• C, D, (tan δ), Q, teste de baixa capacitância
• 1 kHz ou 1 MHz
• Velocidade de teste de 1,5 ms (1 MHz), precisão de ±0,14%
• Testes de alta velocidade de capacitores cerâmicos em linhas de produção
• Integrar com máquinas automáticas de gravação e classificadores para produção de MLCC (capacitores cerâmicos multicamadas)