ระบบทดสอบการเบิร์นอินบอร์ด

ขั้นตอนสุดท้ายของกระบวนการผลิตเซมิคอนดักเตอร์รวมถึงการทดสอบการเบิร์นอิน เป้าหมายของการทดสอบดังกล่าวคือการค้นหาข้อบกพร่องเบื้องต้นล่วงหน้าโดยใช้โหลดอุณหภูมิและแรงดันไฟฟ้ากับเซมิคอนดักเตอร์ที่เสร็จสมบูรณ์ แท่นที่เรียกว่ากระดานเบิร์นอินใช้สำหรับเก็บเซมิคอนดักเตอร์ในระหว่างการทดสอบดังกล่าว

เนื่องจากบอร์ดนี้ใช้ส่งสัญญาณไฟฟ้ากับเซมิคอนดักเตอร์ จึงประกอบด้วยซ็อกเก็ตทดสอบ IC บน PCB และวงจรที่ประกอบด้วยส่วนประกอบแบบพาสซีฟ เช่น ตัวต้านทาน คอยล์ และตัวเก็บประจุ ตลอดจนส่วนประกอบที่ทำงานอยู่ เช่น ทรานซิสเตอร์และไดโอด . บอร์ดเหล่านี้หลายบอร์ดถูกโหลดเข้าในเครื่องทดสอบการเบิร์นอิน ซึ่งทำการทดสอบในขณะที่ใช้โหลดอุณหภูมิ

เนื่องจากการทดสอบไม่สามารถดำเนินการได้อย่างถูกต้องหากมีปัญหากับบอร์ดเบิร์นอิน จึงต้องทดสอบแต่ละบอร์ด

บทความนี้จะแนะนำระบบทดสอบความเร็วสูงที่เชื่อถือได้ซึ่งออกแบบมาเพื่อรับรองคุณภาพของบอร์ดแบบเบิร์นอิน

ในปัจจุบัน ผู้ปฏิบัติงานดำเนินการทดสอบเหล่านี้โดยใส่หัวทดสอบการเชื่อมต่อลงในซ็อกเก็ต IC ครั้งละหนึ่งตัว เนื่องจากหัวทดสอบไม่ได้ยึดอยู่กับที่ สถานะของการสัมผัสจึงแตกต่างกันไปตามการเคลื่อนไหวของพนักงาน และกระบวนการทดสอบมักจะมีลักษณะเฉพาะด้วยผลผลิตที่ไม่ดีเนื่องจากปัญหาต่างๆ เช่น จำเป็นต้องทำการทดสอบซ้ำหลายครั้ง

คนงานต้องพยายามอย่างเต็มที่ที่จะไม่เปลี่ยนการเคลื่อนไหวระหว่างการทดสอบ ผลกระทบของการเคลื่อนไหวดังกล่าว เช่นเดียวกับภาระงาน จะเพิ่มขึ้นเมื่อเวลาทดสอบสำหรับซ็อกเก็ต IC แต่ละอันยาวขึ้น โดยสรุป การทดสอบมีลักษณะดังนี้:

In-Circuit Tester FA1220 รวมสวิตช์วงจร (เครื่องสแกน) และเครื่องมือวัดไว้ในกล่องหุ้มขนาดกะทัดรัดที่ใช้ลำดับการทดสอบที่สร้างขึ้นโดยใช้แอปพลิเคชันคอมพิวเตอร์ บอร์ด I/O แบบรวมที่เป็นอุปกรณ์เสริมช่วยให้ระบบสามารถทำงานร่วมกับระบบไดรฟ์ภายนอก เพื่อให้สามารถฝังตัวในอุปกรณ์อัตโนมัติได้

มีการใช้เซมิคอนดักเตอร์มากขึ้นในเทคโนโลยีสารสนเทศใหม่ๆ เช่น IoT และ AI

ในอนาคต โรงงานผลิตมีแนวโน้มว่าจะต้องเผชิญกับความต้องการทั้งในด้านคุณภาพที่สูงขึ้นและเวลาในการทดสอบที่สั้นลง

In-Circuit Tester FA1220 มีศักยภาพที่จะตอบสนองความต้องการของสิ่งอำนวยความสะดวกดังกล่าว

แม้จะมีขนาดกะทัดรัด แต่ In-Circuit Tester FA1220 สามารถรองรับสแกนเนอร์ได้ถึง 1,024 พิน

บอร์ด I/O ช่วยให้สามารถควบคุมระบบจากแหล่งภายนอกได้ เช่น เพื่อเริ่มการทดสอบ และเพื่อแสดงผลการตัดสิน

FA1220 มาพร้อมกับฟังก์ชันและข้อมูลจำเพาะที่พร้อมใช้งานเมื่อฝังอยู่ในระบบของลูกค้า