Sistema de prueba de módulos RF

Este documento presenta un sistema que permite realizar pruebas de alta velocidad de módulos de RF, cuya demanda está creciendo debido a la adopción de sistemas de comunicaciones móviles de quinta generación (5G), al tiempo que se adapta a cambios de configuración rápidos en la línea de producción y la creación de software.

Creciente demanda en teléfonos inteligentes y aplicaciones para vehículos

La demanda de módulos de RF que se utilizan en dispositivos móviles como teléfonos inteligentes está creciendo debido a la adopción de sistemas de comunicaciones móviles de quinta generación (5G). Se espera que los volúmenes de producción de estos componentes continúen creciendo en el futuro para otros usos, incluidas aplicaciones de vehículos como vehículos autónomos, drones y aplicaciones industriales como robots.
Los programas de desarrollo de los fabricantes de dispositivos de RF están trabajando para pasar de dispositivos independientes a módulos con el fin de ofrecer un mayor rendimiento y menores costos. La mayoría de estos módulos consisten en placas de circuitos electrónicos.

Los módulos de RF se utilizan a menudo en dispositivos importantes donde los fallos de funcionamiento son inaceptables y donde la alta calidad y la alta fiabilidad son imprescindibles. En consecuencia, será clave ofrecer mejoras de calidad en las instalaciones de fabricación, así como reducir los tiempos de prueba a medida que crecen los volúmenes de producción.

Este documento presenta un sistema que puede acelerar las pruebas entre los procesos de producción de módulos de RF al tiempo que facilita los cambios de configuración rápidos en la línea de producción y la creación de software de prueba para adaptarse a los cambios en los modelos que se producen.

Problemas en las pruebas intermedias del módulo RF

Las pruebas entre procesos de producción también se conocen como pruebas intermedias. Las pruebas intermedias de los módulos RF consisten en las pruebas descritas en la tabla de la derecha.


En el pasado, los sistemas de prueba consistían en un accesorio de "cama de clavos" con una sonda para cada punto de prueba, un circuito de relé para cambiar circuitos, instrumentos de medición (como un medidor de resistencia, multímetro y medidor LCR), un DC fuente de alimentación, una computadora o PLC para controlar estos componentes y un programa para ejecutar secuencias de prueba. Este enfoque adolece de los siguientes problemas:


- Incapacidad para acortar el tiempo del ciclo de prueba debido a la dificultad de cambiar circuitos y sincronizar el control del instrumento de medición
- Se requiere una cantidad significativa de tiempo para crear secuencias de prueba para diferentes modelos de DUT porque los programas carecen de versatilidad
- Se requiere una cantidad significativa de tiempo para identificar los problemas subyacentes a las fallas del equipo (mantenimiento deficiente)

Realización de pruebas de alta velocidad y alta capacidad de mantenimiento

El probador en circuito FA1220 es una combinación de un dispositivo de conmutación de circuitos (escáner), instrumentos de medición eléctrica y una fuente de alimentación de CC dentro de una carcasa compacta. Funciona de acuerdo con las secuencias de prueba creadas con un software de escritorio para abordar con éxito los desafíos que plantean las pruebas intermedias de los módulos de RF.

- Las pruebas de alta velocidad son posibles gracias a la sincronización optimizada del escáner integrado del sistema, las placas de circuito de medición y la fuente de alimentación.
- Crear datos de prueba en un corto período de tiempo utilizando el software del sistema.
- La funcionalidad de autocomprobación puede identificar automáticamente problemas en caso de falla del equipo.
- La funcionalidad de autocomprobación puede evitar juicios erróneos y el envío de productos defectuosos.

El crecimiento en el volumen de producción de módulos de RF probablemente conducirá a un aumento en el número de instalaciones de fabricación con el objetivo de lograr una mayor calidad y tiempos de prueba más cortos.
El probador en circuito FA1220 tiene el potencial para abordar las necesidades de dichas instalaciones.

Funcionalidad y concepto que hacen posible integrar el FA1220 en otros equipos

A pesar de su tamaño compacto, el In-Circuit Tester FA1220 tiene la capacidad de personalizarse con escáneres adicionales para medir hasta 1024 pines.
Una placa de E/S permite controlar el sistema desde una fuente externa. Por ejemplo, un dispositivo externo puede iniciar la prueba o recibir los resultados del juicio.
De esta forma, la funcionalidad y las especificaciones del FA1220 se adaptan bien a la integración en los propios sistemas del usuario.

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