มิเตอร์วัดความจุสูงสุด 1 MHz

• C, D, (แทน δ), Q, การทดสอบความจุต่ำ
• 1 kHz หรือ 1 MHz
• ความเร็วทดสอบ 1.5 ms (1MHz), ความแม่นยำ ±0.14%

• การทดสอบความเร็วสูงของตัวเก็บประจุเซรามิกในสายการผลิต
• ผสานรวมกับเครื่องพันเทปอัตโนมัติและเครื่องคัดแยกสำหรับการผลิต MLCC (ตัวเก็บประจุเซรามิกหลายชั้น)

• C, D (แทน δ), การทดสอบ MLCC ความจุสูง
• 120Hz หรือ 1kHz
• ความเร็วทดสอบ 2 ms ความแม่นยำ ±0.09%

• การทดสอบความจุด้วยลักษณะการพึ่งพาแรงดันไฟฟ้าโดยใช้การทดสอบแรงดันคงที่ (CV)
• ตรวจจับความล้มเหลวของการสัมผัสบนเทอร์มินัลทั้ง 4 ตัวเพื่อเพิ่มความน่าเชื่อถือ
• การตรวจสอบความเร็วสูงของตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น (MLCC) บนเครื่องพันเทป