Sistema de teste do módulo de radar

Este artigo apresenta um sistema que permite testes em alta velocidade de módulos de radar de ondas milimétricas, um componente do veículo para o qual a demanda está crescendo em conexão com a tecnologia de direção autônoma, ao mesmo tempo em que acomoda mudanças rápidas de configuração na linha de produção e criação de software.

Demanda crescente em veículos autônomos

A adoção de sistemas avançados de assistência à condução (ADAS) está alimentando o rápido crescimento da demanda por sistemas de radar de ondas milimétricas em veículos. Já existem sistemas de monitoramento frontais e periféricos disponíveis. Os sistemas de monitoramento traseiro serão adicionados no futuro, e esforços mundiais estão em andamento para desenvolver leis e regulamentos, por exemplo, exigindo que os sistemas de monitoramento frontal forneçam funcionalidades mais avançadas.
Os engenheiros também estão tentando equipar robôs, drones e outros dispositivos não tripulados com esses sistemas.
Como os sistemas de radar de ondas milimétricas são utilizados para garantir a segurança, o mau funcionamento é inaceitável e a alta qualidade e a alta confiabilidade são essenciais. Consequentemente, será fundamental fornecer melhorias de qualidade nas instalações de fabricação, bem como tempos de teste reduzidos à medida que os volumes de produção crescem.

Este artigo apresenta um sistema que pode acelerar testes intermediários (testes entre processos de produção) de módulos de radar de ondas milimétricas, ao mesmo tempo em que facilita mudanças rápidas de configuração na linha de produção e criação de software de teste para acomodar mudanças nos modelos que estão sendo produzidos.

Problemas no teste intermediário do módulo de radar de ondas milimétricas

O teste intermediário de módulos de radar de ondas milimétricas consiste nos testes descritos na tabela à direita. No passado, os sistemas de teste consistiam em um dispositivo “bed-of-nails” com uma sonda para cada ponto de teste, um circuito de relé para circuitos de comutação, instrumentos de medição (como um medidor de resistência, multímetro e medidor LCR), um DC fonte de alimentação, um computador ou PLC para controlar esses componentes e um programa para executar sequências de teste. Essa abordagem sofre dos seguintes problemas:

- Incapacidade de encurtar o tempo do ciclo de teste devido à dificuldade de comutação de circuitos e sincronização do controle do instrumento de medição
- Quantidade significativa de tempo necessária para criar sequências de teste para diferentes modelos de DUTs porque os programas não têm versatilidade
- Quantidade significativa de tempo necessária para identificar problemas subjacentes a falhas de equipamentos (manutenção ruim)

Realizando testes de alta velocidade e alta manutenibilidade

O In-Circuit Tester FA1220 é uma combinação de um dispositivo de comutação de circuito (scanner), instrumentos elétricos de medição e uma fonte de alimentação CC dentro de um gabinete compacto. Ele opera de acordo com sequências de teste criadas usando um software de desktop para enfrentar com sucesso os desafios apresentados pelos testes intermediários de módulos de radar de ondas milimétricas.

- O teste de alta velocidade é possibilitado pela sincronização otimizada do scanner integrado do sistema, placas de circuito de medição e fonte de alimentação.
- Crie dados de teste em um curto período de tempo usando o software do sistema.
- A funcionalidade de autoteste pode identificar problemas automaticamente em caso de falha do equipamento.
- A funcionalidade de autoteste pode evitar julgamentos errôneos e o envio de produtos defeituosos.

O crescimento no volume de produção do módulo de radar de ondas milimétricas provavelmente levará a um aumento no número de instalações de fabricação que enfrentam a necessidade de obter maior qualidade e tempos de teste mais curtos.

O In-Circuit Tester FA1220 tem potencial para atender com sucesso as necessidades de tais instalações.

Funcionalidade e conceito que possibilitam a incorporação do FA1220 em outros equipamentos

Apesar de seu tamanho compacto, o In-Circuit Tester FA1220 tem a capacidade de ser personalizado com scanners adicionais para medição de até 1.024 pinos.
Uma placa de E/S permite que o sistema seja controlado a partir de uma fonte externa. Por exemplo, um dispositivo externo pode iniciar o teste ou receber os resultados do julgamento.
Desta forma, a funcionalidade e as especificações do FA1220 adequam-se à integração nos próprios sistemas do usuário.

Lista de produtos relacionados