ระบบทดสอบโมดูลเรดาร์

การนำระบบช่วยเหลือการขับขี่ขั้นสูง (ADAS) มาใช้ทำให้ความต้องการระบบเรดาร์คลื่นมิลลิเมตรในรถยนต์เพิ่มขึ้นอย่างรวดเร็ว มีระบบตรวจสอบด้านหน้าและรอบนอกอยู่แล้ว ระบบตรวจสอบด้านหลังจะถูกเพิ่มเข้ามาในอนาคต และกำลังดำเนินการทั่วโลกเพื่อพัฒนากฎหมายและระเบียบข้อบังคับ เช่น กำหนดให้ระบบตรวจสอบด้านหน้ามีฟังก์ชันการทำงานขั้นสูง
วิศวกรยังพยายามติดตั้งระบบดังกล่าวให้กับหุ่นยนต์ โดรน และอุปกรณ์ไร้คนขับอื่นๆ
เนื่องจากระบบเรดาร์คลื่นมิลลิเมตรถูกนำมาใช้เพื่อความปลอดภัย การทำงานผิดพลาดจึงเป็นสิ่งที่ยอมรับไม่ได้ และต้องมีคุณภาพสูงและเชื่อถือได้สูง ด้วยเหตุนี้ การปรับปรุงคุณภาพในโรงงานผลิตจึงเป็นกุญแจสำคัญ ตลอดจนลดเวลาในการทดสอบตามปริมาณการผลิตที่เพิ่มขึ้น

บทความนี้จะแนะนำระบบที่สามารถเร่งการทดสอบระดับกลาง (การทดสอบระหว่างกระบวนการผลิต) ของโมดูลเรดาร์คลื่นมิลลิเมตร ในขณะที่อำนวยความสะดวกในการเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าอย่างรวดเร็วในสายการผลิตและการสร้างซอฟต์แวร์ทดสอบเพื่อรองรับการเปลี่ยนแปลงในแบบจำลองที่ผลิตขึ้น

การทดสอบขั้นกลางของโมดูลเรดาร์คลื่นมิลลิเมตรประกอบด้วยการทดสอบที่อธิบายไว้ในตารางทางด้านขวา ในอดีต ระบบการทดสอบประกอบด้วยฟิกซ์เจอร์ “bed-of-nails” พร้อมโพรบสำหรับแต่ละจุดทดสอบ วงจรรีเลย์สำหรับวงจรสวิตชิ่ง เครื่องมือวัด (เช่น เครื่องวัดความต้านทาน มัลติมิเตอร์ และเครื่องวัด LCR) ไฟฟ้ากระแสตรง แหล่งจ่ายไฟ คอมพิวเตอร์หรือ PLC เพื่อควบคุมส่วนประกอบเหล่านี้ และโปรแกรมสำหรับดำเนินการทดสอบตามลำดับ วิธีการนี้ประสบปัญหาต่อไปนี้:
- ไม่สามารถย่นเวลารอบการทดสอบได้เนื่องจากความยากลำบากในการสลับวงจรและการควบคุมเครื่องมือวัดที่ซิงโครไนซ์
- ระยะเวลาที่มีนัยสำคัญในการสร้างลำดับการทดสอบสำหรับ DUT รุ่นต่างๆ เนื่องจากโปรแกรมขาดความคล่องตัว
- ระยะเวลาที่มีนัยสำคัญในการระบุปัญหาพื้นฐานของความล้มเหลวของอุปกรณ์ (การบำรุงรักษาไม่ดี)

In-Circuit Tester FA1220 เป็นการผสมผสานระหว่างอุปกรณ์สลับวงจร (สแกนเนอร์) เครื่องมือวัดทางไฟฟ้า และแหล่งจ่ายไฟ DC ภายในตัวเครื่องขนาดกะทัดรัด มันทำงานตามลำดับการทดสอบที่สร้างขึ้นโดยใช้ซอฟต์แวร์เดสก์ท็อปเพื่อจัดการกับความท้าทายที่เกิดจากการทดสอบระดับกลางของโมดูลเรดาร์คลื่นมิลลิเมตร

- การทดสอบความเร็วสูงเกิดขึ้นได้ด้วยการซิงโครไนซ์สแกนเนอร์ในตัว แผงวงจรวัด และแหล่งจ่ายไฟ
- สร้างข้อมูลการทดสอบในระยะเวลาอันสั้นโดยใช้ซอฟต์แวร์ของระบบ
- ฟังก์ชันการทดสอบตัวเองสามารถระบุปัญหาได้โดยอัตโนมัติในกรณีที่อุปกรณ์ขัดข้อง

แม้จะมีขนาดกะทัดรัด แต่ In-Circuit Tester FA1220 มีความสามารถในการปรับแต่งด้วยเครื่องสแกนเพิ่มเติมสำหรับการวัดสูงสุดถึง 1,024 พิน
บอร์ด I/O ช่วยให้สามารถควบคุมระบบจากแหล่งภายนอกได้ ตัวอย่างเช่น อุปกรณ์ภายนอกสามารถเริ่มการทดสอบหรือรับผลการตัดสินได้
ด้วยวิธีนี้ ฟังก์ชันและข้อมูลจำเพาะของ FA1220 เหมาะสมอย่างยิ่งที่จะรวมเข้ากับระบบของผู้ใช้เอง