos del grupo: 255 grupos
Parámetros de prueba y rangos de medición Round-robin corto/abierto: 4 Ω a 400 kΩ (Predeterminado: 40 Ω)
  Prueba de macros (impedancia): 1 Ω a 10 MΩ
  Pruebas de componentes: Posible
  Detección de inserción inversa IC: Posible
Unidad de medida voltímetro de CC: 800 μV fs a 25 V fs, 8 rangos
  amperímetro de CC: 100 nA fs a 250 mA fs, 9 rangos
  amperímetro de CA: 10 μArms fs a 10 mA rms fs, 4 rangos
  Prueba de macros: Amperímetro 10 μ / 100 μ / 1 m / 10 m Brazos, 4 rangos
Unidad de escáner (*2) Software utilizado: Interruptor analógico (placa de escáner E4201, E4202)
  Número de canales : 128 canales/placa (conmutable de 2/4 terminales)
  Protección de entrada: ±15 V / ±0,5 V (configurable por lotes, placa de escáner E4201 / E4202 únicamente)
E/S externa (*2) Uso de la placa de E/S E4220 (*1): 60 entradas, 56 salidas
Unidad de control Computadora externa (se vende por separado)
FA1220: Sistema operativo en tiempo real, conectividad LAN para PC (puerto 10/100 ×1)
Alimentación 100 a 240 V CA (±10 %), monofásico, 50 Hz/60 Hz, máx. 260 W (con 1024 pines completos de placas de escáner)
Dimensiones y masa 200 mm (7,87 pulgadas) de ancho × 323 mm (12,72 pulgadas) de alto × 298 mm (11,73 pulgadas) de profundidad, 10 kg (352,7 onzas)
Accesorios Manual de instrucciones ×1, cables de prueba ×1, cable de alimentación ×1, accesorios metálicos ×1, CD de instalación ×1
  • *1: Hioki planea actualizar el FA1220/FA1221 para proporcionar funcionalidad para configurar la placa de E/S E4220.
  • *2: Se vende por separado.

Testing data creation (2)