เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM3570

โซลูชันอุปกรณ์เดียวสำหรับการทดสอบความเร็วสูงและการกวาดความถี่

ภาพรวม
คุณสมบัติ
ข้อมูลจำเพาะ
ตัวเลือก
ดาวน์โหลด
แอปพลิเคชั่น

เครื่องวัด ฮิโอกิ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์มีตั้งแต่อุปกรณ์ 1mHz ถึง 3GHz เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานที่หลากหลายในการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ IM3570 เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการใช้งานที่ต้องการการวัดค่า ESR ต่ำตามลำดับหลายมิลลิโอห์ม เช่น การทดสอบตัวเก็บประจุโพลีเมอร์ที่ใช้งานได้ เนื่องจากมีความสามารถในการทำซ้ำอิมพีแดนซ์ต่ำที่เหนือกว่า

วิดีโอสินค้า

คุณสมบัติหลัก

การวัด LCR/DCR/sweep อย่างต่อเนื่องและการทดสอบความเร็วสูงด้วยเครื่องมือเดียว
การทดสอบความเร็วสูง บรรลุความเร็วสูงสุด 1.5ms (1 kHz) และ 0.5ms (100kHz) ในโหมด LCR
การวัดที่มีความแม่นยำสูง ความแม่นยำพื้นฐานของพารามิเตอร์ Z: ±0.08%
เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ที่สมบูรณ์แบบสำหรับการทดสอบลักษณะเรโซแนนซ์ขององค์ประกอบเพียโซอิเล็กทริก การวัด CD และ ESR ต่ำของตัวเก็บประจุโพลีเมอร์ที่ใช้งานได้ การวัด DCR และ LQ ของตัวเหนี่ยวนำ (คอยล์และหม้อแปลง)
ทำการกวาดความถี่ การกวาดระดับ และการวัดช่วงเวลาในโหมดเครื่องวิเคราะห์

หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)

IM3570

ผลิตภัณฑ์นี้ไม่ได้มาพร้อมกับขาวัดหรืออุปกรณ์ทดสอบ โปรดเลือกและซื้อโพรบวัดหรือตัวเลือกฟิกซ์เจอร์ทดสอบที่เหมาะสมกับการใช้งานของคุณต่างหาก สำหรับการเชื่อมต่อ RS-232C: สามารถใช้สายครอสโอเวอร์สำหรับเชื่อมต่อโครงข่ายได้ คุณสามารถใช้ RS-232C CABLE 9637 โดยไม่ต้องใช้การควบคุมการไหลของฮาร์ดแวร์

เครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ IM3570: การวัดลักษณะการสั่นพ้องขององค์ประกอบเพียโซอิเล็กทริก

IM3570 ซึ่งทำหน้าที่เป็นทั้งมิเตอร์ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์ สามารถสร้างการตัดสินว่าผ่าน/ไม่ผ่านบนสภาวะเรโซแนนซ์ได้โดยใช้ฟังก์ชันการวัดการกวาดความถี่และฟังก์ชันเปรียบเทียบค่าสูงสุด และยังดำเนินการตรวจสอบอย่างต่อเนื่องภายใต้สภาวะต่างๆ รวมถึงการตัดสินผ่าน/ไม่ผ่านผ่าน 1 การทดสอบ LCR แบบ kHz และ 120 Hz ด้วยวิธีนี้ สามารถทำทั้งการวัดการกวาดความถี่และการวัด LCR ด้วยเครื่องมือเดียว

ข้อมูลการสมัคร

ดาวน์โหลดแอปพลิเคชันตัวอย่างและดูคู่มือผู้ใช้ Communications Command

คลิกที่นี่เพื่อสมัคร LCR

ข้อมูลการคำนวณความแม่นยำ

คำนวณความแม่นยำเพียงแค่ป้อนค่าตัวเลข

คลิกที่นี่เพื่อคำนวณความถูกต้อง

ข้อกำหนดพื้นฐาน

รับประกันความแม่นยำ: 1 ปี

โหมดการวัด	โหมด LCR, โหมดเครื่องวิเคราะห์ (กวาดด้วยความถี่ในการวัดและระดับการวัด), โหมดการวัดแบบต่อเนื่อง
พารามิเตอร์การวัด	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (ความต้านทาน DC), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
ช่วงการวัด	100 mΩ ถึง 100 MΩ, 12 ช่วง (พารามิเตอร์ทั้งหมดถูกกำหนดตาม Z)
ช่วงการแสดงผล	Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ±(0.000000 [หน่วย] ถึง 9.999999G [หน่วย], การแสดงค่าสัมบูรณ์สำหรับ Z และ Y เท่านั้น θ : ±(0.000° ถึง 180.000°), D : ±(0.000000 ถึง 9.999999) ถาม : ±(0.00 ถึง 99999.99), Δ % : ±(0.0000% ถึง 999.9999%)
ความแม่นยำพื้นฐาน	Z ±0.08% rdg. θ: ±0.05°
ความถี่ในการวัด	4 Hz ถึง 5 MHz (ความละเอียดการตั้งค่า 5 หลัก ความละเอียดขั้นต่ำ 10 mHz)
ระดับสัญญาณการวัด	โหมดปกติ: โหมด V/โหมด CV: 5 mV ถึง 5 Vrms (สูงสุด 1 MHz) 10 mV ถึง 1 Vrms (1.001 MHz ถึง 5 MHz), 1 mVrms ขั้นตอน โหมด CC: 10 μA ถึง 50 mArms (สูงสุด 1 MHz) 10 μA ถึง 10 mArms (1.001 MHz ถึง 5 MHz), 10 μArms steps โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: โหมด V/โหมด CV: 5 mV ถึง 1 Vrms (สูงสุด 100 kHz), 1 mVrms ขั้น โหมด CC:10 μA ถึง 100 mArms (ช่วง 100 mΩ และ 1Ω สูงถึง 100 kHz) ขั้นบันได 10 μArms
อิมพีแดนซ์เอาต์พุต	โหมดปกติ: 100 Ω, โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: 10 Ω
การแสดงผล	หน้าจอสี TFT ขนาด 5.7 นิ้ว สามารถตั้งค่าการแสดงผลเป็นเปิด/ปิดได้
เวลาในการวัด	0.5 ms (100 kHz, FAST, ปิดการแสดงผล, ค่าตัวแทน)
ฟังก์ชั่น	การวัดอคติ DC, ตัวเปรียบเทียบ, การวัด BIN (การจัดประเภท), การโหลด/บันทึกพาเนล, ฟังก์ชันหน่วยความจำ
อินเทอร์เฟซ	EXT I/O (ตัวจัดการ), RS-232C, GP-IB, การสื่อสาร USB, หน่วยความจำ USB, LAN
แหล่งจ่ายไฟ	90 ถึง 264 V AC, 50/60 Hz, สูงสุด 150 VA
ขนาดและน้ำหนัก	กว้าง 330 มม. (12.99 นิ้ว) × 119 มม. (4.69 นิ้ว) สูง × 307 มม. (12.09 นิ้ว) ลึก 5.8 กก. (204.6 ออนซ์)
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย	สายไฟ × 1, คู่มือการใช้งาน × 1, คู่มือการใช้งานการสื่อสาร PC (CD-R) × 1

Probe and Test fixtures (15)

เมื่อใช้ 9268-10 หรือ 9269-10 จำเป็นต้องใช้แหล่งแรงดันคงที่ภายนอกและกระแสคงที่

ชุดทดสอบ SMD IM9100

เรียนรู้เพิ่มเติม

• การทดสอบการเชื่อมต่อโดยตรง
• ทดสอบ SMDs ด้วยขั้วไฟฟ้าที่ด้านล่าง
• DC ถึง 8MHz（สามารถวัดได้สูงสุด 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นคำสั่งพิเศษ IM3536-01）
• ขนาดตัวอย่างที่วัดได้: เมตริก (นิ้ว): 0402 (01005), 0603 (0201), 1005 (0402)

ชุดทดสอบ SMD IM9110

เรียนรู้เพิ่มเติม

• สำหรับการทดสอบสองสายเชื่อมต่อโดยตรง
• DC ถึง 1 MHz
• ขนาดตัวอย่างที่วัดได้: 008004 (นิ้ว)

เคล็ดลับการติดต่อ IM9901

เพื่อแทนที่ทิปบน L2001 ขนาดปกติ ที่มาพร้อมกับ L2001

เคล็ดลับการติดต่อ IM9902

หากต้องการเปลี่ยนทิปบน L2001 ขนาดเล็ก

โพรบ 4-TERMINAL L2000

ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01), ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 5 มม. (0.20 นิ้ว)

พินเชอร์โพรบ L2001

เรียนรู้เพิ่มเติม

• DC ถึง 8MHz การสิ้นสุด 50Ω
• ระยะห่างของอิเล็กโทรดทิป: 0.3 ถึง 6 mm
• ขนาดตัวอย่างที่วัดได้: 0201 ถึง 2220 (นิ้ว)

โพรบ 4-TERMINAL 9140-10

ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 200 kHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 5 มม. (0.20 นิ้ว)

ชุดทดสอบ 9261-10

ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 8 MHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)

ชุดทดสอบ 9262

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)

ชุดทดสอบ SMD 9263

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) ขนาดตัวอย่างทดสอบ:1 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 10 มม. (0.39 นิ้ว)

DC BIAS โวลเตจยูนิต UNIT

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง, 40 Hz ถึง 8 MHz, แรงดันไฟฟ้าที่ใช้สูงสุด DC ±40 V

DC BIAS UNIT ปัจจุบัน 9269-10

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง 40 Hz ถึง 2 MHz กระแสไฟสูงสุดที่ใช้ DC 2 A

โพรบ 4-TERMINAL 9500-10

ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 200 kHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: φ0.3 มม. (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)

ชุดทดสอบ SMD 9677

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านข้าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: 3.5 มม. ±0.5 มม. (0.14 นิ้ว ±0.02 นิ้ว)

ชุดทดสอบ SMD 9699

ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านล่าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: กว้าง 1.0 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 4.0 มม. (0.16 นิ้ว) สูงสุด สูง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)

Factory-installed option (1)

ลูกค้าที่ซื้อ Impedance Analyzer IM3570 สามารถเพิ่มฟังก์ชัน Equivalent Circuit Analysis Firmware IM9000 ได้ โปรดติดต่อผู้จัดจำหน่ายหรือตัวแทนจำหน่าย ฮิโอกิ ที่ได้รับอนุญาตของคุณ

การวิเคราะห์วงจรสมมูล เฟิร์มแวร์ IM9000

เรียนรู้เพิ่มเติม

• การอัพเกรดซอฟต์แวร์เสริมสำหรับรุ่น IM3570
• 5 รุ่นวงจรสมมูล
• คำนวณลักษณะความถี่ในอุดมคติและเปรียบเทียบกับค่าที่วัดได้
• พล็อตโคล-โคล แสดงวงกลมอนุญาติ