Medidores de capacitancia, hasta 1 MHz

• C, D, (tan δ), Q, prueba de baja capacitancia
• 1 kHz o 1 MHz
• Velocidad de prueba de 1,5 ms (1 MHz), precisión de ±0,14 %

• Pruebas de alta velocidad de capacitores cerámicos en líneas de producción
• Integración con máquinas de encintado y clasificadoras automáticas para la producción de MLCC (condensadores cerámicos multicapa)

• C, D (tan δ), prueba de MLCC de gran capacitancia
• 120 Hz o 1 kHz
• Velocidad de prueba de 2 ms, precisión de ±0,09 %

• Pruebas de capacitancia con características de dependencia de voltaje mediante el uso de pruebas de voltaje constante (CV)
• Detecte fallas de contacto en los 4 terminales para una mayor confiabilidad
• Inspección de alta velocidad de condensadores cerámicos multicapa (MLCC) en máquinas de encintado