• C, D, (tan ), Q, pengujian kapasitansi rendah
• 1 kHz atau 1 MHz
• Kecepatan uji 1,5 ms (1MHz), akurasi ±0,14%
• Pengujian kapasitor keramik berkecepatan tinggi di jalur produksi
• Terintegrasi dengan mesin dan penyortir tape otomatis untuk produksi MLCC (kapasitor keramik multi-layer)