Sistema de teste do módulo de RF
Este artigo apresenta um sistema que permite testes em alta velocidade de módulos de RF, cuja demanda está crescendo devido à adoção de sistemas de comunicação móvel de quinta geração (5G), ao mesmo tempo em que acomoda mudanças rápidas de configuração na linha de produção e criação de software.
Demanda crescente em smartphones e aplicativos para veículos
A demanda por módulos de RF usados em dispositivos móveis, como smartphones, está crescendo devido à adoção de sistemas de comunicação móvel de quinta geração (5G). Espera-se que os volumes de produção desses componentes continuem a crescer no futuro para outros usos, incluindo aplicações em veículos, como veículos autônomos, drones e aplicações industriais, como robôs.
Este artigo apresenta um sistema que pode acelerar os testes entre os processos de produção de módulos de RF, ao mesmo tempo em que facilita mudanças rápidas de configuração na linha de produção e a criação de software de teste para acomodar as mudanças nos modelos que estão sendo produzidos.
Os programas de desenvolvimento dos fabricantes de dispositivos de RF estão trabalhando para mudar de dispositivos independentes para módulos, a fim de oferecer maior desempenho e custos mais baixos. A maioria desses módulos consiste em placas de circuito eletrônico.
Os módulos de RF são frequentemente usados em dispositivos importantes onde o mau funcionamento é inaceitável e onde a alta qualidade e a alta confiabilidade são imprescindíveis. Consequentemente, será fundamental fornecer melhorias de qualidade nas instalações de fabricação, bem como tempos de teste reduzidos à medida que os volumes de produção crescem.
Problemas no teste intermediário do módulo de RF
Testes entre processos de produção também são conhecidos como testes intermediários. Os testes intermediários dos módulos de RF consistem nos testes descritos na tabela à direita.
No passado, os sistemas de teste consistiam em um dispositivo “bed-of-nails” com uma sonda para cada ponto de teste, um circuito de relé para circuitos de comutação, instrumentos de medição (como um medidor de resistência, multímetro e medidor LCR), um DC fonte de alimentação, um computador ou PLC para controlar esses componentes e um programa para executar sequências de teste. Essa abordagem sofre dos seguintes problemas:
- Incapacidade de encurtar o tempo do ciclo de teste devido à dificuldade de comutação de circuitos e sincronização do controle do instrumento de medição
- Quantidade significativa de tempo necessária para criar sequências de teste para diferentes modelos de DUTs porque os programas não têm versatilidade
- Quantidade significativa de tempo necessária para identificar problemas subjacentes a falhas de equipamentos (manutenção ruim)
No passado, os sistemas de teste consistiam em um dispositivo “bed-of-nails” com uma sonda para cada ponto de teste, um circuito de relé para circuitos de comutação, instrumentos de medição (como um medidor de resistência, multímetro e medidor LCR), um DC fonte de alimentação, um computador ou PLC para controlar esses componentes e um programa para executar sequências de teste. Essa abordagem sofre dos seguintes problemas:
- Incapacidade de encurtar o tempo do ciclo de teste devido à dificuldade de comutação de circuitos e sincronização do controle do instrumento de medição
- Quantidade significativa de tempo necessária para criar sequências de teste para diferentes modelos de DUTs porque os programas não têm versatilidade
- Quantidade significativa de tempo necessária para identificar problemas subjacentes a falhas de equipamentos (manutenção ruim)
Realizando testes de alta velocidade e alta manutenibilidade
O In-Circuit Tester FA1220 é uma combinação de um dispositivo de comutação de circuito (scanner), instrumentos elétricos de medição e uma fonte de alimentação CC dentro de um gabinete compacto. Ele opera de acordo com sequências de teste criadas usando um software de desktop para enfrentar com sucesso os desafios apresentados pelos testes intermediários de módulos de RF.
- O teste de alta velocidade é possibilitado pela sincronização otimizada do scanner integrado do sistema, placas de circuito de medição e fonte de alimentação.
- Crie dados de teste em um curto período de tempo usando o software do sistema.
- A funcionalidade de autoteste pode identificar problemas automaticamente em caso de falha do equipamento.
- A funcionalidade de autoteste pode evitar julgamentos errôneos e o envio de produtos defeituosos.
- Crie dados de teste em um curto período de tempo usando o software do sistema.
- A funcionalidade de autoteste pode identificar problemas automaticamente em caso de falha do equipamento.
- A funcionalidade de autoteste pode evitar julgamentos errôneos e o envio de produtos defeituosos.
O crescimento no volume de produção do módulo de RF provavelmente levará a um aumento no número de instalações de fabricação com o objetivo de alcançar maior qualidade e tempos de teste mais curtos.
O In-Circuit Tester FA1220 tem potencial para atender às necessidades de tais instalações.
Funcionalidade e conceito que possibilitam a incorporação do FA1220 em outros equipamentos
Apesar de seu tamanho compacto, o In-Circuit Tester FA1220 tem a capacidade de ser personalizado com scanners adicionais para medição de até 1.024 pinos.
Uma placa de E/S permite que o sistema seja controlado a partir de uma fonte externa. Por exemplo, um dispositivo externo pode iniciar o teste ou receber os resultados do julgamento.
Desta forma, a funcionalidade e as especificações do FA1220 adequam-se à integração nos próprios sistemas do usuário.
Uma placa de E/S permite que o sistema seja controlado a partir de uma fonte externa. Por exemplo, um dispositivo externo pode iniciar o teste ou receber os resultados do julgamento.
Desta forma, a funcionalidade e as especificações do FA1220 adequam-se à integração nos próprios sistemas do usuário.
