Sistema de prueba de módulo de radar
Este documento presenta un sistema que permite realizar pruebas de alta velocidad de módulos de radar de ondas milimétricas, un componente del vehículo cuya demanda está creciendo en relación con la tecnología de conducción autónoma, al tiempo que se adapta a cambios de configuración rápidos en la línea de producción y la creación de software.
Creciente demanda de vehículos autónomos
La adopción de sistemas avanzados de asistencia a la conducción (ADAS) está impulsando un rápido crecimiento en la demanda de sistemas de radar de ondas milimétricas en vehículos. Ya hay disponibles sistemas de monitoreo de frente y periferia. Los sistemas de monitoreo trasero se agregarán en el futuro, y se están realizando esfuerzos en todo el mundo para desarrollar leyes y regulaciones, por ejemplo, requiriendo sistemas de monitoreo frontal para proporcionar una funcionalidad más avanzada.
Los ingenieros también están intentando equipar robots, drones y otros dispositivos no tripulados con tales sistemas.
Dado que los sistemas de radar de ondas milimétricas se utilizan para garantizar la seguridad, los fallos de funcionamiento son inaceptables y la alta calidad y la alta fiabilidad son imprescindibles. En consecuencia, será clave ofrecer mejoras de calidad en las instalaciones de fabricación, así como reducir los tiempos de prueba a medida que crecen los volúmenes de producción.
Este documento presenta un sistema que puede acelerar las pruebas intermedias (pruebas entre procesos de producción) de módulos de radar de ondas milimétricas al tiempo que facilita los cambios de configuración rápidos en la línea de producción y la creación de software de prueba para adaptarse a los cambios en los modelos que se producen.
Los ingenieros también están intentando equipar robots, drones y otros dispositivos no tripulados con tales sistemas.
Dado que los sistemas de radar de ondas milimétricas se utilizan para garantizar la seguridad, los fallos de funcionamiento son inaceptables y la alta calidad y la alta fiabilidad son imprescindibles. En consecuencia, será clave ofrecer mejoras de calidad en las instalaciones de fabricación, así como reducir los tiempos de prueba a medida que crecen los volúmenes de producción.
Este documento presenta un sistema que puede acelerar las pruebas intermedias (pruebas entre procesos de producción) de módulos de radar de ondas milimétricas al tiempo que facilita los cambios de configuración rápidos en la línea de producción y la creación de software de prueba para adaptarse a los cambios en los modelos que se producen.
Problemas en las pruebas intermedias del módulo de radar de ondas milimétricas
Las pruebas intermedias de los módulos de radar de ondas milimétricas consisten en las pruebas descritas en la tabla de la derecha. En el pasado, los sistemas de prueba consistían en un accesorio de "cama de clavos" con una sonda para cada punto de prueba, un circuito de relé para cambiar circuitos, instrumentos de medición (como un medidor de resistencia, multímetro y medidor LCR), un DC fuente de alimentación, una computadora o PLC para controlar estos componentes y un programa para ejecutar secuencias de prueba. Este enfoque adolece de los siguientes problemas:
- Incapacidad para acortar el tiempo del ciclo de prueba debido a la dificultad de cambiar circuitos y sincronizar el control del instrumento de medición
- Se requiere una cantidad significativa de tiempo para crear secuencias de prueba para diferentes modelos de DUT porque los programas carecen de versatilidad
- Se requiere una cantidad significativa de tiempo para identificar los problemas subyacentes a las fallas del equipo (mantenibilidad deficiente)
- Se requiere una cantidad significativa de tiempo para crear secuencias de prueba para diferentes modelos de DUT porque los programas carecen de versatilidad
- Se requiere una cantidad significativa de tiempo para identificar los problemas subyacentes a las fallas del equipo (mantenibilidad deficiente)
Realización de pruebas de alta velocidad y alta capacidad de mantenimiento
El probador en circuito FA1220 es una combinación de un dispositivo de conmutación de circuitos (escáner), instrumentos de medición eléctrica y una fuente de alimentación de CC dentro de una carcasa compacta. Opera de acuerdo con las secuencias de prueba creadas con un software de escritorio para abordar con éxito los desafíos que plantean las pruebas intermedias de los módulos de radar de ondas milimétricas.
- Las pruebas de alta velocidad son posibles gracias a la sincronización optimizada del escáner integrado del sistema, las placas de circuito de medición y la fuente de alimentación.
- Crear datos de prueba en un corto período de tiempo utilizando el software del sistema.
- La funcionalidad de autocomprobación puede identificar automáticamente problemas en caso de falla del equipo.
- Las pruebas de alta velocidad son posibles gracias a la sincronización optimizada del escáner integrado del sistema, las placas de circuito de medición y la fuente de alimentación.
- Crear datos de prueba en un corto período de tiempo utilizando el software del sistema.
- La funcionalidad de autocomprobación puede identificar automáticamente problemas en caso de falla del equipo.
- La funcionalidad de autocomprobación puede evitar juicios erróneos y el envío de productos defectuosos.
El crecimiento en el volumen de producción de módulos de radar de ondas milimétricas probablemente conducirá a un aumento en la cantidad de instalaciones de fabricación que enfrentan la necesidad de lograr una mayor calidad y tiempos de prueba más cortos.
El probador en circuito FA1220 tiene el potencial para abordar con éxito las necesidades de dichas instalaciones.
Funcionalidad y concepto que hacen posible integrar el FA1220 en otros equipos
A pesar de su tamaño compacto, el In-Circuit Tester FA1220 tiene la capacidad de personalizarse con escáneres adicionales para medir hasta 1024 pines.
Una placa de E/S permite controlar el sistema desde una fuente externa. Por ejemplo, un dispositivo externo puede iniciar la prueba o recibir los resultados del juicio.
De esta forma, la funcionalidad y las especificaciones del FA1220 se adaptan bien a la integración en los propios sistemas del usuario.
Una placa de E/S permite controlar el sistema desde una fuente externa. Por ejemplo, un dispositivo externo puede iniciar la prueba o recibir los resultados del juicio.
De esta forma, la funcionalidad y las especificaciones del FA1220 se adaptan bien a la integración en los propios sistemas del usuario.