การทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กตริกและลักษณะอุณหภูมิแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กตริกในวัสดุฉนวนไฟฟ้า

ความต้องการความสามารถในการทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กตริกและการสูญเสียแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กตริกของวัสดุฉนวนไฟฟ้าที่ใช้ในการใช้งาน EV และอิเล็กทรอนิกส์กำลังในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิสูงเพิ่มขึ้น อิเล็กโทรดการวัดจาก KEYCOM สามารถใช้ร่วมกับมิเตอร์ LCR ของ Hioki เพื่อตอบสนองความต้องการนี้ได้

แทนเจนต์การสูญเสียอิเล็กทริก δ ทำหน้าที่เป็นตัวบ่งชี้เชิงปริมาณของสถานะของวัสดุฉนวนไฟฟ้า เมื่อแรงดันไฟฟ้ากระแสสลับถูกนำไปใช้กับฉนวน จะเกิดการสูญเสียไดอิเล็กตริก (หรือการสูญเสียการกระจาย) ทำให้พลังงานไฟฟ้าบางส่วนสูญเสียไปในรูปของพลังงานความร้อน แทนเจนต์การสูญเสียอิเล็กทริก ซึ่งระบุขอบเขตของการสูญเสียนี้ ขึ้นอยู่กับความถี่ AC อุณหภูมิและความชื้นที่ใช้

แรงดันไฟฟ้าแบบสวิตช์ใช้กับวัสดุฉนวนไฟฟ้าที่ใช้ในอินเวอร์เตอร์ คอนเวอร์เตอร์ และมอเตอร์ ดังนั้นจึงจำเป็นต้องทดสอบ tan δ ที่ความถี่สวิตชิ่งที่เหมาะสม นอกจากนี้ การทดสอบคุณลักษณะอุณหภูมิสีแทน δ ของวัสดุฉนวนไฟฟ้ามีความสำคัญ เนื่องจากมอเตอร์ EV และโมดูลพลังงานสามารถนำมาใช้ในสภาพแวดล้อมที่มีตั้งแต่อุณหภูมิต่ำไปจนถึงอุณหภูมิที่สูงกว่า 200°C

อิเล็กโทรดตัวอย่างที่ประกอบด้วยอิเล็กโทรดปฐมภูมิและอิเล็กโทรดต้านจะใช้ในการวัดสีแทน δ เมื่อทำการวัดองค์ประกอบที่มีความต้านทานสูง เช่น วัสดุฉนวนไฟฟ้า อิเล็กโทรดเหล่านี้รวมอิเล็กโทรดของการ์ดที่ออกแบบมาเพื่อลดผลกระทบของความจุที่หลงทางและสัญญาณรบกวนแบบเหนี่ยวนำด้วยกลไกการป้องกัน

เนื่องจากการวัดแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กตริกและความต้านทานฉนวนของวัสดุฉนวนไฟฟ้ามาตรฐาน เช่น ภายใต้มาตรฐาน JIS C 2138 หรือ IEC 60250 ให้ใช้อุณหภูมิสภาพแวดล้อมการทดสอบที่ 20°C หรือ 23°C จึงสามารถใช้มิเตอร์ LCR และอิเล็กโทรดตัวอย่างเพื่อ ดำเนินการทดสอบที่ได้มาตรฐาน อย่างไรก็ตาม อิเล็กโทรดตัวอย่างอาจไม่สามารถทนต่ออุณหภูมิทดสอบภายใต้โปรโตคอล เช่น ASTM D150 ซึ่งทดสอบการพึ่งพาอุณหภูมิ

อิเล็กโทรดแบบคาปาซิทีฟสำหรับวัดค่าคงที่ไดอิเล็กตริกและแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กทริกจาก KEYCOM (https://www.keycom.co.jp/ndex-j.html) ทำให้สามารถตรวจวัดค่าแทนค่าสีแทน δ ได้ในช่วงอุณหภูมิกว้าง ตัวอย่างการวัดและอิเล็กโทรดที่รวมกันต่างกันสามารถรองรับเพลต ของเหลว เจล และฟิล์ม (แผ่น) (ดูรูปที่ 3) สามารถใช้ห้องอุณหภูมิคงที่หรือเครื่องทดสอบการช็อกด้วยความร้อนเพื่อทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กตริกและลักษณะอุณหภูมิแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กตริก (ดูรูปที่ 4)

นอกจากนี้ KEYCOM ยังมีระบบการวัดอัตโนมัติ

มาตรฐานที่รองรับ ได้แก่ ASTM D-150, JIS C2101, JIS C2141, JIS C 6481, JIS K6911 และ JIS C 2111 28.1.2 (วิธี B) รองรับมาตรฐานอื่นๆ ได้เช่นกัน โปรดติดต่อบริษัทที่มีความต้องการเฉพาะของคุณ

อิเล็กโทรดแบบคาปาซิทีฟสำหรับการวัดค่าคงที่ไดอิเล็กตริกและแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กทริกทำให้สามารถวัดค่า tan δ ได้ในอุณหภูมิที่หลากหลาย สำหรับรายละเอียด โปรดติดต่อ KEYCOM Corporation