เครื่องวัดแอลซีอาร์ IM3536
เครื่องวัด LCR สำหรับงานทั่วไปที่มีความถี่การวัดจาก DC, 4 Hz ถึง 8 MHz
เครื่องวัด ฮิโอกิ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์มีตั้งแต่อุปกรณ์ 1mHz ถึง 3GHz เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานที่หลากหลายในการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ IM3536 ยกระดับมาตรฐานอุตสาหกรรมสำหรับมิเตอร์ LCR ที่ใช้งานทั่วไปโดยนำเสนอความถี่การทดสอบ DC กว้างและ 4 Hz ถึง 8 MHz (*1) ในขณะที่ให้ความแม่นยำ 0.05% เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการประเมินคุณสมบัติของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ยุคหน้า รวมถึงตัวเหนี่ยวนำการจ่ายไฟ ด้วยความถี่ในการวัดสูงสุดของเครื่องมือที่ 8 MHz (*1)
คุณสมบัติหลัก
- DC, 4 Hz ถึง 8 MHz (*1) ความถี่ในการวัด
- การวัดความเร็วสูง 1 ms (เวลาที่เร็วที่สุด)
- การวัดความแม่นยำสูงที่ ±0.05% rdg (ค่าตัวแทน)
- ช่วงความแม่นยำที่รับประกันตั้งแต่ 1 mΩ การวัดอิมพีแดนซ์ต่ำพร้อมความสามารถในการทำซ้ำที่ไม่มีใครเทียบได้
- ฟังก์ชัน DC bias: วัดภายใต้สภาวะจำลองการใช้งานจริงหรือตามมาตรฐานอุตสาหกรรม
- ข้อมูลจำเพาะที่ยอดเยี่ยมและประสิทธิภาพด้านต้นทุนสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย ตั้งแต่ R&D ไปจนถึงสายการผลิต
- *1: ปรับแต่งได้สูงสุด 10 MHz (สั่งพิเศษได้) โปรดติดต่อผู้จัดจำหน่ายหรือผู้ค้าปลีกที่ได้รับอนุญาตของ ฮิโอกิ สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม
หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)
IM3536 | |
---|---|
IM3536-01 | ปรับแต่งได้สูงสุด 10 MHz (สั่งพิเศษ) |
สำหรับการเชื่อมต่อ RS-232C: สามารถใช้สายครอสโอเวอร์สำหรับเชื่อมต่อโครงข่ายได้ คุณสามารถใช้ RS-232C CABLE 9637 โดยไม่ต้องใช้การควบคุมการไหลของฮาร์ดแวร์
การวัดความจุของตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าด้วย ฮิโอกิ LCR Meters
เงื่อนไขการวัดตามที่กำหนดความจุของตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าถูกกำหนดโดยมาตรฐาน IEC อย่างไรก็ตาม เนื่องจากความจุของตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าจะแปรผันอย่างมากตามความถี่ในการวัด ค่าความจุจะถูกตรวจสอบที่ความถี่ที่สอดคล้องกับสภาวะของวงจรที่จะใช้งานส่วนประกอบจริง ความถี่ในการวัดของ LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้หลากหลายค่า (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz) ทำให้เครื่องมือนี้เหมาะสำหรับการประเมินส่วนประกอบภายใต้สภาวะการใช้งานจริง
การวัดค่าความจุของตัวเก็บประจุแบบเซรามิกด้วย ฮิโอกิ LCR Meters
ตัวเก็บประจุเซรามิกเคลือบมีสองประเภท: ชนิดอิเล็กทริกสูง ซึ่งความจุแตกต่างกันไปตามแรงดันการวัด และชนิดแก้ไขอุณหภูมิ ซึ่งความจุไม่แตกต่างกัน เงื่อนไขการวัดภายใต้การกำหนดความจุนั้นกำหนดโดยมาตรฐาน IEC แยกต่างหากสำหรับส่วนประกอบทั้งสองประเภท ความถี่ในการวัดและแรงดันไฟฟ้าของเครื่องวัด LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้ในช่วงกว้างของค่าต่างๆ (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz และ 10 mV ถึง 5 V ตามลำดับ) ทำให้เครื่องมือนี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดตัวเก็บประจุเซรามิกเคลือบภายใต้สภาวะต่างๆ เงื่อนไข.
การวัดค่าความเหนี่ยวนำของตัวเหนี่ยวนำหรือขดลวดด้วย ฮิโอกิ LCR Meters
ปรากฏการณ์ของเรโซแนนซ์ LC ที่อิงจากการเหนี่ยวนำของตัวเหนี่ยวนำ (หรือคอยล์) และความจุกาฝากของคอยล์นั้นเรียกว่าการสะท้อนในตัวเอง และความถี่ที่เกิดเรโซแนนซ์ในตัวเองนั้นเรียกว่าความถี่เรโซแนนซ์ในตัวเอง เมื่อทำการประเมินขดลวด ให้วัด L และ Q ที่ความถี่ที่ต่ำกว่าความถี่เรโซแนนซ์ตัวเองอย่างเพียงพอ ความถี่ในการวัดของ LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้หลากหลายค่า (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz) ทำให้เครื่องมือนี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดและประเมินส่วนประกอบในขณะที่ความถี่ต่างกันไป
การวัดลักษณะความถี่ของตัวเหนี่ยวนำบนเครื่องวัด ฮิโอกิ LCR
ความถี่ในการวัดของ LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้หลากหลายค่า (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz) ทำให้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดและประเมินส่วนประกอบในขณะที่ความถี่ต่างกัน คุณสามารถติดตั้งซอฟต์แวร์แอปพลิเคชันตัวอย่าง LCR (CD-R) ที่รวมไว้บนคอมพิวเตอร์และใช้งานผ่านอินเทอร์เฟซของเครื่องมือ (USB, GP-IB หรือ RS-232C) เพื่อเปลี่ยนความถี่ที่จุดที่กำหนดและเพื่อบันทึกข้อมูลที่ได้รับจากระบบอัตโนมัติ การวัดเป็น Microsoft Excel หรือไฟล์ข้อความ
ข้อมูลการสมัคร
ดาวน์โหลดแอปพลิเคชันตัวอย่างและดูคู่มือผู้ใช้ Communications Command
ข้อกำหนดพื้นฐาน
โหมดการวัด | LCR (การวัดด้วยเงื่อนไขเดียว), การทดสอบอย่างต่อเนื่อง (การวัดอย่างต่อเนื่องภายใต้สภาวะที่บันทึกไว้) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
พารามิเตอร์การวัด | Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (ความต้านทานกระแสตรง), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε | |||||
ช่วงการวัด | 100 mΩ ถึง 100 MΩ, 10 ช่วง (พารามิเตอร์ทั้งหมดถูกกำหนดตาม Z) | |||||
ช่วงการแสดงผล | Z: 0.00 ม. ถึง 9.99999 GΩ, Y: 0.000 n ถึง 9.99999 GS, θ: ± (0.000° ถึง 180.000°), Q: ± (0.00 ถึง 9999.99), Rdc: ± (0.00 ม. ถึง 9.99999 GΩ), D: ± (0.00000 ถึง 9.99999), Δ%: ± (0.000 % ถึง 999.999 %) หรืออื่นๆ |
|||||
ความแม่นยำพื้นฐาน | Z ±0.05% rdg. θ: ±0.03° (ค่าตัวแทน ช่วงที่วัดได้: 1 mΩ ถึง 200 MΩ) | |||||
ความถี่ในการวัด | 4 Hz ถึง 8 MHz (ความละเอียดการตั้งค่า 5 หลัก ความละเอียดขั้นต่ำ 10 mHz) | |||||
ระดับสัญญาณการวัด | [โหมดปกติ: โหมด V/โหมด CV] 4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 mV ถึง 5 Vrms (สูงสุด 50 mArms) 1.0001 MHz ถึง 8 MHz: 10 mV ถึง 1 Vrms (สูงสุด 10mArms) [โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: โหมด V/โหมด CV] 4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 mV ถึง 1 Vrms (สูงสุด 100 mArms) [โหมดปกติ: โหมด CC] 4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 μA ถึง 50 mArms (สูงสุด 5 Vrms) 1.0001 MHz ถึง 8 MHz: 10 μA ถึง 10 mArms (สูงสุด 1 Vrms) [โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: โหมด CC] 4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 μA ถึง 100 mArms (สูงสุด 1 Vrms) [การวัดความต้านทานกระแสตรง] ระดับสัญญาณการวัด: แก้ไขที่ 1 V |
|||||
การวัดอคติ DC | ช่วงการสร้าง: แรงดันไฟฟ้า DC 0 V ถึง 2.50 V (ความละเอียด 10 mV) ในโหมดความแม่นยำสูง Z ต่ำ: 0 V ถึง 1 V (ความละเอียด 10 mV) |
|||||
อิมพีแดนซ์เอาต์พุต | โหมดปกติ: 100 Ω, โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: 10 Ω | |||||
การแสดงผล | TFT สี 5.7 นิ้ว พร้อมแผงสัมผัส | |||||
ฟังก์ชั่น | เครื่องเปรียบเทียบ, การวัด BIN (10 หมวดหมู่สำหรับ 2 พารามิเตอร์การวัด), ฟังก์ชันทริกเกอร์, การชดเชยการเปิด/ช็อต, การตรวจสอบการสัมผัส, การโหลด/บันทึกแผงควบคุม, ฟังก์ชันหน่วยความจำ | |||||
อินเทอร์เฟซ | ต่อ I/O( ตัวจัดการ), USB, แฟลชไดรฟ์ USB, LAN, GP-IB, RS-232C, BCD | |||||
แหล่งจ่ายไฟ | 100 ถึง 240 V AC, 50/60 Hz, สูงสุด 50 VA | |||||
ขนาดและน้ำหนัก | กว้าง 330 มม. (12.99 นิ้ว) × 119 มม. (4.69 นิ้ว) สูง × 230 มม. (9.06 นิ้ว) ลึก 4.2 กก. (148.1 ออนซ์) | |||||
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย | สายไฟ ×1, คู่มือการใช้งาน ×1, แผ่นดิสก์แอปพลิเคชัน LCR (คู่มือผู้ใช้การสื่อสาร) ×1 |
Probe and Test fixtures (15)
เมื่อใช้ 9268-10 หรือ 9269-10 จำเป็นต้องใช้แหล่งแรงดันคงที่ภายนอกและกระแสคงที่
เพื่อแทนที่ทิปบน L2001 ขนาดปกติ ที่มาพร้อมกับ L2001
หากต้องการเปลี่ยนทิปบน L2001 ขนาดเล็ก
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01), ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 5 มม. (0.20 นิ้ว)
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 200 kHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 5 มม. (0.20 นิ้ว)
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 8 MHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) ขนาดตัวอย่างทดสอบ:1 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 10 มม. (0.39 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง, 40 Hz ถึง 8 MHz, แรงดันไฟฟ้าที่ใช้สูงสุด DC ±40 V
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง 40 Hz ถึง 2 MHz กระแสไฟสูงสุดที่ใช้ DC 2 A
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 200 kHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: φ0.3 มม. (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านข้าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: 3.5 มม. ±0.5 มม. (0.14 นิ้ว ±0.02 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านล่าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: กว้าง 1.0 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 4.0 มม. (0.16 นิ้ว) สูงสุด สูง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)
PC communication (2)
ยาว 2 ม. (6.56 ฟุต)
9 พิน - 9 พิน กากบาท ยาว 1.8 ม. (5.91 ฟุต)
- การประเมินอุณหภูมิของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ตามมาตรฐาน AEC-Q200
- การทดสอบอคติ DC ของตัวเหนี่ยวนำโดยใช้เครื่องวัด LCR และแหล่งพลังงาน DC
- บทบาทของตัวแยกในแบตเตอรี่ลิเธียมไอออนและการทดสอบการปิดเครื่อง
- IEC 60851-5 การทดสอบขดลวดไดอิเล็กตริกแทนเจนต์ (tanδ) ที่คดเคี้ยว
- การทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กตริกและลักษณะอุณหภูมิแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กตริกในวัสดุฉนวนไฟฟ้า
- การวัดลักษณะเซมิคอนดักเตอร์และไดโอด CV อย่างง่าย
- การวัดลักษณะอคติของแรงดันไฟตรงในตัวเก็บประจุแบบเซรามิกหลายชั้น (MLCC)