Teste de Constante Dielétrica e Características de Temperatura Tangente de Perda Dielétrica em Materiais Isolantes Elétricos

A demanda está crescendo para a capacidade de testar a constante dielétrica e a tangente da perda dielétrica de materiais isolantes elétricos usados em aplicações de EV e eletrônica de potência em ambientes de alta temperatura. Os eletrodos de medição da KEYCOM podem ser combinados com os medidores LCR da Hioki para atender a essa necessidade.

Alvo

• Materiais isolantes elétricos, incluindo placas planas (sólidos), líquidos, géis, folhas e filmes

• Cerâmica, placas laminadas, plásticos e resinas, papel isolante, etc.

• P&D e testes de produção

Destaques

A tangente de perda dielétrica δ serve como um indicador quantitativo do estado de um material isolante elétrico. Quando uma tensão CA é aplicada a um isolador, ocorre perda dielétrica (ou perda de dissipação), fazendo com que parte da energia elétrica seja perdida como energia térmica. A tangente de perda dielétrica, que indica a extensão dessa perda, depende da frequência CA aplicada, temperatura e umidade.

As tensões comutadas são aplicadas a materiais isolantes elétricos usados em inversores, conversores e motores. Consequentemente, é essencial testar tan δ na frequência de comutação apropriada. Além disso, o teste das características de temperatura tan δ de materiais isolantes elétricos é importante, uma vez que os motores EV e os módulos de potência podem ser usados em ambientes que variam de baixas temperaturas a temperaturas superiores a 200°C.

Problema

Eletrodos de amostra que consistem em um eletrodo primário e um contra-eletrodo são usados para medir tan δ ao medir elementos de alta impedância, como materiais isolantes elétricos. Esses eletrodos combinam um eletrodo de cartão projetado para reduzir os efeitos de capacitância parasita e ruído indutivo com um mecanismo de blindagem.

Como a medição da tangente da perda dielétrica e da resistência do isolamento de materiais isolantes elétricos padrão, por exemplo, sob o padrão JIS C 2138 ou IEC 60250, use uma temperatura ambiente de teste de 20°C ou 23°C, um medidor LCR e eletrodo de amostra podem ser usados para realizar testes em conformidade com o padrão. No entanto, os eletrodos de amostra podem não suportar temperaturas de teste sob protocolos como ASTM D150, que testa a dependência da temperatura.

Soluções

Eletrodos capacitivos para medição de constante dielétrica e tangente de perda dielétrica da KEYCOM (https://www.keycom.co.jp/ndex-j.html) possibilitam a medição de tan δ em uma ampla faixa de temperaturas. Diferentes combinações de amostras de medição e eletrodos podem acomodar placas, líquidos, géis e filmes (folhas) (ver Fig. 3). Uma câmara de temperatura constante ou um testador de choque térmico pode ser usado para testar a constante dielétrica e as características de temperatura tangente à perda dielétrica (ver Fig. 4).

Além disso, a KEYCOM fornece sistemas de medição automática.

Os padrões suportados incluem ASTM D-150, JIS C2101, JIS C2141, JIS C 6481, JIS K6911 e JIS C 2111 28.1.2 (método B). Outros padrões também podem ser suportados; entre em contato com a empresa com suas necessidades específicas.

Em formação

Eletrodos capacitivos para medição de constante dielétrica e tangente de perda dielétrica possibilitam a medição de tan δ em uma ampla faixa de temperaturas. Para obter detalhes, entre em contato com a KEYCOM Corporation.

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