ANALIZADOR DE IMPEDANCIA IM3570

Solución de dispositivo único para pruebas de alta velocidad y barrido de frecuencia

Resumen
Características
Especificaciones
Opciones
Descargas
Aplicaciones

Los medidores y analizadores de impedancia Hioki LCR van desde dispositivos de 1 mHz a 3 GHz para adaptarse a una amplia gama de aplicaciones en la prueba de componentes electrónicos. El IM3570 es ideal para usar en aplicaciones que requieren mediciones de ESR bajas del orden de varios miliohmios, por ejemplo, pruebas de capacitores de polímero funcionales, debido a su repetibilidad superior de baja impedancia.

Vídeo del producto

Características principales

Mediciones continuas de LCR/DCR/barrido y pruebas de alta velocidad logradas con un solo instrumento
Pruebas de alta velocidad, alcanzando velocidades máximas de 1,5 ms (1 kHz) y 0,5 ms (100 kHz) en modo LCR
Mediciones de alta precisión, precisión básica del parámetro Z: ±0.08%
Analizador de impedancia perfecto para probar las características de resonancia de elementos piezoeléctricos, medición de CD y baja ESR de capacitores de polímero funcionales, medición de DCR y LQ de inductores (bobinas y transformadores)
Realice barridos de frecuencia, barridos de nivel y mediciones de intervalos de tiempo en modo analizador

Nº de modelo (código de pedido)

IM3570

Este producto no se suministra con sondas de medición ni accesorios de prueba. Seleccione y compre la sonda de medición o las opciones de dispositivo de prueba adecuadas para su aplicación por separado. Para una conexión RS-232C: Se puede utilizar un cable cruzado para la interconexión. Puede utilizar el CABLE RS-232C 9637 sin control de flujo de hardware.

Analizador de impedancia IM3570: Medición de las características de resonancia de un elemento piezoeléctrico

El IM3570, que sirve como medidor LCR y analizador de impedancia, puede generar juicios de aprobación/rechazo en la condición de resonancia utilizando sus funciones de comparación de picos y medición de barrido de frecuencia, y también realiza inspecciones continuas en diferentes condiciones, incluidas las decisiones de aprobación/rechazo a través de 1 Pruebas LCR de kHz y 120 Hz. De esta forma, es posible realizar tanto la medición de barrido de frecuencia como la medición de LCR con un solo instrumento.

Información de la aplicación

Descargue la aplicación de muestra y vea el Manual del usuario del comando de comunicaciones.

Haga clic aquí para la aplicación LCR.

Información de cálculo de precisión

Calcule la precisión simplemente ingresando un valor numérico.

Haga clic aquí para calcular la precisión.

Especificaciones básicas

Precisión garantizada: 1 año

Modos de medición	Modo LCR, modo Analizador (barridos con frecuencia de medición y nivel de medición), modo de medición continua
Parámetros de medición	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (resistencia CC), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Rango de medicion	100 mΩ a 100 MΩ, 12 rangos (Todos los parámetros se determinan según Z)
Rango de visualización	Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp: ±(0,000000 [unidad] a 9,999999G [unidad], visualización de valor absoluto solo para Z e Y θ : ±(0,000° a 180,000°), D : ±(0,000000 a 9,999999) Q : ±(0,00 a 99999,99), Δ % : ±(0,0000 % a 999,9999 %)
Precisión básica	Z ±0,08 % de lectura. θ: ±0,05°
Frecuencia de medición	4 Hz a 5 MHz (resolución de ajuste de 5 dígitos, resolución mínima 10 MHz)
Nivel de señal de medición	Modo normal: Modo V/modo CV: 5 mV a 5 Vrms (hasta 1 MHz) 10 mV a 1 Vrms (1,0001 MHz a 5 MHz), pasos de 1 mVrms Modo CC: 10 μA a 50 mArms (hasta 1 MHz) 10 μA a 10 mArms (1,0001 MHz a 5 MHz), pasos de 10 μArms Modo de alta precisión de baja impedancia: Modo V/modo CV: 5 mV a 1 Vrms (hasta 100 kHz), pasos de 1 mVrms Modo CC: 10 μA a 100 mArms (rango de 100 mΩ y 1 Ω de hasta 100 kHz), pasos de 10 μArms
Impedancia de salida	Modo normal: 100 Ω, modo de alta precisión de baja impedancia: 10 Ω
Mostrar	TFT a color de 5,7 pulgadas, la pantalla se puede encender/apagar
Tiempo de medición	0,5 ms (100 kHz, RÁPIDO, pantalla APAGADA, valor representativo)
Funciones	Medición de polarización de CC, comparador, medición de BIN (clasificación), carga/guardado del panel, función de memoria
Interfaces	E/S EXT (controlador), RS-232C, GP-IB, comunicación USB, memoria USB, LAN
Alimentación	90 a 264 V CA, 50/60 Hz, 150 VA máx.
Dimensiones y masa	330 mm (12,99 pulgadas) de ancho × 119 mm (4,69 pulgadas) de alto × 307 mm (12,09 pulgadas) de profundidad, 5,8 kg (204,6 onzas)
Accesorios incluidos	Cable de alimentación × 1, Manual de instrucciones × 1, Manual de instrucciones de comunicación con PC (CD-R) × 1

Probe and Test fixtures (15)

Cuando se utiliza el 9268-10 o el 9269-10, se requieren fuentes externas de voltaje constante y corriente constante.

APARATO DE PRUEBA SMD IM9100

Más información

• Pruebas de conexión directa
• Pruebe SMD con electrodos en la parte inferior
• CC a 8 MHz (se puede medir hasta 10 MHz, cuando se combina con el modelo de pedido especial IM3536-01)
• Tamaños de muestra medibles: Métrico (pulgadas): 0402 (01005), 0603 (0201), 1005 (0402)

ACCESORIO DE PRUEBA SMD 9699

Tipo de conexión directa, para medir SMD con electrodos en la parte inferior; CC a 120 MHz, dimensiones de la muestra de prueba: 1,0 mm (0,04 in) a 4,0 mm (0,16 in) de ancho, máx. 1,5 mm (0,06 pulgadas) de alto

SONDA 4 TERMINALES L2000

Longitud del cable de 1 m (3,28 pies), CC a 8 MHz (se puede medir hasta 10 MHz, cuando se combina con el modelo de pedido especial IM3536-01), características de impedancia de 50 Ω, configuración de par de 4 terminales, diámetro de conductor medible: ø0,3 (0,01 pulg.) a 5 mm (0,20 pulg.)

SONDA 4 TERMINALES 9140-10

Longitud del cable 1 m (3,28 pies), CC a 200 kHz, características de impedancia de 50 Ω, configuración de par de 4 terminales, diámetro del conductor medible: ø0,3 (0,01 pulg.) a 5 mm (0,20 pulg.)

ACCESORIO DE PRUEBA SMD 9677

Tipo de conexión directa, para medir SMD con electrodos en el lateral; CC a 120 MHz, dimensiones de la muestra de prueba: 3,5 mm ±0,5 mm (0,14 pulg. ±0,02 pulg.)

CONSEJOS DE CONTACTO IM9902

Para reemplazar la punta en el L2001, tamaño pequeño

APARATO DE PRUEBA 9261-10

Longitud del cable 1 m (3,28 pies), CC a 8 MHz, características de impedancia de 50 Ω, configuración de par de 4 terminales, diámetro del conductor medible: ø0,3 (0,01 pulg.) a 1,5 mm (0,06 pulg.)

SONDA PINZADOR L2001

Más información

• CC a 8 MHz, terminación de 50 Ω
• Distancia entre electrodos de punta: 0,3 a 6 mm
• Tamaño de muestra medible: 0603 (EIA)

Unidad CORRIENTE DE POLARIZACIÓN CC 9269-10

Tipo de conexión directa, de 40 Hz a 2 MHz, corriente máxima aplicada de CC 2 A

Unidad DE TENSIÓN DE BIAS DE CC 9268-10

Tipo de conexión directa, de 40 Hz a 8 MHz, tensión máxima aplicada de CC ±40 V

APARATO DE PRUEBA 9262

Tipo de conexión directa, CC a 8 MHz (se puede medir hasta 10 MHz, cuando se combina con el modelo de pedido especial IM3536-01), diámetro del conductor medible: ø0,3 (0,01 in) a 2 mm (0,08 in)

ACCESORIO DE PRUEBA SMD 9263

Tipo de conexión directa, CC a 8 MHz (se puede medir hasta 10 MHz, cuando se combina con el modelo de pedido especial IM3536-01), dimensiones de la muestra de prueba: 1 mm (0,04 in) a 10 mm (0,39 in)

SONDA 4 TERMINALES 9500-10

Longitud del cable 1 m (3,28 pies), CC a 200 kHz, características de impedancia de 50 Ω, diámetro del conductor medible: φ0,3 mm (0,01 pulg.) a 2 mm (0,08 pulg.)

CONSEJOS DE CONTACTO IM9901

Para reemplazar la punta en el L2001, tamaño regular, incluido con el L2001

APARATO DE PRUEBA SMD IM9110

Más información

• Para pruebas de dos hilos de conexión directa
• CC a 1 MHz
• Tamaño de muestra medible: 008004 (pulgadas)

Factory-installed option (1)

Los clientes que hayan comprado el analizador de impedancia IM3570 pueden agregar la función de firmware de análisis de circuito equivalente IM9000. Póngase en contacto con su distribuidor o revendedor autorizado de Hioki.

FIRMWARE DE ANÁLISIS DE CIRCUITO EQUIVALENTE IM9000

Más información

• Actualización de software opcional para el modelo IM3570
• 5 modelos de circuitos equivalentes
• Calcule las características de frecuencia ideales y compárelas con los valores medidos
• Gráfica Cole-Cole, visualización del círculo de admitancia