Hệ thống kiểm tra mô-đun RF
Bài báo này giới thiệu một hệ thống cho phép kiểm tra tốc độ cao các mô-đun RF, mà nhu cầu ngày càng tăng do việc áp dụng các hệ thống thông tin di động thế hệ thứ năm (5G), đồng thời đáp ứng các thay đổi thiết lập nhanh chóng trên dây chuyền sản xuất và tạo phần mềm.
Nhu cầu ngày càng tăng về điện thoại thông minh và các ứng dụng trên xe
Nhu cầu về các mô-đun RF được sử dụng trong các thiết bị di động như điện thoại thông minh đang tăng lên do việc áp dụng các hệ thống liên lạc di động thế hệ thứ năm (5G). Khối lượng sản xuất của các thành phần này dự kiến sẽ tiếp tục tăng trong tương lai cho các mục đích sử dụng khác, bao gồm các ứng dụng phương tiện như xe tự lái, máy bay không người lái và các ứng dụng công nghiệp như rô-bốt.
Bài báo này giới thiệu một hệ thống có thể đẩy nhanh quá trình kiểm tra giữa các quy trình sản xuất của mô-đun RF đồng thời tạo điều kiện cho các thay đổi thiết lập nhanh chóng trên dây chuyền sản xuất và tạo phần mềm kiểm tra để thích ứng với các thay đổi trong các mô hình đang được sản xuất.
Các chương trình phát triển của nhà sản xuất thiết bị RF đang làm việc để chuyển từ các thiết bị độc lập sang các mô-đun nhằm mang lại hiệu suất cao hơn và chi phí thấp hơn. Hầu hết các mô-đun này bao gồm bảng mạch điện tử.
Mô-đun RF thường được sử dụng trong các thiết bị quan trọng, nơi không thể chấp nhận được trục trặc, và nơi bắt buộc phải có chất lượng cao và độ tin cậy cao. Do đó, nó sẽ là chìa khóa để cung cấp các cải tiến chất lượng tại các cơ sở sản xuất cũng như giảm thời gian kiểm tra khi khối lượng sản xuất tăng lên.
Các vấn đề trong kiểm tra trung gian mô-đun RF
Thử nghiệm giữa các quá trình sản xuất còn được gọi là thử nghiệm trung gian. Các thử nghiệm trung gian của mô-đun RF bao gồm các thử nghiệm được mô tả trong bảng bên phải.
Trước đây, các hệ thống thử nghiệm bao gồm một vật cố định "đóng đinh" với một đầu dò cho mỗi điểm thử nghiệm, một mạch chuyển tiếp để chuyển mạch, các dụng cụ đo lường (như đồng hồ đo điện trở, đồng hồ vạn năng và đồng hồ đo LCR), một DC nguồn điện, một máy tính hoặc PLC để điều khiển các thành phần này và một chương trình để thực hiện các trình tự kiểm tra. Cách tiếp cận này gặp phải các vấn đề sau:
- Không có khả năng rút ngắn thời gian chu kỳ thử nghiệm do khó chuyển mạch và đồng bộ hóa điều khiển thiết bị đo lường
- Khoảng thời gian đáng kể cần thiết để tạo chuỗi thử nghiệm cho các DUT mô hình khác nhau vì các chương trình thiếu tính linh hoạt
- Khoảng thời gian đáng kể cần thiết để xác định các vấn đề cơ bản do hỏng hóc thiết bị (khả năng bảo trì kém)
Trước đây, các hệ thống thử nghiệm bao gồm một vật cố định "đóng đinh" với một đầu dò cho mỗi điểm thử nghiệm, một mạch chuyển tiếp để chuyển mạch, các dụng cụ đo lường (như đồng hồ đo điện trở, đồng hồ vạn năng và đồng hồ đo LCR), một DC nguồn điện, một máy tính hoặc PLC để điều khiển các thành phần này và một chương trình để thực hiện các trình tự kiểm tra. Cách tiếp cận này gặp phải các vấn đề sau:
- Không có khả năng rút ngắn thời gian chu kỳ thử nghiệm do khó chuyển mạch và đồng bộ hóa điều khiển thiết bị đo lường
- Khoảng thời gian đáng kể cần thiết để tạo chuỗi thử nghiệm cho các DUT mô hình khác nhau vì các chương trình thiếu tính linh hoạt
- Khoảng thời gian đáng kể cần thiết để xác định các vấn đề cơ bản do hỏng hóc thiết bị (khả năng bảo trì kém)
Thực hiện kiểm tra tốc độ cao và khả năng bảo trì cao
In-Circuit Tester FA1220 là sự kết hợp của thiết bị chuyển mạch (máy quét), dụng cụ đo điện và nguồn điện một chiều bên trong một vỏ máy nhỏ gọn. Nó hoạt động theo trình tự thử nghiệm được tạo bằng phần mềm máy tính để bàn để giải quyết thành công các thách thức đặt ra bởi thử nghiệm trung gian các mô-đun RF.
- Kiểm tra tốc độ cao được thực hiện nhờ sự đồng bộ hóa tối ưu của máy quét, bảng mạch đo lường và nguồn điện tích hợp trong hệ thống.
- Tạo dữ liệu thử nghiệm trong khoảng thời gian ngắn bằng phần mềm của hệ thống.
- Chức năng tự kiểm tra có thể tự động xác định các vấn đề trong trường hợp thiết bị bị lỗi.
- Chức năng tự kiểm tra có thể ngăn chặn các phán đoán sai lầm và vận chuyển các sản phẩm bị lỗi.
- Tạo dữ liệu thử nghiệm trong khoảng thời gian ngắn bằng phần mềm của hệ thống.
- Chức năng tự kiểm tra có thể tự động xác định các vấn đề trong trường hợp thiết bị bị lỗi.
- Chức năng tự kiểm tra có thể ngăn chặn các phán đoán sai lầm và vận chuyển các sản phẩm bị lỗi.
Sự tăng trưởng về khối lượng sản xuất mô-đun RF có thể sẽ dẫn đến sự gia tăng số lượng các cơ sở sản xuất nhằm đạt được cả chất lượng cao hơn và thời gian kiểm tra ngắn hơn.
Máy kiểm tra trong mạch FA1220 có tiềm năng đáp ứng nhu cầu của các thiết bị như vậy.
Chức năng và khái niệm giúp bạn có thể nhúng FA1220 vào thiết bị khác
Mặc dù có kích thước nhỏ gọn, In-Circuit Tester FA1220 có khả năng được tùy chỉnh với các máy quét bổ sung để đo lên đến 1.024 chân.
Bo mạch I / O cho phép hệ thống được điều khiển từ nguồn bên ngoài. Ví dụ, một thiết bị bên ngoài có thể bắt đầu thử nghiệm hoặc nhận kết quả phán đoán.
Bằng cách này, chức năng và thông số kỹ thuật của FA1220 rất phù hợp để tích hợp vào hệ thống của chính người dùng.
Bo mạch I / O cho phép hệ thống được điều khiển từ nguồn bên ngoài. Ví dụ, một thiết bị bên ngoài có thể bắt đầu thử nghiệm hoặc nhận kết quả phán đoán.
Bằng cách này, chức năng và thông số kỹ thuật của FA1220 rất phù hợp để tích hợp vào hệ thống của chính người dùng.
