เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM7587
เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ความถี่การวัด 1 MHz ถึง 3 GHz พร้อมความเร็วทดสอบ 0.5 ms และความแปรปรวน 0.07%
เครื่องวัด ฮิโอกิ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์มีตั้งแต่อุปกรณ์ 1 mHz ถึง 3 GHz เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานที่หลากหลายในการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM7587 ให้เวลาในการวัดสูงสุด 0.5 มิลลิวินาทีในช่วงความถี่ 1 MHz ถึง 3 GHz และความเสถียรที่เหนือกว่า ทำให้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวิจัยและพัฒนา รวมถึงการผลิตเม็ดลูกปัดเฟอร์ไรท์และตัวเหนี่ยวนำชิปในปริมาณมาก
การวัด LCR โดยใช้อุปกรณ์ทดสอบ SMD IM9201: เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM7580 series
IM7580 ซีรีส์ประกอบด้วยห้ารุ่นที่ครอบคลุมความถี่ในการวัดตั้งแต่ 1 MHz ถึง 3 GHz เมื่อใช้ร่วมกับชุดทดสอบ IM9201 ซึ่งสามารถรองรับขนาด SMD ได้หกขนาด เครื่องมือซีรีส์ IM7580 ช่วยให้คุณวัดชิ้นงานทดสอบได้อย่างง่ายดายและเชื่อถือได้
คุณสมบัติหลัก
- ความถี่แหล่งกำเนิดการทดสอบ 1 MHz ถึง 3 GHz
- ความเร็วในการทดสอบที่เร็วที่สุด 0.5 มิลลิวินาที (เวลาการวัดแบบแอนะล็อก)
- ความแปรปรวนของค่าที่วัดได้ 0.07% (เมื่อวัดขดลวด 1 nH ที่ 3 GHz)
- ±0.65% rdg. ความแม่นยำพื้นฐาน
- วิธี RF IV
- ตัวเครื่องขนาดครึ่งแร็คและหัวทดสอบขนาดเท่าฝ่ามือ
- การตรวจสอบการติดต่อที่ครอบคลุม (ผ่านการทดสอบ DCR, การปฏิเสธ Hi-Z หรือการตัดสินรูปคลื่น)
- ทำการกวาดความถี่ การกวาดระดับ และการวัดช่วงเวลาในโหมดตัววิเคราะห์
ฟังก์ชันตัวเปรียบเทียบ: เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM7580 series
ฟังก์ชันตัวเปรียบเทียบช่วยให้คุณตรวจสอบว่าค่าที่วัดได้อยู่ในช่วงการพิจารณาที่ผู้ใช้กำหนดหรือไม่ ฟังก์ชันนี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับใช้ในการสร้างคำตัดสิน PASS/FAIL สำหรับตัวอย่าง
ฟังก์ชันตรวจสอบหน้าสัมผัส: เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM7580 series
ฟังก์ชันตรวจสอบการสัมผัสของเครื่องมือช่วยให้คุณตรวจสอบการสัมผัสระหว่างชิ้นงานทดสอบกับขั้วต่อการวัดเพื่อตรวจจับการสัมผัสที่ผิดพลาดหรือตรวจสอบการสัมผัสที่ดี
วิธีเชื่อมต่อหัวทดสอบ: Impedance Analyzer IM7580 series
เชื่อมต่อสายเคเบิลของหัวทดสอบกับเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์
ขันน็อตให้แน่นจนด้ามประแจทอร์คงอเล็กน้อย
อย่าขันแน่นจนเกินไป
ข้อมูลการสมัคร
ดาวน์โหลดแอปพลิเคชันตัวอย่างและดูคู่มือผู้ใช้ Communications Command
ข้อกำหนดพื้นฐาน
โหมดการวัด | โหมด LCR, โหมดเครื่องวิเคราะห์ (กวาดด้วยความถี่ในการวัดและระดับการวัด), โหมดการวัดแบบต่อเนื่อง | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
พารามิเตอร์การวัด | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q | |||||
ช่วงที่วัดได้ | 100 mΩ ถึง 5 kΩ | |||||
ช่วงการแสดงผล | Z: 0.00 ม. ถึง 9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 ม. ถึง 9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n ถึง 9.99999 GH) / Q: ± (0.00 ถึง 9999.99) θ: ± (0.000° ถึง 180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p ถึง 9.99999 GF) D: ± (0.00000 ถึง 9.99999), Y: (0.000 n ถึง 9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n ถึง 9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 % ถึง 999.999 %) |
|||||
ความแม่นยำพื้นฐาน | Z: ±0.65% rdg. θ: ±0.38° | |||||
ความถี่ในการวัด | 1 MHz ถึง 3 GHz (ความละเอียดการตั้งค่า 100 kHz) | |||||
ระดับสัญญาณการวัด | กำลังไฟ: -40.0 dBm ถึง +1.0 dBm แรงดันไฟฟ้า: 4 mV ถึง 502 mVrms ปัจจุบัน: 0.09 mA ถึง 10.04 mArms |
|||||
อิมพีแดนซ์เอาต์พุต | 50 Ω (ที่ 10 MHz) | |||||
การแสดงผล | TFT สี 8.4 นิ้ว พร้อมหน้าจอสัมผัส | |||||
ความเร็วในการวัด | FAST: 0.5 ms (เวลาในการวัดแบบอะนาล็อก ค่าทั่วไป) | |||||
ฟังก์ชั่น | การตรวจสอบการสัมผัส, ตัวเปรียบเทียบ, การวัด BIN (การจัดประเภท), การโหลด/บันทึกพาเนล, ฟังก์ชันหน่วยความจำ, การวิเคราะห์วงจรเทียบเท่า, การชดเชยสหสัมพันธ์ | |||||
อินเทอร์เฟซ | EXT I/O (ตัวจัดการ), การสื่อสาร USB, หน่วยความจำ USB, LAN, RS-232C (อุปกรณ์เสริม), GP-IB (อุปกรณ์เสริม) | |||||
แหล่งจ่ายไฟ | 100 ถึง 240 V AC, 50/60 Hz, สูงสุด 70 VA | |||||
ขนาดและน้ำหนัก | ตัวเครื่อง: กว้าง 215 มม. (8.46 นิ้ว) × 200 มม. (7.87 นิ้ว) สูง × 348 มม. (13.70 นิ้ว) ลึก 8.0 กก. (282.2 ออนซ์) หัวทดสอบ: กว้าง 90 มม. (3.54 นิ้ว) × 64 มม. (2.52 นิ้ว) สูง × 24 มม. (0.94 นิ้ว) ลึก 300 ก. (10.58 ออนซ์) |
|||||
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย | หัวทดสอบ ×1, สายเคเบิลเชื่อมต่อ ×1, คู่มือการใช้งาน ×1, แผ่นดิสก์แอปพลิเคชัน LCR (คู่มือผู้ใช้การสื่อสาร) ×1, สายไฟ ×1 |
Probe and Test fixtures (5)
รวมแว่นขยาย
เปิด/สั้น/โหลด set
การแปลง 3.5 มม. (0.14 นิ้ว) ตัวผู้เป็น 7 มม. (0.28 นิ้ว)
PC communication (4)
สำหรับการควบคุมภายนอก
สำหรับการควบคุมภายนอก
ยาว 2 ม. (6.56 ฟุต)
9 พิน - 9 พิน กากบาท ยาว 1.8 ม. (5.91 ฟุต)