ซี เมตร 3506-10
เครื่องวัดความจุ 1kHz/1MHz ดูอัลแบนด์สำหรับการทดสอบตัวเก็บประจุแบบเซรามิกความเร็วสูงในสายการผลิต
เครื่องวัด ฮิโอกิ LCR และเครื่องวิเคราะห์อิมพีแดนซ์มีตั้งแต่อุปกรณ์ 1mHz ถึง 3GHz เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานที่หลากหลายในการทดสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ 3506-10 เป็นเครื่องวัดความจุแบบดูอัลแบนด์ที่ออกแบบมาเพื่อใช้งานร่วมกับเครื่องพันเทปอัตโนมัติและเครื่องคัดแยกสำหรับการผลิต MLCC (ตัวเก็บประจุเซรามิกหลายชั้น)
คุณสมบัติหลัก
- เวลาทดสอบอนาล็อกความเร็วสูง 0.6 ms (ที่ 1 MHz)
- ปรับปรุงการต้านทานเสียงและเพิ่มความสามารถในการทำซ้ำในการวัดที่แม่นยำแม้ในสายการผลิต
- ความถี่ในการวัด 1 kHz และ 1 MHz รองรับการทดสอบความจุต่ำที่เสถียรด้วยเครื่องพันเทป
- ฟังก์ชัน BIN เพื่อการคัดกรองส่วนประกอบที่ง่ายดาย
หมายเลขรุ่น (รหัสการสั่งซื้อ)
3506-10 | ความถี่ในการวัด: 1 kHz และ 1 MHz |
---|
ข้อกำหนดพื้นฐาน
พารามิเตอร์การวัด | C (ความจุ), D (สัมประสิทธิ์การสูญเสีย, แทน δ), Q (1/แทน δ) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
ช่วงการวัด | C: 0.001 fF ถึง 15.0000 μF, D: 0.00001 ถึง 1.99999, Q: 0.0 ถึง 19999.9 | |||||
ความแม่นยำพื้นฐาน | (ประเภท) C: ±0.14 % rdg., D: ±0.0013 | |||||
ความถี่ในการวัด | 1 kHz, 1 MHz | |||||
ระดับสัญญาณการวัด | 500 mV, 1 V rms | |||||
อิมพีแดนซ์เอาต์พุต | 1 Ω (ที่ 1 kHz ใน 2.2 μF และช่วงที่สูงกว่า), 20 Ω (ในช่วงอื่นนอกเหนือจากด้านบน) | |||||
การแสดงผล | LED (ตัวเลขหกหลัก การนับเต็มสเกลขึ้นอยู่กับช่วงการวัด) | |||||
เวลาในการวัด | 1.5 ms: 1 MHz, 2.0 ms: 1 kHz (ค่าปกติ ขึ้นอยู่กับการตั้งค่าการกำหนดค่าการวัด) | |||||
ฟังก์ชั่น | BIN (ค่าการวัดสามารถจำแนกได้ตามอันดับ), เอาต์พุตทริกเกอร์-ซิงโครนัส, การกำหนดค่าการตั้งค่าสามารถจัดเก็บได้, ตัวเปรียบเทียบ, ค่าเฉลี่ย, การปฏิเสธ Low-C (การตรวจจับการสัมผัสที่ไม่ดี), การตรวจจับการแชท, การตรวจสอบวงจรการตรวจจับปัจจุบัน, การตรวจสอบค่าแรงดันไฟฟ้าประยุกต์, EXT . I/O, RS-232C, GP-IB | |||||
แหล่งจ่ายไฟ | เลือกได้ตั้งแต่ 100, 120, 220 หรือ 240 V AC ±10 %, 50/60 Hz สูงสุด 40 VA | |||||
ขนาดและน้ำหนัก | กว้าง 260 มม. (10.24 นิ้ว) × สูง 100 มม. (3.94 นิ้ว) × 298 มม. (11.73 นิ้ว) ลึก 4.8 กก. (169.3 ออนซ์) | |||||
อุปกรณ์เสริมที่รวมอยู่ด้วย | สายไฟ × 1, คู่มือการใช้งาน × 1, ฟิวส์สำรอง × 1 |
Probe and Test fixtures (13)
เพื่อแทนที่ทิปบน L2001 ขนาดปกติ ที่มาพร้อมกับ L2001
หากต้องการเปลี่ยนทิปบน L2001 ขนาดเล็ก
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01), ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 5 มม. (0.20 นิ้ว)
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 200 kHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 5 มม. (0.20 นิ้ว)
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 8 MHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, การกำหนดค่าคู่ 4 ขั้ว, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: ø0.3 (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง DC ถึง 8 MHz (สามารถวัดได้สูงถึง 10 MHz เมื่อรวมกับรุ่นสั่งพิเศษ IM3536-01) ขนาดตัวอย่างทดสอบ:1 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 10 มม. (0.39 นิ้ว)
ความยาวสายเคเบิล 1 ม. (3.28 ฟุต), DC ถึง 200 kHz, ลักษณะอิมพีแดนซ์ 50 Ω, เส้นผ่านศูนย์กลางตัวนำที่วัดได้: φ0.3 มม. (0.01 นิ้ว) ถึง 2 มม. (0.08 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านข้าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: 3.5 มม. ±0.5 มม. (0.14 นิ้ว ±0.02 นิ้ว)
ประเภทการเชื่อมต่อโดยตรง สำหรับการวัด SMD ด้วยอิเล็กโทรดที่ด้านล่าง DC ถึง 120 MHz ขนาดตัวอย่างทดสอบ: กว้าง 1.0 มม. (0.04 นิ้ว) ถึง 4.0 มม. (0.16 นิ้ว) สูงสุด สูง 1.5 มม. (0.06 นิ้ว)
PC communication (1)
ยาว 2 ม. (6.56 ฟุต)
Printer options (2)
112 มม. (4.41 นิ้ว) × 25 ม. (82.03 ฟุต), 10 ม้วน/ชุด
9 ขา - 9 ขาตรง ยาว 1.5 ม. (4.92 ฟุต)