インサーキットハイテスタ 1220 シリーズ
実装基板の品質向上をサポート
インサーキットテスタ（ICT)でできること
インサーキットテスタ（ICT)は、電気検査により実装基板が良品と同様であることを保証する検査装置です。
HIOKIのインサーキットテスタは、測定結果が国家標準にトレースできるようになっており、信頼性の高い検査結果を提供します。また、近年のモジュール化や、部品の小型化により以下に示すような外観検査では検出困難な事例も増えてきており、安心して実動試験やファンクション検査を行えるインサーキットテスタとのマルチ検査が注目されています。
・部品の下で発生している不良（半田の飛散など）
・実装後のベアボードの不良（熱による断線など）
・部品の内部破損（チップクラックなど）
・ROM書込みと組合せ
特長
- 卓上型1BOXに機能を集約 [1220-50]
- 電解コンデンサ・IC逆挿入検出（オプション）
- 検査効率を上げるマクロ検査
- 多彩なシステム構成が可能
形名（発注コード）
| 1220-55 | インラインタイプ | 廃止 |
|---|---|---|
| 1220-52 | 省スペースタイプ | 廃止 |
| 1220-51 | テーブルタイプ | 廃止 |
| 1220-50 | 卓上タイプ | 廃止 |
フルラインアップ
計測ユニット、省スペース、インラインと現場に合わせたバリエーション
部品検査機能、導通・絶縁などの基本機能の充実だけでなく、ROM書込みやLEDの色彩センサとの組合せなど拡張性も十分配慮されています。品質の向上と検査工数の削減を実現するためのベースユニットとしてインサーキットテスタ1220をお使いください。
フラッシュプログラミング/ROM書込みシステム
近年、フラッシュマイコンの量産採用と工場内でのインラインROM書込みを検討・導入する事例が増えています。 実装基板の検査（インサーキット）で基板が良品であることが確認できると同時に、ROM書込み工程を続けて行うことができれば、検査にありがちな段取り替えの手間や、コンタクトプローブの接触など様々な工数と課題を同時にクリアすることができます。
インサーキットテストとフラッシュプログラミング環境を一体にして、品質向上とコストダウンとタクトアップを同時に実現します。
[ ①実装確認 → ②フラッシュプログラム（ROM書込み） → ③動作試験 ] → インサーキット総合判定システムの構築が可能に！
LEDの色識別、輝度の判定
１２２０はパワーソースユニットを実装することで、実装検査とLEDの検査を一つのジグで対応することが可能になります。
1台完結により、タクト短縮だけでなく、データも集約できるため検査後の解析にも役立ちます。
PAT(Part Average Testing)を検討されている方へ
PAT手法をプリント基板検査に導入し品質向上を行うため、ICTにRANK判定機能を搭載しました。
母集団から乖離したアウトライヤ（異常値）にRANK判定フラグを付加します。また、RANK判定の有無も部品毎に設定できるようになっています。
ポイント情報ビュー（UA1782）
「ピンボードで不調なプローブ 基板のどこに当たってるの？」
検査中はポイントビューア、オフラインではFAIL VIEWER UA1782を使えば、不良ピンの位置の特定、部品の探索も簡単です。
概略仕様
| 1220-50 | 1220-51 | 1220-52 | 1220-55 | |||
| 検査項目・範囲 | 総当たりショート/オープン, コンポーネントテスト | |||||
| マクロテスト: 10 Ω〜10MΩ Ω (インピーダンス) | ||||||
| 抵抗測定: 400 μΩ〜40M Ω | ||||||
| コンデンサ測定: 10 pF〜400 mF | ||||||
| コイル測定: 1 μH〜100 H | ||||||
| ダイオード、トランジスタ (VF)測定: 0 V〜25 V | ||||||
| ツェナーダイオード (VZ)測定: 0 V〜25 V (25 V〜120 Vはオプション) | ||||||
| ディジタルトランジスタ (Q)測定: 0 V〜25 V | ||||||
| フォトカプラ測定: 0 V〜25 V | ||||||
| コンデンサ逆挿し検出 (オプション), IC逆挿し検出 (オプション) | ||||||
| 最大検査ポイント数 | 2,176ピン (拡張ボックス3台増設時), 標準: 128ピン |
2,176ピン (拡張ボックス3台増設時), 標準: 320ピン |
1,536ピン (拡張ボックス2台増設時), 標準: 320ピン |
2,176ピン (拡張ボックス3台増設時), 標準: 320ピン |
||
| 64ピン単位で増設可能 | ||||||
| 最大検査ステップ数 | 10,000ステップ | |||||
| 測定時間 | 総当たりショート/オープン: 約0.8 msec〜/ピン コンポーネント: 約0.9 msec〜/ステップ |
|||||
| 測定可能基板 | -- | 390 (W) × 300 (D)mm | ||||
| 電源 | AC100 V ±10% (その他は注文時指定), 消費電力: 700〜1000 VA | |||||
| 寸法・質量 | 200W × 325H × 298Dmm, 10 kg | 1030W × 1470H × 710Dmm, 240 kg | 655W × 1610H × 705Dmm, 220 kg | -- | ||
オプション (6)
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64ピン/１本
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(1220-50用はピンボード 1162)
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1220用
