เครื่อง HiTESTER ในวงจร 1220
การทดสอบบอร์ดประชากรที่มีประสิทธิภาพสูงพร้อมความสามารถในการขยาย
ฮิโอกิ PCB และอุปกรณ์ตรวจสอบพื้นผิวใช้ประโยชน์จากความสามารถหลักของเราในการทดสอบส่วนประกอบที่มีความแม่นยำสูง ในการตั้งค่าการผลิตบอร์ดที่มีประชากรจำนวนมากซึ่งการปรับปรุงประสิทธิภาพการผลิตเป็นสิ่งสำคัญ แม้จะสูญเสียเวลาเพียงเล็กน้อยก็ยอมรับไม่ได้ ซีรีส์ 1220 เป็นโซลูชันเดียวสำหรับงานที่ก่อนหน้านี้ต้องใช้เครื่องมือวัดหลายตัว โดยมีบัส PCI ขนาดกะทัดรัดที่ให้ความเร็วที่เพิ่มขึ้นอย่างมากถึง 150%
ฟีเจอร์หลัก
- ฟังก์ชันการทดสอบที่ครอบคลุมในกล่องบนโต๊ะเดียว (1220-50)
- การตรวจจับตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าและการแทรกย้อนกลับของ IC (คุณสมบัติเสริม)
- การทดสอบมาโครเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพการทดสอบ
- การกำหนดค่าระบบที่หลากหลาย
หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)
| 1220-50 | รุ่นเดสก์ท็อป |
|---|---|
| 1220-51 | รุ่นออฟไลน์ |
| 1220-52 | รุ่นประหยัดพื้นที่ |
| 1220-55 | โมเดลอินไลน์ |
ตัวเต็ม
มีจำหน่ายในรุ่นเดสก์ท็อป ประหยัดพื้นที่ และอินไลน์ เพื่อรองรับความต้องการของไซต์อย่างครบถ้วน
การจดจำสี LED และการตรวจจับความสว่าง
1220 รวมยูนิตแหล่งพลังงาน เพื่อให้สามารถดำเนินการทดสอบการติดตั้งและการทดสอบ LED ด้วยฟิกซ์เจอร์ตัวเดียว
โซลูชันแบบใช้อุปกรณ์เดียวนี้ไม่เพียงแต่ช่วยลดรอบเวลา แต่ยังช่วยในการวิเคราะห์หลังการทดสอบด้วยความสามารถในการรวบรวมข้อมูล
สำหรับผู้ที่กำลังพิจารณาการทดสอบชิ้นส่วนเฉลี่ย (PAT)
1220 นำกระบวนการ PAT มาทดสอบแผงวงจรพิมพ์และเพิ่มฟังก์ชันการตรวจจับอันดับสำหรับ ICT เพื่อปรับปรุงคุณภาพ
แฟล็กการตรวจหาอันดับถูกเพิ่มไปยังค่าผิดปกติ (ค่าผิดปกติ) ที่แยกจากประชากรพาเรนต์ การตัดสินใจว่าจะทำการตรวจหาอันดับหรือไม่นั้นสามารถเพิ่มตามส่วนประกอบต่อส่วนประกอบได้
มุมมองข้อมูลจุด (UA1782)
หมุดทดสอบแสดงผลลัพธ์ที่ล้มเหลวในการติดต่อกับบอร์ดอยู่ที่ไหน”
ง่ายต่อการระบุตำแหน่งของหมุดที่ชำรุดและค้นหาส่วนประกอบโดยใช้ Point Viewer ในขณะที่กำลังดำเนินการทดสอบหรือในขณะที่ Fail Viewer UA1782 ออฟไลน์อยู่
[โปรแกรม ทดสอบ เห็นภาพ] ระบบทดสอบไฟฟ้าของบอร์ดประชากร
ฮิโอกิ สามารถเตรียมเกณฑ์มาตรฐานระบบการทดสอบของบอร์ดที่มีประชากรได้หากมีข้อมูลสามประเภทตามรายการด้านล่าง
[โปรแกรม] FIT-LINE UA1780
[ทดสอบ] IN-CIRCUIT HiTESTER 1220
[Visualize] FAIL VISUALIZER UA1782
เมื่อทำการทดสอบแผงที่มีประชากร จำเป็นต้องสร้างข้อมูลที่ถูกต้อง วัดแผงอย่างถูกต้อง และระบุตำแหน่งที่ชำรุดได้อย่างถูกต้อง
ภาพรวมข้อมูลจำเพาะ
| 1220-50 | 1220-51 | 1220-52 | 1220-55 | |||
| ประเภทและช่วงการทดสอบ | Round-robin short/open, การทดสอบส่วนประกอบ | |||||
| การทดสอบมาโคร : 10 Ω ถึง 10 MΩ (อิมพีแดนซ์) | ||||||
| ความต้านทาน : 400 μΩ ถึง 40 MΩ | ||||||
| ความจุ : 10 pF ถึง 400 mF | ||||||
| คอยส์ : 1 μH ถึง 100 H | ||||||
| ไดโอด ทรานซิสเตอร์ : 0 V ถึง 25 V | ||||||
| ซีเนอร์ไดโอด : 0 V ถึง 25 V (ตัวเลือก: 25 V ถึง 120 V) | ||||||
| ทรานซิสเตอร์ดิจิตอล : 0 V ถึง 25 V | ||||||
| ฟังก์ชั่นการทดสอบตัวต่อภาพถ่าย : 0 V ถึง 25 V | ||||||
| การตรวจจับการแทรกย้อนกลับของตัวเก็บประจุ (ตัวเลือก), การตรวจจับการแทรกย้อนกลับของ IC (ตัวเลือก) | ||||||
| จำนวนสูงสุด คะแนนสอบ | แม็กซ์ 2,176 พิน (3 ชั้นขยาย), มาตรฐาน: 128 พิน |
แม็กซ์ 2,176 พิน (3 ชั้นขยาย), มาตรฐาน: 320 พิน |
แม็กซ์ 1,536 พิน (2 ชั้นวางส่วนขยาย), มาตรฐาน: 320 พิน |
แม็กซ์ 2,176 พิน (3 ชั้นขยาย), มาตรฐาน: 320 พิน |
||
| สามารถขยายเป็นบล็อก 64 | ||||||
| จำนวนสูงสุดของ ขั้นตอนการทดสอบ | 10,000 ก้าว | |||||
| เวลาในการวัด | Round-robin สั้น/เปิด: ตั้งแต่ประมาณ. 0.8 ms/พิน ส่วนประกอบ: ตั้งแต่ประมาณ. 0.9 ms/ขั้นตอน |
|||||
| กระดานวัดได้ ขนาด |
-- | 390 มม. (15.35 นิ้ว) กว้าง × 300 มม. (11.81 นิ้ว)D | ||||
| แหล่งจ่ายไฟ | 100 V AC (±10%) (ระบุเมื่อสั่งซื้อ), การใช้พลังงาน: 700 ถึง 1000 VA | |||||
| ขนาดและน้ำหนัก | กว้าง 200 มม. (7.87 นิ้ว) × สูง 325 มม. (12.80 นิ้ว) × 298 มม. (11.73 นิ้ว) ลึก 10 กก. (352.7 ออนซ์) | กว้าง 1030 มม. (40.55 นิ้ว) × 1470 มม. (57.87 นิ้ว) สูง × 710 มม. (27.95 นิ้ว) ลึก 240 กก. (8465.6 ออนซ์) | กว้าง 655 มม. (25.79 นิ้ว) × 1610 มม. (63.39 นิ้ว) สูง × 705 มม. (27.76 นิ้ว) ลึก 220 กก. (7760.1 ออนซ์) | -- | ||
Options (2)
64 พิน/สาย
