เครื่องทดสอบแบตเตอรี่ HiTESTER BT3561A

การทดสอบสายการผลิตแบบอัตโนมัติสำหรับเซลล์ขนาดเล็กสำหรับมอเตอร์ไฟฟ้าหรือชุดขนาดเล็กสูงสุด 60 V

ภาพรวม
คุณสมบัติ
ข้อมูลจำเพาะ
ตัวเลือก
ดาวน์โหลด

ฟีเจอร์หลัก

การวัดความต้านทานภายในและแรงดันไฟฟ้าวงจรเปิดพร้อมกัน
การทดสอบสายการผลิตแบบอัตโนมัติเต็มรูปแบบของเซลล์ขนาดเล็กสำหรับมอเตอร์ไฟฟ้าหรือชุดขนาดเล็กไม่เกิน 60 V
วัดตั้งแต่ 0 Ω ถึง 3.1 kΩ (ความละเอียดขั้นต่ำ 1 μΩ)
ช่วงการวัดความต้านทาน: 30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ
วัดตั้งแต่ 0 V DC ถึง ±60 V DC (ความละเอียดขั้นต่ำ 10 μV)
ช่วงการวัดแรงดันไฟฟ้า: 6 V/60 V
พร้อม LAN

หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)

BT3561A

หมายเหตุ: ไม่รวมสายวัด ซื้อตัวเลือกลูกค้าเป้าหมายที่เหมาะสมสำหรับแอปพลิเคชันของคุณต่างหาก ตัวผู้ (ด้านระบบ) ของขั้วต่อ EXT I/O ก็มีให้เช่นกัน โปรดติดต่อผู้จัดจำหน่ายหรือตัวแทนจำหน่าย ฮิโอกิ ที่ได้รับอนุญาตของคุณ

การวัดประสิทธิภาพและความปลอดภัยของแบตเตอรี่โดยใช้ความต้านทานภายใน (AC-IR) และแรงดันไฟฟ้าวงจรเปิด (OCV)

ตรวจสอบคุณภาพของเซลล์ โมดูล และแพ็คที่เสร็จสมบูรณ์ในสายการผลิต วัดความต้านทานภายใน (AC-IR) และแรงดันไฟฟ้าวงจรเปิด (OCV) เพื่อตรวจสอบคุณภาพแบตเตอรี่ เซลล์ที่ผลิตในโรงงานผลิตเซลล์จะถูกส่งไปยังโรงงานผลิตโมดูลหลังจากผ่านการตรวจสอบการขนส่งแล้ว เนื่องจากปัจจัยต่างๆ เช่น การสั่นสะท้านระหว่างการขนส่งและแม้กระทั่งเมื่อเวลาผ่านไปอาจทำให้เกิดข้อบกพร่องได้ แบตเตอรี่จึงได้รับการตรวจสอบการยอมรับก่อนที่จะประกอบเป็นโมดูลและแพ็ค

BT3561A
เซลล์ขนาดเล็กสำหรับมอเตอร์ไฟฟ้า ชุดเล็กไม่เกิน 60 V
ช่วงการวัดแรงดันไฟฟ้า: 6 V/60 V
ช่วงการวัดความต้านทาน: 30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ

BT3562A
เซลล์ขนาดใหญ่สำหรับ xEVs, แพ็คขนาดกลางถึง 100 V
ช่วงการวัดแรงดันไฟฟ้า: 6 V/60 V/100 V
ช่วงการวัดความต้านทาน: 3 mΩ/30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ

BT3563A
แพ็คใหญ่สำหรับ xEVs, แพ็คใหญ่มากถึง 300 V
ช่วงการวัดแรงดันไฟฟ้า: 6 V/60 V/300 V
ช่วงการวัดความต้านทาน: 3 mΩ/30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ

ลดต้นทุนการพัฒนาระบบทดสอบและชั่วโมงการจัดการ

BT356xA ใหม่ได้ปรับปรุงค่าความคลาดเคลื่อนที่ยอมรับได้อย่างมากเมื่อเทียบกับรุ่นก่อนหน้า การปรับปรุงนี้ทำให้ง่ายต่อการสร้างระบบทดสอบที่มีช่องสัญญาณจำนวนมากโดยใช้รีเลย์ นอกจากนี้ รอบการบำรุงรักษาที่ยาวนานขึ้นสำหรับระบบที่ใช้งานหมายถึงชั่วโมงการทำงานในการบำรุงรักษาที่น้อยลง สุดท้าย ความสามารถในการจัดการสายเคเบิลที่บางกว่ารุ่นก่อนๆ* ทำให้กำหนดเส้นทางสายเคเบิลได้ง่ายขึ้น
*ลวด AWG 29 (0.064 มม.2) เทียบเท่ากับ 2.2 Ω มากกว่า
ไปกลับ 8 ม. สามารถใช้ได้กับช่วง 3 mΩ หรือ 30 mΩ

ปรับปรุงประสิทธิภาพโดยการเพิ่มจำนวนช่องทางการตรวจสอบ

คุณสามารถใช้สวิตช์เมนเฟรม SW1001/SW1002 เพื่อเพิ่มจำนวนช่องการวัด นอกจากนี้ คุณสามารถทำการวัดค่าการสแกนโดยการควบคุมเครื่องมือสองเครื่องพร้อมกัน เช่น เครื่องมือซีรีส์ BT356xA และ DM7276 หรือ BT4560 และ DM7276

ป้องกันการทำงานผิดพลาดของเครื่องมือที่เกิดจากไฟฟ้าสถิตย์

แบตเตอรี่สามารถถูกชาร์จในสายการผลิตได้ เช่น เมื่อขนส่งบนสายพานลำเลียง เมื่อวางโพรบสัมผัสกับแบตเตอรี่ดังกล่าว การใช้งานที่เกิดจากไฟฟ้าสถิตอาจทำให้เครื่องมือเสียหายได้ ซีรีย์ BT356xA ได้รับการออกแบบมาให้ทนต่อการสัมผัสไฟฟ้าสถิต ±30 kV* ป้องกันการทำงานผิดพลาดที่เกิดจากไฟฟ้าสถิต และลดเวลาหยุดทำงานของสายทดสอบ
* ±30 kV IEC 61000-4-2 การคายประจุของหน้าสัมผัส

อินเทอร์เฟซ LAN เป็นมาตรฐาน

BT356xA ซีรีส์มีอินเทอร์เฟซ LAN เป็นอุปกรณ์มาตรฐาน ทำให้ง่ายต่อการใช้งานเครื่องมือร่วมกับระบบควบคุมแบบ PLC* ความสามารถในการใช้สาย LAN ที่เข้าถึงได้ง่ายช่วยลดค่าใช้จ่ายในระหว่างการพัฒนาและบำรุงรักษาระบบ นอกจากนี้ การออกแบบที่มีสัญญาณรบกวนรุนแรงและความต้านทานไฟฟ้าสถิตย์จะช่วยหลีกเลี่ยงปัญหาของระบบ
*Programmable Logic Controller อุปกรณ์ที่ควบคุมเครื่องหนึ่งเครื่องขึ้นไปโดยอัตโนมัติ

มาตรฐานโดยพฤตินัยของเครื่องทดสอบแบตเตอรี่

HIOKI BT356xA ซีรีส์
เครื่องทดสอบแบตเตอรี่ขั้นสูงเหล่านี้เหมาะที่สุดสำหรับการตรวจสอบการจัดส่งและการยอมรับของเซลล์และชุดแบตเตอรี่ วัดความต้านทานภายในและแรงดันไฟวงจรเปิด (OCV) ของแบตเตอรี่พร้อมกัน

เนื่องจากใช้วิธีการวัดแบบ AC-IR เวลาในการวัดจึงสั้นลง นอกจากนี้ยังได้ผลลัพธ์ที่ทำซ้ำได้สูงด้วยวิธีนี้ เครื่องทดสอบเหล่านี้มีช่วง 3 mΩ ที่มีความแม่นยำสูง ทำให้สามารถวัดความต้านทานของการเชื่อมแท็บแบตเตอรี่และบัสบาร์ได้ ทั้งหมดนี้รวมกันเพื่อเป็นตัวเลือกที่ดีที่สุดในการทดสอบแบตเตอรี่

แอปพลิเคชั่นแรงดันไฟฟ้าอินพุตสูง BT3564 รุ่นแรงดันไฟฟ้าอินพุตสูง (1,000 โวลต์) สามารถวัดความต้านทานรวมของแบตเตอรี่ทั้งแพ็คได้ในคราวเดียว

*ดูพร้อมคำบรรยายวิดีโอเพื่อดูคำอธิบายโดยละเอียด

ข้อกำหนดพื้นฐาน

รับประกันความแม่นยำ: 1 ปี

ช่วงการวัดความต้านทาน	30 mΩ (สูงสุด. จอแสดงผล: 31.000 mΩ, ความละเอียด: 1 μΩ, กระแสการวัด: 100 mA） 300 mΩ (สูงสุด. จอแสดงผล: 310.00 mΩ, ความละเอียด: 10 μΩ, กระแสการวัด: 10 mA） 3 Ω (สูงสุด จอแสดงผล: 3.1000 Ω, ความละเอียด: 100 μΩ, กระแสการวัด: 1 mA) 30 Ω (สูงสุด จอแสดงผล: 31.000 Ω, ความละเอียด: 1 mΩ, กระแสการวัด: 100 μA) 300 Ω (สูงสุด จอแสดงผล: 310.00 Ω, ความละเอียด: 10 mΩ, กระแสการวัด: 10 μA) 3 kΩ (สูงสุด. จอแสดงผล: 3.1000 kΩ, ความละเอียด: 100 mΩ, กระแสการวัด: 10 μA) ความแม่นยำพื้นฐาน: ±0.5% rdg ±5 dgt (ช่วง 30 mΩ หรือมากกว่า) ความถี่ในการวัด: 1 kHz ±0.2 Hz วิธีการวัด: วิธี AC สี่ขั้ว
ช่วงการวัดแรงดัน	6 V (สูงสุด จอแสดงผล: 6.00000 V, ความละเอียด: 10 μV） 60 V (สูงสุด จอแสดงผล: 60.0000 V, ความละเอียด: 100 μV) ความแม่นยำพื้นฐาน: ±0.01% rdg ±3 วัน
เวลาตอบสนอง	10 ms
ระยะเวลาสุ่มตัวอย่าง	Ω หรือ V (60 Hz): 4 ms (EX.FAST), 12 ms (FAST), 35 ms (ปานกลาง), 150 ms (ช้า) ΩV (60 Hz): 8 ms (EX.FAST), 24 ms (FAST), 70 ms (ปานกลาง), 253 ms (ช้า) Ω หรือ V (50 Hz): 4 ms (EX.FAST), 12 ms (FAST), 42 ms (ปานกลาง), 157 ms (ช้า) ΩV (50 Hz): 8 ms (EX.FAST), 24 ms (FAST), 84 ms (ปานกลาง), 259 ms (ช้า)
ฟังก์ชั่น	การตรวจสอบการสัมผัส, การปรับค่าศูนย์ (นับ±1000 ครั้ง), การวัดพัลส์, ตัวเปรียบเทียบ (สูง/ IN/ Lo), การคำนวณทางสถิติ (สูงสุด 30,000), ความล่าช้า, ค่าเฉลี่ย, การบันทึก/การโหลดแผงควบคุม, การจัดเก็บหน่วยความจำ, ไดรเวอร์ LabVIEW®
อินเทอร์เฟซ	LAN (TCP/IP, 10BASE-T/100BASE-TX) RS-232C (สูงสุด 38.4 kbps มีให้ในเครื่องพิมพ์ I/F) EXT I/O (อินเทอร์เฟซตัวจัดการ 37 พิน) เอาต์พุตแบบอะนาล็อก (DC 0 V ถึง 3.1 V)
แหล่งจ่ายไฟ	100 ถึง 240 V AC, 50 Hz/60 Hz, สูงสุด 35 VA
ขนาดและน้ำหนัก	กว้าง 215 มม. (8.46 นิ้ว) × สูง 80 มม. (3.15 นิ้ว) × 295 มม. (11.61 นิ้ว) ลึก 2.4 กก. (84.7 ออนซ์)
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย	คู่มือการใช้งาน ×1, สายไฟ ×1, ข้อควรระวังในการใช้งาน ×1