Thử nghiệm hằng số điện môi và đặc tính nhiệt độ tiếp tuyến tổn thất điện môi trong vật liệu cách điện

Nhu cầu ngày càng tăng về khả năng kiểm tra hằng số điện môi và tiếp tuyến tổn thất điện môi của vật liệu cách điện được sử dụng trong EV và các ứng dụng điện tử công suất trong môi trường nhiệt độ cao. Các điện cực đo lường từ KEYCOM có thể được kết hợp với máy Thiết Bị Đo LCR của Hioki để đáp ứng nhu cầu này.

Tiếp tuyến tổn thất điện môi δ đóng vai trò là một chỉ số định lượng về trạng thái của vật liệu cách điện. Khi một điện áp xoay chiều được đặt vào chất cách điện, xảy ra tổn thất điện môi (hoặc tổn thất tiêu tán), khiến một phần năng lượng điện bị mất dưới dạng năng lượng nhiệt. Tiếp tuyến tổn thất điện môi, biểu thị mức độ tổn thất này, phụ thuộc vào tần số AC, nhiệt độ và độ ẩm được áp dụng.

Điện áp chuyển đổi được áp dụng cho vật liệu cách điện được sử dụng trong bộ biến tần, bộ chuyển đổi và động cơ. Do đó, điều cần thiết là kiểm tra tan δ ở tần số chuyển mạch thích hợp. Ngoài ra, việc thử nghiệm các đặc tính nhiệt độ tan δ của vật liệu cách điện là rất quan trọng vì động cơ EV và mô-đun nguồn có thể được sử dụng trong các môi trường có nhiệt độ từ thấp đến nhiệt độ trên 200°C.

Các điện cực mẫu bao gồm điện cực sơ cấp và điện cực đối được sử dụng để đo tan δ khi đo các phần tử có trở kháng cao như vật liệu cách điện. Các điện cực này kết hợp một điện cực thẻ được thiết kế để giảm tác động của điện dung tạp tán và nhiễu cảm ứng bằng cơ chế che chắn.

Vì phép đo tiếp tuyến tổn thất điện môi và điện trở cách điện của vật liệu cách điện tiêu chuẩn, ví dụ như theo tiêu chuẩn JIS C 2138 hoặc IEC 60250, sử dụng nhiệt độ môi trường thử nghiệm là 20°C hoặc 23°C, nên có thể sử dụng máy đo LCR và điện cực mẫu để tiến hành các bài kiểm tra tuân thủ tiêu chuẩn. Tuy nhiên, các điện cực mẫu có thể không chịu được nhiệt độ thử nghiệm theo các giao thức như ASTM D150, thử nghiệm sự phụ thuộc vào nhiệt độ.

Các điện cực điện dung để đo hằng số điện môi và tiếp tuyến tổn thất điện môi từ KEYCOM (https://www.keycom.co.jp/ndex-j.html) giúp phép đo tan δ có thể thực hiện được trên nhiều dải nhiệt độ. Các cách kết hợp khác nhau giữa mẫu đo và điện cực có thể chứa các tấm, chất lỏng, gel và màng (tấm) (xem Hình 3). Có thể sử dụng buồng nhiệt độ không đổi hoặc máy thử sốc nhiệt để kiểm tra hằng số điện môi và các đặc tính nhiệt độ tiếp tuyến tổn thất điện môi (xem Hình 4).

Ngoài ra, KEYCOM còn cung cấp các hệ thống đo lường tự động.

Các tiêu chuẩn được hỗ trợ bao gồm ASTM D-150, JIS C2101, JIS C2141, JIS C 6481, JIS K6911 và JIS C 2111 28.1.2 (phương pháp B). Các tiêu chuẩn khác cũng có thể được hỗ trợ; vui lòng liên hệ với công ty với nhu cầu cụ thể của bạn.

Các điện cực điện dung để đo hằng số điện môi và tiếp tuyến tổn thất điện môi giúp phép đo tan δ có thể thực hiện được trên một dải nhiệt độ rộng. Để biết chi tiết, xin vui lòng liên hệ với KEYCOM Corporation.