PROBADOR DE SONDA VOLADOR FA1283
Pruebas eléctricas completas de tableros de alta función con una sola unidad
El equipo de inspección de PCB y sustratos Hioki aprovecha nuestra competencia central en pruebas de componentes de alta precisión. El FA1283 es un probador de sonda voladora de doble cara de carga horizontal con una velocidad de prueba rápida de 100 veces/segundo.
Características principales
- máx. Inspección de ultra alta velocidad de 100 puntos/s
- Inspeccione tableros expuestos en general hasta sustratos finos y de alta densidad, como sustratos flexibles y CSP
- Línea completa de funciones que incluyen medición de capacitancia y prueba de diodos y otros componentes integrados
Nº de modelo (código de pedido)
| FA1283-01 | sin portatablas |
|---|---|
| FA1283-11 | con portatablas |
Pruebas eléctricas completas de tableros de alta función con una sola unidad
El FA1283 es un sistema de prueba de placa desnuda de próxima generación que incorpora la experiencia en medición de componentes acumulada por Hioki en el curso del desarrollo de productos de prueba de placa poblada.
Hasta el 1μm
Un PROBADOR DE SONDA VOLADORA de alta precisión con el objetivo de φ10 μm
Precisión de sondeo total □ 15 μm (cuando está instalado FA1971-01)
Ni un segundo perdido
Un buen comienzo de las pruebas iniciales es vital.
Los programas de pruebas eléctricas son breves y estrictos.
・Abrazadera de tensión equipada de serie
・Unidad de corrección de espesor de placa láser que mide la flexión y la ondulación de la placa
・Etapa de vacío de medición de capacitancia para tableros de prueba que no se pueden sujetar (opcional)
・Disponible en variantes de transporte fuera de línea y automático.
・El sistema de creación de datos FEB-LINE UA1781 proporciona datos precisos, incluso para diseños complejos.
Dominio total de la medición
Una sola unidad para todo, desde pruebas simples de continuidad y aislamiento hasta mediciones de funciones avanzadas para pruebas de componentes.
Una unidad de prueba y una unidad de medida para la selección y el análisis.
Este probador de sonda voladora de alto potencial está diseñado para satisfacer sus necesidades.
Unidad de vacío para prueba de capacitancia E4001
Nada se envía sin pruebas eléctricas.
La etapa de absorción de vacío E4001 se utiliza para realizar la prueba O/S del método de capacitancia, que no se ve afectada por la forma de la placa.
Realice pruebas estables independientemente de las dimensiones o el grosor de la placa.
Mejora de la calidad de las pruebas de aislamiento
Las capacidades de prueba de aislamiento del probador tienen un impacto directo en la calidad del producto cuando se trata de fenómenos como la quema de microcortos y la formación de arcos durante la prueba.
El FA1283 puede realizar pruebas de aislamiento a súper alta velocidad a 100 GΩ/10 mseg.
También proporciona una variedad de funciones diseñadas para garantizar un alto nivel de calidad de aislamiento, incluida la detección de microcortocircuitos, detección de arcos, pruebas bipolares y pruebas de impulsos.
Dominar las pruebas de continuidad y la medición de resistencia
Los usuarios pueden seleccionar entre varios modos, incluida la medición de baja resistencia de 4 terminales, la medición de continuidad de 200 mA y la prueba de O/S de medición de capacitancia.
Use la medición de 4 terminales para detectar aumentos en la resistencia del cableado causados por fenómenos como vías abiertas, y use pruebas de continuidad a grandes corrientes de hasta 200 mA para garantizar la integridad de la placa en condiciones que se acerquen a la operación real.
El FA1283 proporciona numerosos modos de medición que son posibles gracias a la experiencia de medición única Hioki's, desde la medición de resistencia de bajo voltaje a 0,1 V hasta la medición de resistencia de alto voltaje para materiales como ITO que tienen una alta resistividad de aislamiento.
Medición de dispositivos integrados: una desviación brusca de la medición LCR
El FA1283 es un sistema de prueba de placa desnuda de próxima generación que incorpora la experiencia en medición de componentes acumulada por Hioki en el curso del desarrollo de productos de prueba de placa poblada.
Sus capacidades de medición van desde funciones de medición básicas como la medición de MLCC hasta funciones de protección para medir circuitos compuestos, medición de separación de fases y otras capacidades que van más allá de las características típicas de los probadores en circuito. También ofrece modos dedicados como prueba de consumo de corriente y prueba de corriente de fuga para su uso en pruebas de confiabilidad LSI.
Estas funciones son ideales para probar tableros poblados y difieren de las que ofrecen los medidores LCR.
La mitad del tiempo de generación de datos con la nueva plataforma FEB-LINE UA1781
Prueba de sonda voladora para placas integradas y desnudas UA1781
Software de edición 3 en 1 para pruebas de tableros desnudos
Edite datos y genere puntos de prueba y compatibilidad con componentes integrados
・3 en 1 para edición, generación de puntos de prueba y compatibilidad con componentes integrados
・Nuevo algoritmo optimizado para Windows
・Libre de restricciones de volumen de datos para una mayor libertad
・Se agregaron nuevos comandos para reducir el tiempo de generación de datos a la mitad
Prueba de sonda voladora para placas integradas y desnudas UA1781
Descripción general de las especificaciones
| Número de brazos | 4 (2 cada uno, arriba y abajo) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Sondas montables | serie 1172 | |||||
| Número de pasos de prueba | máx. 900.000 pasos | |||||
| Parámetros de medición y rangos de medición | Resistencia : | 40,00 μΩ a 100,0 MΩ | ||||
| Capacitancia : | 10,00 fF a 40,00 mF | |||||
| Inductancia : | 10,00 μH a 100,0 mH | |||||
| Medida de diodo VZ: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Resistencia de aislamiento : | 200,0 Ω a 100,0 GΩ | |||||
| Resistencia de aislamiento de capacitancia: | 200,0 Ω a 10,00 MΩ | |||||
| Resistencia de alto voltaje: | 200,0 Ω a 25,00 GΩ | |||||
| Resistencia corta de alto voltaje: | 400,0 mΩ a 400,0 kΩ | |||||
| Medición de corriente de fuga: | 100,0 nA a 10,00 mA | |||||
| Medida de VZ del diodo Zener: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Medida de transistores digitales: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Medición de acopladores de fotos: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Examen de continuidad : | 400 mΩ a 1.000 kΩ | |||||
| Prueba abierta: | 4.000 Ω a 4.000 MΩ | |||||
| Prueba corta: | 400,0 mΩ a 40,00 kΩ | |||||
| Medición de voltaje CC: | 40,00 mV a 25,00 V | |||||
| rango de juicio | -99,9 % a +999,9 % o valor absoluto | |||||
| Paso mínimo de la almohadilla | 35um (con CP1075-09)(cuando se usa FA1971-01) 40um (con CP1075-09) |
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| Tamaño mínimo de la almohadilla | 5um (con CP1075-09)(cuando se usa FA1971-01) 10um (con CP1075-09) |
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| Velocidad de medición | máx. 100 puntos/s (movimientos XY de 0,1 mm, sondeo simultáneo de 4 brazos, cuando se mide la capacitancia) | |||||
| Tamaño de tablero comprobable | Grosor: 0,1 mm a 2,5 mm (0,10 pulgadas) Dimensiones exteriores: 50 mm (1,97 pulgadas) de ancho × 50 mm (1,97 pulgadas) de profundidad a 400 mm (15,75 pulgadas) de ancho × 330 mm (12,99 pulgadas) de profundidad |
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| Área máxima comprobable | 400 mm (15,75 pulgadas) de ancho × 324 mm (12,76 pulgadas) de profundidad | |||||
| Sujeción del tablero | Método de mandril de 2 lados de la placa (con función de tensión) | |||||
| Alimentación | 200 V, 220 V, 230 V, 240 V CA monofásico (especificar en el momento del pedido), 50/60 Hz, 5 kVA | |||||
| Dimensiones y masa | 1360 mm (53,54 pulgadas) de ancho × 1200 mm (47,24 pulgadas) de alto × 1280 mm (50,39 pulgadas) de profundidad, (sin incluir las partes sobresalientes), 1100 kg (38 800,7 onzas) | |||||
Software (3)
SOFTWARE FUERA DE LÍNEA 1139-09
