特長
- フロント2アーム、バック2アームの計4アームで両面同時検査
- 端子低抵抗測定機能（オプション）により、クラック等の目に見えない欠陥まで検出
- 導通検査方式と静電容量測定方式に加え、多彩な検査を実装
絶縁導通検査方式による短絡・断線検査
CR検査による短絡・断線検査（特許番号1736393）
静電容量測定方式による短絡・断線検査
IVH、スルーホールの抵抗検査（オプションの4端子低抵抗測定）
L, C, R, D測定により基板内蔵素子定数の測定 - 高精度ながら検査スピードは最高0.012秒/ステップと高速
- 不良時の微小な静電容量変化を確実に検出する、5 aFの高分解能（1 aF=10 ^-6 pF）
- 最小パッド径φ20μmで、ファインピッチの微細パッドにも確実にプロービング
- 試験電圧250Vまで可能な絶縁耐圧試験を搭載可能（オプション）
- プローブの打痕を最小限に抑える、高速ソフトランディング機能と衝撃吸収プローブ
- 検査の基準値吸収に必要な一連の動作を自動化、簡単に基本データの吸収が可能
形名（発注コード）
| 1270 | 基板サイズ：50×50mm〜400×330mm | 廃止 |
|---|---|---|
| 1271 | 基板サイズ：50×70mm〜610×510mm | 廃止 |
「つながる力」ATE製品紹介
HIOKI基板検査装置の「つながる力」は電気検査で未来へとつながってゆく力。
お客様とともにこの豊かな生活を支え続けることが検査装置にできる小さな可能性です。
そして、電気検査の命でもある「コンタクト性能」という基板とつながる力の向上を日々追い求め探求しつづけることが、HIOKIの基板検査装置が目指し、歩む道なのです。
シンプルフラングプローブテスタ
導通と非導通の検査に特化したシンプルフライングプローブテスタ。
駆動系以外の機構部品を極限まで減らすことで、メンテナンスを含めたローコストを実現しました。
フルオプションの実装で、部品内蔵基板やパッケージ基板までこなすハイスペックシステムにも対応します。
静電容量測定で、絶縁抵抗値が保証できるのか？
正確な数値換算は難しいので、答えは「できない」となります。
フライングプローブテスタの静電容量式絶縁検査は抵抗による絶縁抵抗検査よりも圧倒的な検査時間の短縮を実現できることが最大のメリットとなります。
静電容量の値によって、導通・非導通を保証していますので、基板を使うお客様に誤解を与えないようにすることも大切です。
当然ながら抵抗値としての保証はできないので、静電容量（F）の数値保証（トレーサビリティ）ができる検査機をおすすめします。
概略仕様
| 1270 | 1271 | |||||
| アーム数 | 4 (フロント, バック各2) | |||||
| 検査ステップ数 | 最大40,000ステップ (連続試験時300,000ステップ) | |||||
| 測定時間 | Max. 84ステップ/秒 (0.1mm移動, 4アーム同時プロービング, 容量測定時) |
|||||
| 最小パッド径 | φ 20 μm | |||||
| プローブワークエリア | 394W × 324D mm | 604W × 504D mm | ||||
| 固定・搬送 可能基板 |
厚さ:0.6〜3.2 mm 50W × 50H 〜400W × 330H mm |
厚さ:0.6〜3.2 mm 50W × 70H 〜610W × 510H mm |
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| 電源 | AC200 V ±10% (単相) 50/60 Hz, 3 kVA | |||||
| 寸法・質量 | 1500W × 1800H × 860D mm, 1000 kg | 1760W × 2000H × 860D mm, 1200 kg | ||||
