ベアボード検査・パッケージ検査装置（フライングプローブテスタ）

・最速100 points/sec の高速検査とプロービング精度向上の両立
・10 V で最大100 GΩの絶縁検査
・検査時間を従来比最大30％削減

最速100 points/sec の高速検査とプロービング精度向上の両立
10 V で最大100 G Ωの絶縁検査

・両面ベアボード検査機
・超高精度プロービングで高密度パッケージ基板の信頼性を評価

高密度パッケージ基板の信頼性を評価微細パットに正確にコンタクト

・水平型片面ベアボード検査機
・静電容量方式による、Max.100 points/sec.の高速パターン検査

静電容量方式 Max.100 points/sec.の高速パターン検査

・縦型両面ベアボード検査機
・低抵抗測定でオープンビア不良検出
・超絶縁抵抗測定でパターンの形状異常やボイドを検出

縦型4アーム両面検査 低抵抗測定でオープンビア不良検出

・ スクエア10μm高精度コンタクトと高速プロービングを実現
・ 稼働率100％を実現したダブル検査方式を採用

スクエア10μm高精度コンタクト ダブル検査方式

・Max.100points/secの高速検査
・総合プロービング精度15μm

Max.100points/secの高速検査総合プロービング精度15μm

・編集、検査点生成、部品内蔵対応の「3-in-1」
・Windows専用の新アルゴリズム
・データ数制限が無くなって、自由度アップ
・新コマンドの追加で、作成工数を半分に削減

データ作成時間1/2 データ作成ソフト

・HIOKI電気検査装置,データ作成システム専用ビューワソフト

データ作成システム専用 ビューワソフト