Sistem Pengujian Modul RF
Makalah ini memperkenalkan sistem yang memungkinkan pengujian modul RF berkecepatan tinggi, yang permintaannya terus meningkat karena adopsi sistem komunikasi seluler generasi kelima (5G), sambil mengakomodasi perubahan penyiapan yang cepat pada jalur produksi dan pembuatan software.
Tumbuhnya Permintaan di Smartphone dan Aplikasi Penggunaan Kendaraan
Permintaan akan modul RF yang digunakan di perangkat seluler seperti smartphone semakin meningkat karena adopsi sistem komunikasi seluler generasi kelima (5G). Volume produksi komponen ini diperkirakan akan terus tumbuh di masa depan untuk penggunaan lain termasuk aplikasi kendaraan seperti kendaraan self-driving, drone, dan aplikasi industri seperti robot.
Makalah ini memperkenalkan sistem yang dapat mempercepat pengujian antara proses produksi modul RF sambil memfasilitasi perubahan pengaturan yang cepat pada jalur produksi dan menguji pembuatan software untuk mengakomodasi perubahan model yang sedang diproduksi.
Program pengembangan produsen perangkat RF bekerja untuk beralih dari perangkat mandiri ke modul untuk memberikan kinerja yang lebih tinggi dan biaya yang lebih rendah. Sebagian besar modul ini terdiri dari papan sirkuit elektronik.
Modul RF sering digunakan pada perangkat penting di mana malfungsi tidak dapat diterima, dan di mana kualitas tinggi dan keandalan tinggi adalah suatu keharusan. Akibatnya, ini akan menjadi kunci untuk memberikan peningkatan kualitas di fasilitas manufaktur serta mengurangi waktu takt pengujian seiring dengan pertumbuhan volume produksi.
Masalah dalam Pengujian Menengah Modul RF
Pengujian antara proses produksi juga dikenal sebagai pengujian antara. Pengujian antara modul RF terdiri dari pengujian yang dijelaskan dalam tabel di sebelah kanan.
Di masa lalu, sistem pengujian terdiri dari perlengkapan “bed-of-nails” dengan probe untuk setiap titik pengujian, rangkaian relai untuk rangkaian switching, instrumen pengukuran (seperti meter resistansi, multimeter, dan meter LCR), DC catu daya, komputer atau PLC untuk mengontrol komponen ini, dan program untuk menjalankan urutan pengujian. Pendekatan ini menderita masalah berikut:
- Ketidakmampuan untuk mempersingkat waktu siklus pengujian karena sulitnya mengganti sirkuit dan menyinkronkan kontrol instrumen pengukuran
- Jumlah waktu yang signifikan yang diperlukan untuk membuat urutan pengujian untuk model DUT yang berbeda karena program tidak memiliki keserbagunaan
- Jumlah waktu yang signifikan yang diperlukan untuk mengidentifikasi masalah yang mendasari kegagalan peralatan (kemampuan perawatan yang buruk)
Di masa lalu, sistem pengujian terdiri dari perlengkapan “bed-of-nails” dengan probe untuk setiap titik pengujian, rangkaian relai untuk rangkaian switching, instrumen pengukuran (seperti meter resistansi, multimeter, dan meter LCR), DC catu daya, komputer atau PLC untuk mengontrol komponen ini, dan program untuk menjalankan urutan pengujian. Pendekatan ini menderita masalah berikut:
- Ketidakmampuan untuk mempersingkat waktu siklus pengujian karena sulitnya mengganti sirkuit dan menyinkronkan kontrol instrumen pengukuran
- Jumlah waktu yang signifikan yang diperlukan untuk membuat urutan pengujian untuk model DUT yang berbeda karena program tidak memiliki keserbagunaan
- Jumlah waktu yang signifikan yang diperlukan untuk mengidentifikasi masalah yang mendasari kegagalan peralatan (kemampuan perawatan yang buruk)
Menyadari Pengujian Kecepatan Tinggi dan Pemeliharaan Tinggi
In-Circuit Tester FA1220 adalah kombinasi perangkat pengalih sirkuit (pemindai), instrumen pengukuran listrik, dan catu daya DC di dalam penutup yang ringkas. Ini beroperasi sesuai dengan urutan pengujian yang dibuat menggunakan software desktop agar berhasil mengatasi tantangan yang ditimbulkan oleh pengujian perantara modul RF.
- Pengujian kecepatan tinggi dimungkinkan dengan sinkronisasi yang dioptimalkan dari pemindai bawaan sistem, papan sirkuit pengukuran, dan catu daya.
- Buat data uji dalam waktu singkat menggunakan software sistem .
- Fungsi swa-uji dapat secara otomatis mengidentifikasi masalah jika terjadi kegagalan peralatan.
- Fungsi uji mandiri dapat mencegah penilaian yang salah dan pengiriman produk yang cacat.
- Buat data uji dalam waktu singkat menggunakan software sistem .
- Fungsi swa-uji dapat secara otomatis mengidentifikasi masalah jika terjadi kegagalan peralatan.
- Fungsi uji mandiri dapat mencegah penilaian yang salah dan pengiriman produk yang cacat.
Pertumbuhan volume produksi modul RF kemungkinan akan mengarah pada peningkatan jumlah fasilitas manufaktur yang bertujuan untuk mencapai kualitas yang lebih tinggi dan waktu takt pengujian yang lebih pendek.
In-Circuit Tester FA1220 memiliki potensi untuk memenuhi kebutuhan fasilitas tersebut.
Fungsionalitas dan Konsep yang Memungkinkan Penyematan FA1220 ke Peralatan Lain
Meskipun ukurannya ringkas, In-Circuit Tester FA1220 memiliki kemampuan untuk disesuaikan dengan pemindai tambahan untuk pengukuran hingga 1.024 pin.
Papan I/O memungkinkan sistem dikendalikan dari sumber eksternal. Misalnya, perangkat eksternal dapat memulai pengujian atau menerima hasil penilaian.
Dengan cara ini, fungsionalitas dan spesifikasi FA1220 sangat cocok untuk diintegrasikan ke dalam sistem pengguna sendiri.
Papan I/O memungkinkan sistem dikendalikan dari sumber eksternal. Misalnya, perangkat eksternal dapat memulai pengujian atau menerima hasil penilaian.
Dengan cara ini, fungsionalitas dan spesifikasi FA1220 sangat cocok untuk diintegrasikan ke dalam sistem pengguna sendiri.
