เครื่องวัดแอลซีอาร์ IM3536

เครื่องวัด LCR สำหรับงานทั่วไปที่มีความถี่การวัดจาก DC, 4 Hz ถึง 8 MHz

เครื่องวัด ฮิโอกิ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์มีตั้งแต่อุปกรณ์ 1mHz ถึง 3GHz เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานที่หลากหลายในการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ IM3536 ยกระดับมาตรฐานอุตสาหกรรมสำหรับมิเตอร์ LCR ที่ใช้งานทั่วไปโดยนำเสนอความถี่การทดสอบ DC กว้างและ 4 Hz ถึง 8 MHz (*1) ในขณะที่ให้ความแม่นยำ 0.05% เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการประเมินคุณสมบัติของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ยุคหน้า รวมถึงตัวเหนี่ยวนำการจ่ายไฟ ด้วยความถี่ในการวัดสูงสุดของเครื่องมือที่ 8 MHz (*1)

คุณสมบัติหลัก

  • DC, 4 Hz ถึง 8 MHz (*1) ความถี่ในการวัด
  • การวัดความเร็วสูง 1 ms (เวลาที่เร็วที่สุด)
  • การวัดความแม่นยำสูงที่ ±0.05% rdg (ค่าตัวแทน)
  • ช่วงความแม่นยำที่รับประกันตั้งแต่ 1 mΩ การวัดอิมพีแดนซ์ต่ำพร้อมความสามารถในการทำซ้ำที่ไม่มีใครเทียบได้
  • ฟังก์ชัน DC bias: วัดภายใต้สภาวะจำลองการใช้งานจริงหรือตามมาตรฐานอุตสาหกรรม
  • ข้อมูลจำเพาะที่ยอดเยี่ยมและประสิทธิภาพด้านต้นทุนสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย ตั้งแต่ R&D ไปจนถึงสายการผลิต
  • *1: ปรับแต่งได้สูงสุด 10 MHz (สั่งพิเศษได้) โปรดติดต่อผู้จัดจำหน่ายหรือผู้ค้าปลีกที่ได้รับอนุญาตของ ฮิโอกิ สำหรับข้อมูลเพิ่มเติม

หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)

IM3536
IM3536-01 ปรับแต่งได้สูงสุด 10 MHz (สั่งพิเศษ)
ผลิตภัณฑ์นี้ไม่ได้มาพร้อมกับขาวัดหรืออุปกรณ์ทดสอบ โปรดเลือกและซื้อโพรบวัดหรือตัวเลือกฟิกซ์เจอร์ทดสอบที่เหมาะสมกับการใช้งานของคุณต่างหาก โพรบทั้งหมดสร้างด้วยสายโคแอกเชียล 1.5D-2V
สำหรับการเชื่อมต่อ RS-232C: สามารถใช้สายครอสโอเวอร์สำหรับเชื่อมต่อโครงข่ายได้ คุณสามารถใช้ RS-232C CABLE 9637 โดยไม่ต้องใช้การควบคุมการไหลของฮาร์ดแวร์

การวัดความจุของตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าด้วย ฮิโอกิ LCR Meters

เงื่อนไขการวัดตามที่กำหนดความจุของตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าถูกกำหนดโดยมาตรฐาน IEC อย่างไรก็ตาม เนื่องจากความจุของตัวเก็บประจุด้วยไฟฟ้าจะแปรผันอย่างมากตามความถี่ในการวัด ค่าความจุจะถูกตรวจสอบที่ความถี่ที่สอดคล้องกับสภาวะของวงจรที่จะใช้งานส่วนประกอบจริง ความถี่ในการวัดของ LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้หลากหลายค่า (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz) ทำให้เครื่องมือนี้เหมาะสำหรับการประเมินส่วนประกอบภายใต้สภาวะการใช้งานจริง

การวัดค่าความจุของตัวเก็บประจุแบบเซรามิกด้วย ฮิโอกิ LCR Meters

ตัวเก็บประจุเซรามิกเคลือบมีสองประเภท: ชนิดอิเล็กทริกสูง ซึ่งความจุแตกต่างกันไปตามแรงดันการวัด และชนิดแก้ไขอุณหภูมิ ซึ่งความจุไม่แตกต่างกัน เงื่อนไขการวัดภายใต้การกำหนดความจุนั้นกำหนดโดยมาตรฐาน IEC แยกต่างหากสำหรับส่วนประกอบทั้งสองประเภท ความถี่ในการวัดและแรงดันไฟฟ้าของเครื่องวัด LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้ในช่วงกว้างของค่าต่างๆ (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz และ 10 mV ถึง 5 V ตามลำดับ) ทำให้เครื่องมือนี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดตัวเก็บประจุเซรามิกเคลือบภายใต้สภาวะต่างๆ เงื่อนไข.

การวัดค่าความเหนี่ยวนำของตัวเหนี่ยวนำหรือขดลวดด้วย ฮิโอกิ LCR Meters

ปรากฏการณ์ของเรโซแนนซ์ LC ที่อิงจากการเหนี่ยวนำของตัวเหนี่ยวนำ (หรือคอยล์) และความจุกาฝากของคอยล์นั้นเรียกว่าการสะท้อนในตัวเอง และความถี่ที่เกิดเรโซแนนซ์ในตัวเองนั้นเรียกว่าความถี่เรโซแนนซ์ในตัวเอง เมื่อทำการประเมินขดลวด ให้วัด L และ Q ที่ความถี่ที่ต่ำกว่าความถี่เรโซแนนซ์ตัวเองอย่างเพียงพอ ความถี่ในการวัดของ LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้หลากหลายค่า (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz) ทำให้เครื่องมือนี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดและประเมินส่วนประกอบในขณะที่ความถี่ต่างกันไป

การวัดลักษณะความถี่ของตัวเหนี่ยวนำบนเครื่องวัด ฮิโอกิ LCR

ความถี่ในการวัดของ LCR Meter IM3536 สามารถตั้งค่าได้หลากหลายค่า (DC และ 4 Hz ถึง 8 MHz) ทำให้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการวัดและประเมินส่วนประกอบในขณะที่ความถี่ต่างกัน คุณสามารถติดตั้งซอฟต์แวร์แอปพลิเคชันตัวอย่าง LCR (CD-R) ที่รวมไว้บนคอมพิวเตอร์และใช้งานผ่านอินเทอร์เฟซของเครื่องมือ (USB, GP-IB หรือ RS-232C) เพื่อเปลี่ยนความถี่ที่จุดที่กำหนดและเพื่อบันทึกข้อมูลที่ได้รับจากระบบอัตโนมัติ การวัดเป็น Microsoft Excel หรือไฟล์ข้อความ

ข้อมูลการสมัคร

ดาวน์โหลดแอปพลิเคชันตัวอย่างและดูคู่มือผู้ใช้ Communications Command

คลิกที่นี่เพื่อสมัคร LCR

ข้อมูลการคำนวณความแม่นยำ

คำนวณความแม่นยำเพียงแค่ป้อนค่าตัวเลข

คลิกที่นี่เพื่อคำนวณความถูกต้อง

ข้อกำหนดพื้นฐาน

รับประกันความแม่นยำ: 1 ปี
โหมดการวัด LCR (การวัดด้วยเงื่อนไขเดียว), การทดสอบอย่างต่อเนื่อง (การวัดอย่างต่อเนื่องภายใต้สภาวะที่บันทึกไว้)
พารามิเตอร์การวัด Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (ความต้านทานกระแสตรง), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
ช่วงการวัด 100 mΩ ถึง 100 MΩ, 10 ช่วง (พารามิเตอร์ทั้งหมดถูกกำหนดตาม Z)
ช่วงการแสดงผล Z: 0.00 ม. ถึง 9.99999 GΩ, Y: 0.000 n ถึง 9.99999 GS, θ: ± (0.000° ถึง 180.000°), Q: ± (0.00 ถึง 9999.99), Rdc: ± (0.00 ม. ถึง 9.99999 GΩ),
D: ± (0.00000 ถึง 9.99999), Δ%: ± (0.000 % ถึง 999.999 %) หรืออื่นๆ
ความแม่นยำพื้นฐาน Z ±0.05% rdg. θ: ±0.03° (ค่าตัวแทน ช่วงที่วัดได้: 1 mΩ ถึง 200 MΩ)
ความถี่ในการวัด 4 Hz ถึง 8 MHz (ความละเอียดการตั้งค่า 5 หลัก ความละเอียดขั้นต่ำ 10 mHz)
ระดับสัญญาณการวัด [โหมดปกติ: โหมด V/โหมด CV]
4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 mV ถึง 5 Vrms (สูงสุด 50 mArms)
1.0001 MHz ถึง 8 MHz: 10 mV ถึง 1 Vrms (สูงสุด 10mArms)
[โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: โหมด V/โหมด CV]
4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 mV ถึง 1 Vrms (สูงสุด 100 mArms)
[โหมดปกติ: โหมด CC]
4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 μA ถึง 50 mArms (สูงสุด 5 Vrms)
1.0001 MHz ถึง 8 MHz: 10 μA ถึง 10 mArms (สูงสุด 1 Vrms)
[โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: โหมด CC]
4 Hz ถึง 1.0000 MHz: 10 μA ถึง 100 mArms (สูงสุด 1 Vrms)
[การวัดความต้านทานกระแสตรง]
ระดับสัญญาณการวัด: แก้ไขที่ 1 V
การวัดอคติ DC ช่วงการสร้าง: แรงดันไฟฟ้า DC 0 V ถึง 2.50 V (ความละเอียด 10 mV)
ในโหมดความแม่นยำสูง Z ต่ำ: 0 V ถึง 1 V (ความละเอียด 10 mV)
อิมพีแดนซ์เอาต์พุต โหมดปกติ: 100 Ω, โหมดความแม่นยำสูงความต้านทานต่ำ: 10 Ω
การแสดงผล TFT สี 5.7 นิ้ว พร้อมแผงสัมผัส
ฟังก์ชั่น เครื่องเปรียบเทียบ, การวัด BIN (10 หมวดหมู่สำหรับ 2 พารามิเตอร์การวัด), ฟังก์ชันทริกเกอร์, การชดเชยการเปิด/ช็อต, การตรวจสอบการสัมผัส, การโหลด/บันทึกแผงควบคุม, ฟังก์ชันหน่วยความจำ
อินเทอร์เฟซ ต่อ I/O( ตัวจัดการ), USB, แฟลชไดรฟ์ USB, LAN, GP-IB, RS-232C, BCD
แหล่งจ่ายไฟ 100 ถึง 240 V AC, 50/60 Hz, สูงสุด 50 VA
ขนาดและน้ำหนัก กว้าง 330 มม. (12.99 นิ้ว) × 119 มม. (4.69 นิ้ว) สูง × 230 มม. (9.06 นิ้ว) ลึก 4.2 กก. (148.1 ออนซ์)
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย สายไฟ ×1, คู่มือการใช้งาน ×1, แผ่นดิสก์แอปพลิเคชัน LCR (คู่มือผู้ใช้การสื่อสาร) ×1

Probe and Test fixtures (15)

เมื่อใช้ 9268-10 หรือ 9269-10 จำเป็นต้องใช้แหล่งแรงดันคงที่ภายนอกและกระแสคงที่

PC communication (2)