Sistem Pengujian Papan Burn-in
Artikel ini memperkenalkan sistem yang dapat menguji papan burn-in yang digunakan dalam pengujian semikonduktor secara fleksibel dan pada kecepatan tinggi.
Papan burn-in digunakan oleh penguji burn-in.
Tahap akhir dari proses manufaktur semikonduktor termasuk pengujian burn-in. Tujuan dari pengujian tersebut adalah untuk menemukan cacat awal terlebih dahulu dengan menerapkan beban suhu dan tegangan untuk semikonduktor selesai. Sebuah alas yang disebut papan burn-in digunakan untuk menahan semikonduktor selama pengujian tersebut.
Karena papan ini digunakan untuk menerapkan sinyal listrik ke semikonduktor, papan ini terdiri dari kisi soket uji IC pada PCB dan sirkuit yang terdiri dari komponen pasif seperti resistor, koil, dan kapasitor serta komponen aktif seperti transistor dan dioda. . Beberapa papan ini dimuat ke dalam burn-in tester, yang melakukan pengujian sambil menerapkan beban suhu.
Karena pengujian tidak dapat dilakukan dengan benar jika ada masalah dengan papan burn-in itu sendiri, setiap papan harus diuji.
Artikel ini memperkenalkan sistem pengujian berkecepatan tinggi yang andal yang dirancang untuk memastikan kualitas papan burn-in.
Masalah dengan pengujian papan burn-in
Saat ini, pekerja melakukan tes ini dengan memasukkan kepala tes koneksi ke satu soket IC pada satu waktu. Karena kepala uji tidak terpasang pada tempatnya, keadaan kontak bervariasi dengan gerakan pekerja, dan proses pengujian cenderung ditandai dengan hasil yang buruk karena masalah seperti perlunya mengulang pengujian beberapa kali.
Pekerja harus melakukan yang terbaik untuk tidak mengubah gerakan mereka selama pengujian. Efek dari gerakan tersebut, serta beban kerja, meningkat seiring dengan waktu pengujian untuk setiap soket IC yang diperpanjang. Singkatnya, pengujian ditandai dengan masalah berikut:
- Hasil yang buruk dan tes yang memakan waktu
- Tes yang dihilangkan dan cacat yang terlewatkan karena kesalahan yang ceroboh
- Variabilitas dalam hasil tes karena ketergantungan pada pekerja individu
- Beban kerja yang lebih tinggi karena jam kerja yang panjang
Menyadari pengujian kecepatan tinggi dan pengoperasian yang unggul
In-Circuit Tester FA1220 menggabungkan sakelar sirkuit (pemindai) dan alat ukur ke dalam wadah ringkas yang mengimplementasikan urutan pengujian yang dibuat menggunakan aplikasi komputer. Papan I/O terintegrasi opsional memungkinkan sistem beroperasi dengan sistem drive eksternal, memungkinkannya tertanam dalam peralatan otomatis.
- Sebuah saklar kaki memudahkan untuk memulai dan menghentikan pengujian dan untuk bergerak di antara blok.
- Sistem ini dapat mengukur hingga 1.024 pin.
- Tampilan peta hasil pengujian (hingga 32 × 32) memungkinkan lokasi yang belum diuji dan rusak untuk diidentifikasi.
- Fungsi pelindung menghentikan pengujian berikutnya jika fungsi swa-uji mengidentifikasi masalah.
- Sistem menyediakan fungsionalitas untuk menghentikan pengujian berikutnya jika ditemukan hasil GAGAL.
- Kepala uji koneksi soket IC yang saat ini digunakan dapat digunakan (memerlukan fabrikasi konektor).
Semikonduktor semakin banyak digunakan dalam teknologi informasi baru seperti IoT dan AI.
Ke depan, semakin banyak fasilitas manufaktur yang menghadapi kebutuhan untuk mencapai kualitas yang lebih tinggi dan waktu takt pengujian yang lebih pendek.
In-Circuit Tester FA1220 memiliki potensi untuk memenuhi kebutuhan fasilitas tersebut.
Fungsionalitas dan konsep yang memungkinkan untuk menyematkan FA1220 di peralatan lain
Meskipun ukurannya ringkas, In-Circuit Tester FA1220 dapat menampung pemindai hingga 1.024 pin.
Papan I/O memungkinkan sistem dikendalikan dari sumber eksternal, misalnya untuk memulai pengujian, dan untuk mengeluarkan hasil penilaian.
FA1220 dilengkapi dengan fungsionalitas dan spesifikasi yang tersedia saat tertanam dalam sistem pelanggan.
