เครื่องวัดความต้านทาน

• แหล่งทดสอบ DC สูงสุด 1A
• ความเร็วในการวัด 2.3 ms
• ช่วง 1000 μΩ ถึง 1000 MΩ ความละเอียด 1 nΩ
• ขั้นต่ำ ช่วงการวัดความแม่นยำ: 0.045% rdg
• ตัวเลือกมัลติเพล็กเซอร์: การทดสอบแบบ 4 สายใน 20 จุด

• ความต้านทานของสายไฟในมอเตอร์และหม้อแปลงไฟฟ้า
• ความต้านทานการเชื่อมต่อในขั้วต่อการชาร์จ
• ความต้านทานต่อรูปแบบบนแผงวงจรพิมพ์
• ความต้านทานกระแสตรงในฟิวส์และตัวต้านทานแบบแบ่ง
• ความต้านทานการเชื่อมต่อของบัสบาร์แบตเตอรี่
• สำหรับ R&D และสายการผลิต

・สำหรับการวิจัยและพัฒนาแบตเตอรี่ Li-ion
・แยกและหาปริมาณความต้านทานชั้นคอมโพสิตและความต้านทานส่วนต่อประสานในแผ่นอิเล็กโทรดขั้วบวกและลบ

・ระบบการวัดความต้านทานเพื่อวิเคราะห์พื้นผิวของแผ่นอิเล็กโทรด LIB เพื่อปรับปรุงคุณภาพแบตเตอรี่ในระดับส่วนประกอบ

• DC แหล่งการทดสอบสูงสุด 100mA
• 0.9 ms ความเร็วในการวัดที่เร็วที่สุด
• ช่วง 100 mΩ ถึง 1000 Ω, ความละเอียด 0.1 μΩ

• การทดสอบความเร็วสูงเหมาะสำหรับสายการผลิตอัตโนมัติ
• วัดส่วนประกอบขนาด 0201 ด้วยแรงดันไฟฟ้าต่ำโดยไม่ต้องใช้ความเครียด
• ฟังก์ชั่นการปรับปรุงการติดต่อช่วยให้มั่นใจการติดต่อที่เชื่อถือได้

• DC แหล่งการทดสอบสูงสุด 1A
• ความเร็วในการวัด 2.2ms
• ช่วง 10 mΩ ถึง 1000 MΩ, ความละเอียด 0.01 μΩ
• ตัวเลือกมัลติเพล็กเซอร์: การทดสอบ 4 สายใน 20 จุด

• R&D ของส่วนประกอบขั้นสูง รวมถึงมอเตอร์ หม้อแปลง รีเลย์กำลัง สวิตช์ และคอนเนคเตอร์
• การทดสอบความต้านทานพลังงานต่ำด้วยค่าสูงสุด แรงดันไฟเปิด 20mV

• DC แหล่งการทดสอบสูงสุด 1A
• อัตราการรีเฟรช 100 ms
• ช่วง 3 mΩ ถึง 3 MΩ, ความละเอียด 0.1 μΩ

• เครื่องวัดความต้านทานแบบพกพาที่มีความแม่นยำสูงจะทดสอบสัญญาณ μΩ ถึง MΩ
• จัดเก็บข้อมูล 1,000 จุดในหน่วยความจำ
• วัดมอเตอร์และสเตเตอร์ขนาดใหญ่ในรถยนต์ไฮบริดและไฟฟ้า

• DC แหล่งการทดสอบสูงสุด 300mA
• ความเร็วในการวัด 18 ms
• ช่วง 30 mΩ ถึง 3 MΩ, ความละเอียด 1 μΩ

• การทดสอบความเร็วสูงในสายการผลิต
• ทดสอบมอเตอร์ หม้อแปลง รีเลย์กำลัง สวิตช์ และคอนเนคเตอร์
• ฟังก์ชันเปรียบเทียบช่วยให้ตัดสินใจผ่าน/ไม่ผ่านได้อย่างรวดเร็ว

• DC แหล่งการทดสอบสูงสุด 1A
• ความเร็วในการวัดสูงสุด 2.0 ms
• ช่วง 10 mΩ ถึง 1000 Ω, ความละเอียด 0.01 μΩ

• วัดด้วยความแม่นยำที่เหนือกว่าและความละเอียดสูง เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการรวมเข้ากับเครื่องพันเทป
• การแก้ไขแรงดันไฟฟ้าออฟเซ็ตช่วยลดผลกระทบของแรงเทอร์โมอิเล็กโทรโมทีฟ
• ฟังก์ชั่นการปรับปรุงการติดต่อช่วยให้มั่นใจการติดต่อที่เชื่อถือได้

• DC แหล่งการทดสอบสูงสุด 100mA
• 0.9 ms ความเร็วในการวัดที่เร็วที่สุด
• ช่วง 100 mΩ ถึง 1000 Ω, ความละเอียด 0.1 μΩ

• ออกแบบมาสำหรับสายอัตโนมัติ
• ตรวจสอบตัวต้านทานชิปและส่วนประกอบ EMI ก่อนจัดส่งเพื่อควบคุมคุณภาพ
• ตัวเปรียบเทียบ การหน่วงเวลาเริ่มต้น OVC การตรวจจับข้อบกพร่อง และฟังก์ชันการทำงานอัตโนมัติอื่นๆ อีกมากมาย