PENGUJI PROBE TERBANG FA1283
Pengujian Listrik Lengkap Papan Fungsi Tinggi dengan Satu Unit
Hioki PCB dan peralatan inspeksi substrat memanfaatkan kompetensi inti kami dalam pengujian komponen presisi tinggi. FA1283 adalah penguji probe terbang dua sisi dengan pemuatan horizontal dengan kecepatan uji 100 kali/detik yang cepat.
Fitur Utama
- Maks. 100 poin/s inspeksi kecepatan ultra-tinggi
- Periksa bareboard umum untuk substrat halus dan kepadatan tinggi seperti substrat fleksibel dan CSP
- Jajaran lengkap fungsi termasuk pengukuran kapasitansi dan pengujian dioda dan komponen tertanam lainnya
Pengujian Listrik Lengkap Papan Fungsi Tinggi dengan Satu Unit
FA1283 adalah sistem pengujian papan telanjang generasi berikutnya yang menggabungkan keahlian pengukuran komponen yang dikumpulkan oleh Hioki dalam pengembangan produk pengujian papan yang terisi.
Turun ke 1μm
FLYING PROBE TESTER Akurasi Tinggi Bertujuan 10 m Kontak
Akurasi Probing Total 15 m (saat FA1971-01 dipasang)
Tidak Satu Detik Dibuang
Awal yang mulus untuk pengujian awal sangat penting.
Jadwal pengujian listrik pendek dan ketat.
Penjepit Ketegangan Dilengkapi sebagai Standar
Unit koreksi ketebalan papan laser yang mengukur kelenturan dan undulasi papan
Tahap vakum pengukuran kapasitansi untuk papan pengujian yang tidak dapat dijepit (opsional)
Tersedia dalam varian transportasi offline dan otomatis.
FEB-LINE Data Creation System UA1781 menyediakan data yang akurat, bahkan untuk desain yang rumit.
Penguasaan Pengukuran Total
Satu unit untuk semuanya, mulai dari pengujian kontinuitas dan isolasi sederhana hingga pengukuran fungsi lanjutan untuk pengujian komponen.
Sebuah unit pengujian dan unit pengukuran untuk seleksi dan analisis.
Penguji probe terbang berpotensi tinggi ini dirancang agar sesuai dengan kebutuhan Anda.
Unit Vakum untuk Uji Kapasitansi E4001
Tidak ada yang dikirimkan tanpa pengujian listrik.
Tahap penyerapan vakum E4001 digunakan untuk melakukan pengujian O/S metode kapasitansi, yang tidak terpengaruh oleh bentuk papan.
Lakukan pengujian stabil terlepas dari dimensi atau ketebalan papan.
Meningkatkan kualitas pengujian isolasi
Kemampuan uji insulasi penguji memiliki dampak langsung pada kualitas produk dalam hal fenomena seperti terbakarnya celana pendek mikro dan lengkung selama pengujian.
FA1283 dapat melakukan pengujian insulasi berkecepatan super tinggi pada 100 GΩ/10 msec.
Ini juga menyediakan berbagai fungsi yang dirancang untuk menjamin kualitas insulasi tingkat tinggi, termasuk deteksi pendek mikro, deteksi busur, pengujian bipolar, dan pengujian impuls.
Menguasai pengujian kontinuitas dan pengukuran resistansi
Pengguna dapat memilih dari beberapa mode, termasuk pengukuran resistansi rendah 4 terminal, pengukuran kontinuitas 200 mA, dan pengujian O/S pengukuran kapasitansi.
Gunakan pengukuran 4 terminal untuk mendeteksi peningkatan resistansi kabel yang disebabkan oleh fenomena seperti vias terbuka, dan gunakan pengujian kontinuitas pada arus besar hingga 200 mA untuk menjamin integritas papan dalam kondisi yang mendekati operasi sebenarnya.
FA1283 menyediakan berbagai mode pengukuran yang dimungkinkan oleh keahlian pengukuran unik Hioki's, dari pengukuran resistansi tegangan rendah pada 0,1 V hingga pengukuran resistansi tegangan tinggi untuk bahan seperti ITO yang memiliki resistivitas insulasi tinggi.
Pengukuran Perangkat Tertanam: Keberangkatan Tajam dari Pengukuran LCR
FA1283 adalah sistem pengujian papan telanjang generasi berikutnya yang menggabungkan keahlian pengukuran komponen yang dikumpulkan oleh Hioki dalam pengembangan produk pengujian papan yang terisi.
Kemampuan pengukurannya berkisar dari fungsi pengukuran dasar seperti pengukuran MLCC hingga fungsi pelindung untuk mengukur sirkuit komposit, pengukuran pemisahan fase, dan kemampuan lain yang melampaui fitur khas penguji dalam sirkuit, Ini juga menghadirkan mode khusus seperti pengujian konsumsi arus dan pengujian arus bocor untuk digunakan dalam pengujian keandalan LSI.
Fungsi-fungsi ini ideal untuk menguji papan yang terisi dan berbeda dari yang ditawarkan oleh LCR Meter.
Setengah dari Waktu Pembuatan Data Dengan Platform Baru FEB-LINE UA1781
Uji probe terbang untuk papan Tertanam dan Telanjang UA1781
Software Pengeditan 3-in-1 untuk Pengujian Papan Telanjang
Edit data dan Hasilkan titik uji dan dukungan komponen bawaan
3-in-1 untuk pengeditan, pembuatan titik uji, dan dukungan komponen bawaan
Algoritme baru yang dioptimalkan untuk Windows
Bebas dari pembatasan volume data untuk meningkatkan kebebasan
Menambahkan perintah baru untuk mengurangi waktu pembuatan data hingga setengahnya
Ikhtisar Spesifikasi
| Jumlah lengan | 4 (2 masing-masing, atas dan bawah) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Probe yang dapat dipasang | 1172 seri | |||||
| Jumlah langkah pengujian | Maks. 900.000 langkah | |||||
| Parameter pengukuran dan rentang pengukuran | Perlawanan : | 40.00 hingga 100,0 MΩ | ||||
| kapasitansi: | 10.00 fF hingga 40.00 mF | |||||
| Induktansi: | 10.00 H hingga 100,0 mH | |||||
| Pengukuran VZ dioda: | 0,000V hingga 25.00V | |||||
| Resistansi isolasi: | 200,0 hingga 100,0 GΩ | |||||
| Resistansi isolasi kapasitansi: | 200,0 hingga 10,00 MΩ | |||||
| Resistansi tegangan tinggi: | 200,0 hingga 25.00 GΩ | |||||
| Resistansi pendek tegangan tinggi: | 400,0 mΩ hingga 400,0 kΩ | |||||
| Pengukuran arus bocor: | 100,0 nA hingga 10,00 mA | |||||
| Pengukuran VZ dioda zener : | 0,000V hingga 25.00V | |||||
| Pengukuran transistor digital: | 0,000V hingga 25.00V | |||||
| Pengukuran skrup foto: | 0,000V hingga 25.00V | |||||
| Tes kontinuitas: | 400 mΩ hingga 1.000 kΩ | |||||
| Tes terbuka: | 4.000 hingga 4.000 MΩ | |||||
| Tes singkat: | 400,0 mΩ hingga 40,00 kΩ | |||||
| Pengukuran tegangan DC: | 40.00 mV sampai 25.00 V | |||||
| Rentang penilaian | -99,9% hingga +999,9% atau nilai absolut | |||||
| Pitch bantalan minimum | 35um (dengan CP1075-09) (saat menggunakan FA1971-01) 40um (dengan CP1075-09) |
|||||
| Ukuran bantalan minimum | 5um (dengan CP1075-09) (saat menggunakan FA1971-01) 10um (dengan CP1075-09) |
|||||
| Kecepatan pengukuran | Maks. 100 poin/s (gerakan XY 0,1 mm, pemeriksaan simultan 4-lengan, saat pengukuran kapasitansi) | |||||
| Ukuran papan yang dapat diuji | Ketebalan: 0,1 mm hingga 2,5 mm (0,10 inci) Dimensi luar : 50 mm (1,97 inci) L × 50 mm (1,97 inci) D hingga 400 mm (15,75 inci) L × 330 mm (12,99 inci) D |
|||||
| Area maksimum yang dapat diuji | 400 mm (15,75 inci) L × 324 mm (12,76 inci) D | |||||
| Penjepitan papan | Metode chuck 2 sisi papan (dengan fungsi tegangan) | |||||
| Sumber Daya listrik | 200 V, 220 V, 230 V, 240 V AC fase tunggal (sebutkan pada saat pemesanan), 50/60 Hz, 5 kVA | |||||
| Dimensi dan massa | 1360 mm (53,54 inci) L × 1200 mm (47,24 inci) T × 1280 mm (50,39 inci) D, (Tidak termasuk bagian yang menonjol), 1.100 kg (38.800,7 oz) | |||||
Software (3)
PERANGKAT LUNAK OFF-LINE 1139-09
