Prueba de constante dieléctrica y características de temperatura de tangente de pérdida dieléctrica en materiales aislantes eléctricos
Crece la demanda de la capacidad de probar la constante dieléctrica y la tangente de pérdida dieléctrica de los materiales de aislamiento eléctrico utilizados en aplicaciones de electrónica de potencia y EV en entornos de alta temperatura. Los electrodos de medición de KEYCOM se pueden combinar con los medidores LCR de Hioki para satisfacer esta necesidad.
Objetivo
• Materiales de aislamiento eléctrico, incluidas placas planas (sólidos), líquidos, geles, láminas y películas
• Cerámica, tableros laminados, plásticos y resinas, papel aislante, etc.
• I+D y pruebas de producción
Reflejos
La tangente de pérdida dieléctrica δ sirve como indicador cuantitativo del estado de un material aislante eléctrico. Cuando se aplica un voltaje de CA a un aislador, se produce una pérdida dieléctrica (o pérdida por disipación), lo que hace que parte de la energía eléctrica se pierda como energía térmica. La tangente de pérdida dieléctrica, que indica el alcance de esta pérdida, depende de la frecuencia de CA aplicada, la temperatura y la humedad.
Los voltajes conmutados se aplican a materiales de aislamiento eléctrico utilizados en inversores, convertidores y motores. En consecuencia, es esencial probar tan δ a la frecuencia de conmutación adecuada. Además, es importante probar las características de temperatura tan δ de los materiales aislantes eléctricos, ya que se puede esperar que los motores y módulos de potencia EV se utilicen en entornos que van desde temperaturas bajas hasta temperaturas superiores a 200 °C.
Problema
Los electrodos de muestra que constan de un electrodo primario y un contraelectrodo se utilizan para medir tan δ cuando se miden elementos de alta impedancia, como materiales aislantes eléctricos. Estos electrodos combinan un electrodo de tarjeta diseñado para reducir los efectos de la capacitancia parásita y el ruido inductivo con un mecanismo de protección.
Dado que la medición de la tangente de pérdida dieléctrica y la resistencia de aislamiento de los materiales aislantes eléctricos estándar, por ejemplo, según el estándar JIS C 2138 o IEC 60250, utiliza una temperatura ambiente de prueba de 20 °C o 23 °C, se puede usar un medidor LCR y un electrodo de muestra para realizar pruebas que cumplan con los estándares. Sin embargo, es posible que los electrodos de muestra no puedan soportar las temperaturas de prueba según protocolos como ASTM D150, que prueba la dependencia de la temperatura.
Soluciones
Los electrodos capacitivos para medir la constante dieléctrica y la tangente de pérdida dieléctrica de KEYCOM (https://www.keycom.co.jp/ndex-j.html) hacen posible la medición de tan δ en un amplio rango de temperaturas. Diferentes combinaciones de muestras de medición y electrodos pueden acomodar placas, líquidos, geles y películas (láminas) (ver Fig. 3). Se puede usar una cámara de temperatura constante o un probador de choque térmico para probar las características de temperatura de la tangente de pérdida dieléctrica y la constante dieléctrica (consulte la Fig. 4).
Además, KEYCOM proporciona sistemas de medición automáticos.
Los estándares admitidos incluyen ASTM D-150, JIS C2101, JIS C2141, JIS C 6481, JIS K6911 y JIS C 2111 28.1.2 (método B). También se pueden admitir otros estándares; por favor, póngase en contacto con la empresa con sus necesidades específicas.
Información
Los electrodos capacitivos para medir la constante dieléctrica y la tangente de pérdida dieléctrica hacen posible la medición de tan δ en un amplio rango de temperaturas. Para obtener más información, póngase en contacto con KEYCOM Corporation.
