ระบบทดสอบโมดูลกล้อง

เอกสารนี้จะแนะนำระบบที่ช่วยให้สามารถทดสอบโมดูลกล้องความเร็วสูงได้ ซึ่งความต้องการอุปกรณ์ในรถยนต์และสมาร์ทโฟนมีเพิ่มขึ้น ขณะเดียวกันก็รองรับการเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าอย่างรวดเร็วในสายการผลิตและการสร้างซอฟต์แวร์

ความต้องการที่เพิ่มขึ้นในสมาร์ทโฟนและแอปพลิเคชันในรถยนต์

เนื่องจากการนำสมาร์ทโฟนมาใช้กระตุ้นความต้องการเซ็นเซอร์ภาพ การใช้งานในยานยนต์ เช่น ยานยนต์ที่ขับเคลื่อนด้วยตนเอง จะเพิ่มปริมาณการผลิตเซ็นเซอร์ด้วยเช่นกัน การผลิตโมดูลกล้องซึ่งรวมเซ็นเซอร์ภาพไว้บนแผงวงจรอิเล็กทรอนิกส์ กำลังเติบโตขึ้นเนื่องจากมีขนาดเล็กและง่ายต่อการฝัง
โมดูลกล้องมักใช้ในอุปกรณ์สำคัญที่ไม่สามารถยอมรับการทำงานผิดพลาดได้ และต้องมีคุณภาพสูงและเชื่อถือได้สูง ด้วยเหตุนี้ การปรับปรุงคุณภาพในโรงงานผลิตจึงเป็นกุญแจสำคัญ ตลอดจนลดเวลาในการทดสอบตามปริมาณการผลิตที่เพิ่มขึ้น

เอกสารนี้จะแนะนำระบบที่สามารถเร่งการทดสอบระหว่างกระบวนการผลิตของโมดูลกล้องในขณะที่อำนวยความสะดวกในการเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าอย่างรวดเร็วในสายการผลิตและการทดสอบการสร้างซอฟต์แวร์เพื่อรองรับการเปลี่ยนแปลงในรุ่นที่ผลิต

ปัญหาในการทดสอบขั้นกลางของโมดูลกล้อง

การทดสอบระหว่างกระบวนการผลิตเรียกอีกอย่างว่าการทดสอบระดับกลาง การทดสอบขั้นกลางของโมดูลกล้องประกอบด้วยการทดสอบที่อธิบายไว้ในตารางทางด้านขวา

ในอดีต ระบบการทดสอบประกอบด้วยฟิกซ์เจอร์แบบ “bed-of-nails” พร้อมโพรบสำหรับแต่ละจุดทดสอบ วงจรรีเลย์สำหรับวงจรสวิตชิ่ง เครื่องมือวัด (เช่น เครื่องวัดความต้านทาน มัลติมิเตอร์ และเครื่องวัด LCR) แบบ DC แหล่งจ่ายไฟ คอมพิวเตอร์หรือ PLC เพื่อควบคุมส่วนประกอบเหล่านี้ และโปรแกรมสำหรับดำเนินการทดสอบตามลำดับ วิธีการนี้ประสบปัญหาต่อไปนี้:

- ไม่สามารถย่นเวลารอบการทดสอบได้เนื่องจากความยากลำบากในการสลับวงจรและการควบคุมเครื่องมือวัดที่ซิงโครไนซ์
- ระยะเวลาที่มีนัยสำคัญในการสร้างลำดับการทดสอบสำหรับ DUT รุ่นต่างๆ เนื่องจากโปรแกรมขาดความคล่องตัว
- ระยะเวลาที่มีนัยสำคัญในการระบุปัญหาพื้นฐานของความล้มเหลวของอุปกรณ์ (การบำรุงรักษาไม่ดี)

ตระหนักถึงการทดสอบความเร็วสูงและการบำรุงรักษาสูง

In-Circuit Tester FA1220 เป็นการผสมผสานระหว่างอุปกรณ์สลับวงจร (สแกนเนอร์) เครื่องมือวัดทางไฟฟ้า และแหล่งจ่ายไฟ DC ภายในตัวเครื่องขนาดกะทัดรัด มันทำงานตามลำดับการทดสอบที่สร้างขึ้นโดยใช้ซอฟต์แวร์เดสก์ท็อปเพื่อจัดการกับความท้าทายที่เกิดจากการทดสอบโมดูลกล้องระดับกลางได้สำเร็จ


- การทดสอบความเร็วสูงเกิดขึ้นได้ด้วยการซิงโครไนซ์สแกนเนอร์ในตัว แผงวงจรวัด และแหล่งจ่ายไฟ
- สร้างข้อมูลการทดสอบในระยะเวลาอันสั้นโดยใช้ซอฟต์แวร์ของระบบ
- ฟังก์ชันการทดสอบตัวเองสามารถระบุปัญหาได้โดยอัตโนมัติในกรณีที่อุปกรณ์ขัดข้อง
- ฟังก์ชันการทดสอบตัวเองสามารถป้องกันการตัดสินที่ผิดพลาดและการจัดส่งสินค้าที่มีข้อบกพร่อง

การทำงานและแนวคิดที่ทำให้สามารถติดตั้ง FA1220 ลงในอุปกรณ์อื่นๆ ได้

แม้จะมีขนาดกะทัดรัด แต่ In-Circuit Tester FA1220 มีความสามารถในการปรับแต่งด้วยเครื่องสแกนเพิ่มเติมสำหรับการวัดสูงสุดถึง 1,024 พิน
บอร์ด I/O ช่วยให้สามารถควบคุมระบบจากแหล่งภายนอกได้ ตัวอย่างเช่น อุปกรณ์ภายนอกสามารถเริ่มการทดสอบหรือรับผลการตัดสินได้
ด้วยวิธีนี้ ฟังก์ชันและข้อมูลจำเพาะของ FA1220 เหมาะสมอย่างยิ่งที่จะรวมเข้ากับระบบของผู้ใช้เอง

รายการ ผลิตภัณฑ์ ที่เกี่ยวข้อง