ประเมินความสม่ำเสมอของฟิล์มที่เคลือบบนแผ่นกระจก

สามารถวัดความต้านทานพื้นผิวของฟิล์มที่เคลือบบนแผ่นกระจกได้โดยใช้อิเล็กโทรดวงแหวนคู่

ไฮไลท์

เพียงใส่อิเล็กโทรดแบบวงแหวนคู่บนวัตถุวัดก็สามารถวัดค่าความต้านทานพื้นผิวได้ ถึงตอนนี้ ต้องตัดตัวอย่างการวัดในขนาดที่ระบุออกจากกระจกของอุปกรณ์มือถือหรือสมาร์ทโฟนเพื่อวัดความต้านทานพื้นผิว แต่หัววัดความต้านทานพื้นผิว/ปริมาตร SM9001 และ Super Megohm Meter รุ่น SM-8220 สามารถใช้งานได้ การวัดโดยไม่จำเป็นต้องตัดตัวอย่างการวัดออก จึงสามารถประเมินความสม่ำเสมอของฟิล์มเคลือบผิวได้อย่างง่ายดาย





รายการ ผลิตภัณฑ์ ที่เกี่ยวข้อง