ระบบทดสอบโมดูล RF

ความต้องการโมดูล RF ที่ใช้ในอุปกรณ์เคลื่อนที่ เช่น สมาร์ทโฟน มีการเติบโตเนื่องจากการนำระบบการสื่อสารเคลื่อนที่รุ่นที่ 5 (5G) มาใช้ ปริมาณการผลิตของส่วนประกอบเหล่านี้คาดว่าจะเพิ่มขึ้นอย่างต่อเนื่องในอนาคตสำหรับการใช้งานอื่นๆ รวมถึงการใช้งานยานพาหนะ เช่น ยานยนต์ที่ขับเคลื่อนด้วยตนเอง โดรน และการใช้งานในอุตสาหกรรม เช่น หุ่นยนต์
บทความนี้จะแนะนำระบบที่สามารถเร่งการทดสอบระหว่างกระบวนการผลิตของโมดูล RF ในขณะที่อำนวยความสะดวกในการเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าอย่างรวดเร็วในสายการผลิตและการสร้างซอฟต์แวร์ทดสอบเพื่อรองรับการเปลี่ยนแปลงในแบบจำลองที่ผลิตขึ้น

การทดสอบระหว่างกระบวนการผลิตเรียกอีกอย่างว่าการทดสอบระดับกลาง การทดสอบระดับกลางของโมดูล RF ประกอบด้วยการทดสอบที่อธิบายไว้ในตารางทางด้านขวา


ในอดีต ระบบการทดสอบประกอบด้วยฟิกซ์เจอร์แบบ “bed-of-nails” พร้อมโพรบสำหรับแต่ละจุดทดสอบ วงจรรีเลย์สำหรับวงจรสวิตชิ่ง เครื่องมือวัด (เช่น เครื่องวัดความต้านทาน มัลติมิเตอร์ และเครื่องวัด LCR) แบบ DC แหล่งจ่ายไฟ คอมพิวเตอร์หรือ PLC เพื่อควบคุมส่วนประกอบเหล่านี้ และโปรแกรมสำหรับดำเนินการทดสอบตามลำดับ วิธีการนี้ประสบปัญหาต่อไปนี้:


- ไม่สามารถย่นเวลารอบการทดสอบได้เนื่องจากความยากลำบากในการสลับวงจรและการควบคุมเครื่องมือวัดที่ซิงโครไนซ์
- ระยะเวลาที่มีนัยสำคัญในการสร้างลำดับการทดสอบสำหรับ DUT รุ่นต่างๆ เนื่องจากโปรแกรมขาดความคล่องตัว
- ระยะเวลาที่มีนัยสำคัญในการระบุปัญหาพื้นฐานของความล้มเหลวของอุปกรณ์ (การบำรุงรักษาไม่ดี)

การเติบโตของปริมาณการผลิตโมดูล RF มีแนวโน้มที่จะนำไปสู่การเพิ่มขึ้นของจำนวนโรงงานผลิตโดยมีเป้าหมายเพื่อให้ได้ทั้งคุณภาพที่สูงขึ้นและเวลาในการทดสอบที่สั้นลง
In-Circuit Tester FA1220 มีศักยภาพที่จะตอบสนองความต้องการของสิ่งอำนวยความสะดวกดังกล่าว

แม้จะมีขนาดกะทัดรัด แต่ In-Circuit Tester FA1220 มีความสามารถในการปรับแต่งด้วยเครื่องสแกนเพิ่มเติมสำหรับการวัดสูงสุดถึง 1,024 พิน
บอร์ด I/O ช่วยให้สามารถควบคุมระบบจากแหล่งภายนอกได้ ตัวอย่างเช่น อุปกรณ์ภายนอกสามารถเริ่มการทดสอบหรือรับผลการตัดสินได้
ด้วยวิธีนี้ ฟังก์ชันและข้อมูลจำเพาะของ FA1220 เหมาะสมอย่างยิ่งที่จะรวมเข้ากับระบบของผู้ใช้เอง