Sistema de prueba de placa quemada

Este artículo presenta un sistema que puede probar placas quemadas utilizadas en pruebas de semiconductores de manera flexible y a altas velocidades.

Los tableros de quemado son utilizados por probadores de quemado.

La etapa final del proceso de fabricación de semiconductores incluye pruebas de quemado. El objetivo de tales pruebas es descubrir los defectos iniciales por adelantado aplicando cargas de temperatura y voltaje a los semiconductores terminados. Se utiliza un pedestal llamado placa de quemado para sostener los semiconductores durante dichas pruebas.

Dado que esta placa se utiliza para aplicar señales eléctricas a los semiconductores, consta de una red de conectores de prueba de IC en una PCB y circuitos formados por componentes pasivos, como resistencias, bobinas y condensadores, así como componentes activos, como transistores y diodos. . Varias de estas placas se cargan en un probador de quemado, que realiza la prueba mientras aplica una carga de temperatura.

Dado que la prueba no se puede llevar a cabo correctamente si hay un problema con la placa de quemado, se debe probar cada placa.

Este artículo presenta un sistema de prueba confiable y de alta velocidad diseñado para garantizar la calidad de las placas quemadas.

Problemas con las pruebas de placa quemadas

Actualmente, los trabajadores llevan a cabo estas pruebas insertando un cabezal de prueba de conexión en un zócalo IC a la vez. Dado que los cabezales de prueba no están fijos en su lugar, el estado de contacto varía con los movimientos del trabajador y el proceso de prueba tiende a caracterizarse por un bajo rendimiento debido a problemas como la necesidad de repetir las pruebas varias veces.

Los trabajadores deben hacer todo lo posible para no cambiar sus movimientos durante la prueba. Los efectos de dichos movimientos, así como la carga de trabajo, aumentan a medida que se prolonga el tiempo de prueba para cada zócalo del IC. En resumen, las pruebas se caracterizan por los siguientes problemas:

  • Pobres rendimientos y pruebas que consumen mucho tiempo
  • Pruebas omitidas y defectos perdidos debido a errores por descuido
  • Variabilidad en los resultados de las pruebas debido a la dependencia de los trabajadores individuales
  • Mayores cargas de trabajo debido a las largas horas de trabajo

Realización de pruebas de alta velocidad y operatividad superior

El probador en circuito FA1220 incorpora un interruptor de circuito (escáner) y un instrumento de medición en una carcasa compacta que implementa secuencias de prueba creadas con una aplicación informática. Una placa de E/S integrada opcional permite que el sistema interopere con sistemas de unidades externas, lo que permite integrarlo en equipos automatizados.

  • Un interruptor de pie facilita el inicio y la finalización de las pruebas y el movimiento entre bloques.
  • El sistema puede medir hasta 1.024 pines.
  • Una pantalla de mapa de resultados de prueba (hasta 32 × 32) permite identificar las ubicaciones no probadas y defectuosas.
  • Una función de protección detiene las pruebas posteriores si la función de autocomprobación identifica un problema.
  • El sistema proporciona funcionalidad para detener las pruebas posteriores si se encuentra un resultado FALLO.
  • Se pueden usar cabezales de prueba de conexión de enchufe IC actualmente en uso (requiere la fabricación del conector).

Los semiconductores se utilizan cada vez más en las nuevas tecnologías de la información, como IoT e IA.

En el futuro, es probable que cada vez más instalaciones de fabricación se enfrenten a la necesidad de lograr una mayor calidad y tiempos de prueba más cortos.

El probador en circuito FA1220 tiene el potencial para abordar las necesidades de dichas instalaciones.

Funcionalidad y concepto que posibilitan la integración del FA1220 en otros equipos

A pesar de su tamaño compacto, el In-Circuit Tester FA1220 puede acomodar escáneres de hasta 1024 pines.

Una placa de E/S permite que el sistema se controle desde una fuente externa, por ejemplo, para iniciar las pruebas y generar resultados de evaluación.

El FA1220 está equipado con funciones y especificaciones que están disponibles cuando se integran en los sistemas de los clientes.

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