TESTADOR DE SONDA VOADOR FA1283
Teste elétrico completo de placas de alta função com uma única unidade
O equipamento Hioki PCB e inspeção de substrato aproveita nossa competência central em testes de componentes de alta precisão. O FA1283 é um testador de sonda voadora de carregamento horizontal de dupla face com velocidade de teste rápida de 100 vezes/segundo.
Características principais
- Máx. Inspeção de velocidade ultra-alta de 100 pontos/s
- Inspecione os bareboards gerais para substratos finos e de alta densidade, como substrato flexível e CSP
- Linha completa de funções, incluindo medição de capacitância e teste de diodos e outros componentes integrados
Nº do modelo (Código do pedido)
| FA1283-01 | sem porta-malas |
|---|---|
| FA1283-11 | com porta-malas |
Teste elétrico completo de placas de alta função com uma única unidade
O FA1283 é um sistema de teste de placa nua de última geração que incorpora a experiência de medição de componentes acumulada por Hioki no desenvolvimento de produtos de teste de placa preenchidos.
Abaixo de 1μm
Um testador de sonda voadora de alta precisão visando o contato de φ10 μm
Precisão total de sondagem □ 15 μm (quando o FA1971-01 está instalado)
Nem um segundo desperdiçado
Um início suave para o teste inicial é vital.
Os cronogramas de testes elétricos são curtos e rigorosos.
・Braçadeira de tensão equipada como padrão
・Unidade de correção de espessura da placa a laser que mede a flexão e a ondulação da placa
・ Estágio de vácuo de medição de capacitância para placas de teste que não podem ser fixadas (opcional)
・Disponível nas variantes de transporte offline e automático.
・FEB-LINE Sistema de criação de dados UA1781 fornece dados precisos, mesmo para projetos complexos.
Domínio total de medição
Uma única unidade para tudo, desde testes simples de continuidade e isolamento até medições de funções avançadas para testes de componentes.
Uma unidade de teste e uma unidade de medida para seleção e análise.
Este testador de sonda voadora de alto potencial foi projetado para atender às suas necessidades.
Unidade de Vácuo para Teste de Capacitância E4001
Nada é enviado sem testes elétricos.
O estágio de absorção de vácuo E4001 é usado para realizar o teste O/S do método de capacitância, que não é afetado pelo formato da placa.
Realize testes estáveis independentemente das dimensões ou espessura da placa.
Melhorar a qualidade dos testes de isolamento
Os recursos de teste de isolamento do testador têm um impacto direto na qualidade do produto quando se trata de fenômenos como queima de microcurtos e arcos durante os testes.
O FA1283 pode realizar testes de isolamento de super alta velocidade a 100 GΩ/10 ms.
Ele também fornece uma variedade de funções projetadas para garantir um alto nível de qualidade de isolamento, incluindo detecção de micro-curto, detecção de arco, teste bipolar e teste de impulso.
Dominando testes de continuidade e medição de resistência
Os usuários podem selecionar entre vários modos, incluindo medição de baixa resistência de 4 terminais, medição de continuidade de 200 mA e teste de O/S de medição de capacitância.
Use a medição de 4 terminais para detectar aumentos na resistência da fiação causados por fenômenos como vias abertas e use testes de continuidade em grandes correntes de até 200 mA para garantir a integridade da placa em condições que se aproximam da operação real.
O FA1283 oferece vários modos de medição que são possibilitados pela experiência de medição exclusiva Hioki's, desde medição de resistência de baixa tensão em 0,1 V até medição de resistência de alta tensão para materiais como ITO que possuem alta resistividade de isolamento.
Medição de dispositivo incorporado: um desvio acentuado da medição LCR
O FA1283 é um sistema de teste de placa nua de última geração que incorpora a experiência de medição de componentes acumulada por Hioki no desenvolvimento de produtos de teste de placa preenchidos.
Seus recursos de medição variam de funções básicas de medição, como medição MLCC, até funcionalidade de proteção para medição de circuitos compostos, medição de separação de fase e outros recursos que vão além dos recursos típicos de testadores em circuito, também oferece modos dedicados, como teste de consumo de corrente e teste de corrente de fuga para uso em testes de confiabilidade LSI.
Essas funções são ideais para testar placas preenchidas e diferem daquelas oferecidas pelos medidores LCR.
Metade do tempo de geração de dados com a nova plataforma FEB-LINE UA1781
Teste de sonda voadora para placas Embutidas e Nuas UA1781
Software de edição 3 em 1 para testes de placas nuas
Edite dados e gere ponto de teste e suporte a componentes integrados
・3 em 1 para edição, geração de pontos de teste e suporte a componentes integrados
・Novo algoritmo otimizado para Windows
・Livre de restrições de volume de dados para maior liberdade
・Adicionados novos comandos para reduzir o tempo de geração de dados pela metade
Visão geral das especificações
| Número de braços | 4 (2 cada, superior e inferior) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Sondas montáveis | série 1172 | |||||
| Número de etapas de teste | Máx. 900.000 passos | |||||
| Parâmetros de medição e faixas de medição | Resistência: | 40,00 μΩ a 100,0 MΩ | ||||
| Capacitância: | 10,00 fF a 40,00 mF | |||||
| Indutância: | 10,00 μH a 100,0 mH | |||||
| Medição do diodo VZ: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Resistência de isolamento : | 200,0 Ω a 100,0 GΩ | |||||
| Resistência de isolamento de capacitância: | 200,0 Ω a 10,00 MΩ | |||||
| Resistência de alta tensão: | 200,0 Ω a 25,00 GΩ | |||||
| Resistência curta de alta tensão: | 400,0 mΩ a 400,0 kΩ | |||||
| Medição de corrente de fuga: | 100,0 nA a 10,00 mA | |||||
| Medição do diodo Zener VZ: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Medição do transistor digital: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Medição dos acopladores de fotos: | 0,000 V a 25,00 V | |||||
| Teste de continuidade: | 400 mΩ a 1.000 kΩ | |||||
| Teste aberto: | 4.000 Ω a 4.000 MΩ | |||||
| Teste curto: | 400,0 mΩ a 40,00 kΩ | |||||
| Medição de tensão DC: | 40,00 mV a 25,00 V | |||||
| Faixa de julgamento | -99,9% a +999,9% ou valor absoluto | |||||
| Passo mínimo do pad | 35um (com CP1075-09)(ao usar FA1971-01) 40um (com CP1075-09) |
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| Tamanho mínimo da almofada | 5um (com CP1075-09)(ao usar FA1971-01) 10um (com CP1075-09) |
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| Velocidade de medição | máx. 100 pontos/s (movimentos XY de 0,1 mm, sondagem simultânea de 4 braços, quando medição de capacitância) | |||||
| Tamanho da placa testável | Espessura: 0,1 mm a 2,5 mm (0,10 pol.) Dimensões externas: 50 mm (1,97 pol) L × 50 mm (1,97 pol) D a 400 mm (15,75 pol) L × 330 mm (12,99 pol) D |
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| Área máxima testável | 400 mm (15,75 pol.) L × 324 mm (12,76 pol.) D | |||||
| Fixação da placa | Método de mandril de 2 lados da placa (com função de tensão) | |||||
| Fonte de energia | 200 V, 220 V, 230 V, 240 V AC monofásico (especificar no momento do pedido), 50/60 Hz, 5 kVA | |||||
| Dimensões e massa | 1360 mm (53,54 pol) L × 1200 mm (47,24 pol) A × 1280 mm (50,39 pol) D, (excluindo as partes salientes), 1.100 kg (38.800,7 oz) | |||||
Software (3)
SOFTWARE OFF-LINE 1139-09
