IN-SIRKUIT HiTESTER 1220

Populated Board Testing Kinerja Tinggi dengan Kemampuan Ekspansi

Hioki PCB dan peralatan inspeksi substrat memanfaatkan kompetensi inti kami dalam pengujian komponen presisi tinggi. Dalam pengaturan produksi papan yang padat di mana peningkatan produktivitas adalah kuncinya, bahkan kehilangan waktu yang kecil pun tidak dapat diterima. Seri 1220 memberikan solusi tunggal untuk pekerjaan yang sebelumnya membutuhkan beberapa instrumen pengukuran, menampilkan bus PCI ringkas yang memberikan peningkatan kecepatan dramatis sebesar 150%.

Fitur Utama

  • Fungsionalitas pengujian ekstensif dalam satu kotak meja (1220-50)
  • Deteksi kapasitor elektrolitik dan penyisipan terbalik IC (fitur opsional)
  • Pengujian makro untuk meningkatkan efisiensi pengujian
  • Rentang konfigurasi sistem yang luas

Nomor Model (Kode Pesanan)

1220-50 Model desktop
1220-51 Model offline
1220-52 Model hemat-ruang
1220-55 Model sebaris

Jajaran LENGKAP

Tersedia dalam model desktop, hemat-ruang, dan inline untuk mengakomodasi berbagai macam kebutuhan situs.

Pengenalan warna LED dan deteksi kecerahan

1220 dilengkapi unit sumber daya, memungkinkannya melakukan uji pemasangan dan uji LED dengan satu perlengkapan.
Solusi perangkat tunggal ini tidak hanya mengurangi waktu siklus, tetapi juga membantu analisis pasca-pengujian karena kemampuannya untuk mengkonsolidasikan data.

Untuk orang yang mempertimbangkan pengujian rata-rata bagian (PAT)

1220 membawa proses PAT ke pengujian papan sirkuit tercetak dan menambahkan fungsi deteksi peringkat untuk TIK guna meningkatkan kualitas.
Bendera deteksi peringkat ditambahkan ke outlier (nilai abnormal) yang dipisahkan dari populasi induk. Keputusan apakah akan melakukan deteksi peringkat dapat ditambahkan berdasarkan komponen demi komponen.

Tampilan informasi titik (UA1782)

Di mana pin perlengkapan uji yang menunjukkan hasil gagal menghubungi papan?
Sangat mudah untuk mengidentifikasi lokasi pin yang rusak dan mencari komponen dengan menggunakan Point Viewer saat pengujian sedang berlangsung atau saat Fail Viewer UA1782 sedang offline.

VISUALIZER GAGAL UA1782

[Program, Uji, Visualisasikan] Sistem Pengujian Listrik Papan Terpopulasi

Hioki dapat menyiapkan tolok ukur sistem pengujian papan terpopulasi jika dilengkapi dengan tiga jenis data yang tercantum di bawah ini.
[Program] FIT-LINE UA1780
[Tes] IN-CIRCUIT HiTESTER 1220
[Visualisasikan] FAIL VISUALIZER UA1782
Saat menguji papan yang terisi, penting untuk membuat data yang akurat, mengukur papan secara akurat, dan mengidentifikasi lokasi yang rusak secara akurat.

Ikhtisar Spesifikasi

  1220-50 1220-51 1220-52 1220-55
Jenis dan rentang pengujian Round-robin pendek/terbuka, uji Komponen
  Uji Makro : 10 sampai 10 MΩ (Impedansi)
  Resistansi : 400 hingga 40 MΩ
  Kapasitansi : 10 pF hingga 400 mF
  Kumparan : 1 H hingga 100 H
  Dioda, transistor : 0 V sampai 25 V
  Dioda Zener : 0 V hingga 25 V (Opsi: 25 V hingga 120 V)
  Transistor digital : 0 V sampai 25 V
  Fungsi uji coupler foto: 0 V hingga 25 V
  Deteksi penyisipan terbalik kapasitor (Opsi), deteksi penyisipan terbalik IC (Opsi)
Jumlah Maks. poin ujian Maks. 2.176 pin
(3 rak ekspansi),
Standar: 128 pin
Maks. 2.176 pin
(3 rak ekspansi),
Standar: 320 pin
Maks. 1.536 pin
(2 rak ekspansi), Standar: 320 pin
Maks. 2.176 pin
(3 rak ekspansi),
Standar: 320 pin
  Dapat diperluas dalam blok 64.
Jumlah Maks. langkah-langkah pengujian 10.000 langkah
Waktu pengukuran Round-robin pendek/terbuka: Dari kira-kira. 0,8 ms/pin
Komponen: Dari kira-kira. 0,9 ms/langkah
Papan terukur
ukuran
-- 390 mm (15,35 inci)L × 300 mm (11,81 inci)D
Sumber Daya listrik 100 V AC (±10%) (Tentukan saat pemesanan), Konsumsi daya: 700 hingga 1000 VA
Dimensi dan massa 200 mm (7,87 inci) L × 325 mm (12,80 inci) T × 298 mm (11,73 inci) D, 10 kg (352,7 oz) 1030 mm (40,55 inci) L × 1470 mm (57,87 inci) T × 710 mm (27,95 inci) D, 240 kg (8465,6 oz) 655 mm (25,79 inci) L × 1610 mm (63,39 inci) T × 705 mm (27,76 inci) D, 220 kg (7760,1 oz) --

Options (2)