ซี HiTESTER 3504

เครื่องวัดประจุไฟฟ้าแบบดูอัลแบนด์ 120Hz/1kHz สำหรับการตรวจสอบความเร็วสูงของตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น (MLCC) บนเครื่องเทป

ภาพรวม
ข้อมูลจำเพาะ
ตัวเลือก
ดาวน์โหลด
แอปพลิเคชั่น

3504-50, 3504-60

เครื่องวัด ฮิโอกิ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์มีตั้งแต่อุปกรณ์ 1mHz ถึง 3GHz เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานที่หลากหลายในการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ ซีรีส์ 3504 เป็นเครื่องวัดค่าความจุแบบดูอัลแบนด์ที่เหมาะสำหรับการตรวจสอบ MLCC ที่มีความจุสูงโดยใช้แรงดันไฟฟ้าคงที่

ฟีเจอร์หลัก

การวัดความเร็วสูง 2ms
รองรับการวัดค่า C ที่มีลักษณะการพึ่งพาแรงดันไฟฟ้าโดยใช้การทดสอบแรงดันคงที่ (CV)
รุ่น 3504-60 สามารถตรวจจับความล้มเหลวของการสัมผัสบนเทอร์มินัลทั้ง 4 ตัวเพื่อเพิ่มความน่าเชื่อถือ
ฟังก์ชัน BIN บน 3504-60/-50 เหมาะสำหรับเครื่องคัดแยก
รุ่น 3504-40 ให้ความเร็วสูงและราคาจับต้องได้ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการรวมเข้ากับเครื่องพันเทป
ในทุกรุ่นจะมีการตรวจสอบข้อผิดพลาดของการสัมผัสอย่างต่อเนื่องในระหว่างการวัด ส่งผลให้ได้ผลผลิตเพิ่มขึ้น

หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)

3504-40	อินเทอร์เฟซ RS-232C ในตัว
3504-50	GP-IB ในตัว, RS-232C
3504-60	GP-IB ในตัว, RS-232C

ผลิตภัณฑ์นี้ไม่ได้มาพร้อมกับขาวัดหรืออุปกรณ์ทดสอบ โปรดเลือกและซื้อโพรบวัดหรือตัวเลือกฟิกซ์เจอร์ทดสอบที่เหมาะสมกับการใช้งานของคุณต่างหาก สำหรับการเชื่อมต่อ RS-232C: สามารถใช้สายครอสโอเวอร์สำหรับเชื่อมต่อโครงข่ายได้ คุณสามารถใช้ RS-232C CABLE 9637 โดยไม่ต้องใช้การควบคุมการไหลของฮาร์ดแวร์

ข้อกำหนดพื้นฐาน

รับประกันความแม่นยำ: 6 เดือน

พารามิเตอร์การวัด	C (ความจุ), D (สัมประสิทธิ์การสูญเสีย tan δ)
ช่วงการวัด	C: 0.9400 pF ถึง 20.0000 mF, D: 0.00001 ถึง 1.99999
ความแม่นยำพื้นฐาน	(ประเภท) C: ±0.09 % rdg ±10 dgt., D: ±0.0016
ความถี่ในการวัด	120 Hz, 1 kHz
ระดับสัญญาณการวัด	100 mV (3504-60 เท่านั้น), 500 mV, 1 V rms CV 100 mV ช่วงการวัด: สูงสุด 170 μF ช่วง (ความถี่ต้นทาง 1 kHz), สูงสุด 1.45 mF ช่วง (ความถี่ต้นทาง 120 Hz) ช่วงการวัด CV 500 mV : สูงสุด 170 μF ช่วง (ความถี่ต้นทาง 1 kHz) ช่วงสูงสุด 1.45 mF (ความถี่ต้นทาง 120 Hz) ช่วงการวัด CV 1V : สูงสุด 70 μF ช่วง (ความถี่ต้นทาง 1 kHz) ช่วงสูงสุด 700 μF (ความถี่ต้นทาง 120 Hz)
อิมพีแดนซ์เอาต์พุต	5Ω (ในโหมดแรงดันเทอร์มินัลเปิดนอกช่วงการวัด CV)
การแสดงผล	LED (ตัวเลขหกหลัก การนับเต็มสเกลขึ้นอยู่กับช่วงการวัด)
เวลาในการวัด	2 ms (ค่าประเภท ขึ้นอยู่กับการตั้งค่าการกำหนดค่าการวัด)
ฟังก์ชั่น	ฟังก์ชันตรวจสอบหน้าสัมผัส 4 ขั้ว (เฉพาะ 3504-60 เท่านั้น) BIN (ค่าการวัดสามารถจำแนกตามอันดับได้) (3504-50, 3504-60), เอาต์พุตทริกเกอร์-ซิงโครนัส, การตั้งค่าคอนฟิกสามารถจัดเก็บได้, ตัวเปรียบเทียบ, ค่าเฉลี่ย, การปฏิเสธ Low-C (การตรวจจับผู้ติดต่อที่ไม่ดี), การตรวจจับแชท, EXT I/O, RS-232C, GP-IB (3504-50, 3504-60)
แหล่งจ่ายไฟ	เลือกได้ตั้งแต่ 100, 120, 220 หรือ 240 V AC ±10 %, 50/60 Hz, สูงสุด 110 VA
ขนาดและน้ำหนัก	กว้าง 260 มม. (10.24 นิ้ว) × สูง 100 มม. (3.94 นิ้ว) × 220 มม. (8.66 นิ้ว) ลึก 3.8 กก. (134.0 ออนซ์)
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย	สายไฟ ×1, คู่มือการใช้งาน ×1, ฟิวส์สำรอง ×1

Probe and Test fixtures (9)

เคล็ดลับการติดต่อ IM9901

เพื่อแทนที่ทิปบน L2001 ขนาดปกติ ที่มาพร้อมกับ L2001

เคล็ดลับการติดต่อ IM9902

หากต้องการเปลี่ยนทิปบน L2001 ขนาดเล็ก

พินเชอร์โพรบ L2001

เรียนรู้เพิ่มเติม

• DC ถึง 8MHz การสิ้นสุด 50Ω
• ระยะห่างของอิเล็กโทรดทิป: 0.3 ถึง 6 mm
• ขนาดตัวอย่างที่วัดได้: 0201 ถึง 2220 (นิ้ว)

โพรบ 4-TERMINAL 9140

DC ถึง 100 kHz, ความยาว 1 ม. (3.28 ฟุต), ลักษณะอิมพีแดนซ์ 75 Ω

ชุดทดสอบ 9261

DC ถึง 8 MHz, ความยาว 1 ม. (3.28 ฟุต), ลักษณะอิมพีแดนซ์ 75 Ω

ชุดทดสอบ 9262

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)

ชุดทดสอบ SMD 9263

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) ขนาดตัวอย่างทดสอบ:1 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 10 มม. (0.39 นิ้ว)

ชุดทดสอบ SMD 9677

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านข้าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: 3.5 มม. ±0.5 มม. (0.14 นิ้ว ±0.02 นิ้ว)

ชุดทดสอบ SMD 9699

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านล่าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: กว้าง 1.0 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 4.0 มม. (0.16 นิ้ว) สูงสุด สูง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)