Test fixture atau Probe

• Perlengkapan uji untuk seri IMPEDANCE ANALYZER IM7580
• Pengujian frekuensi tinggi hingga 600 MHz
• Identifikasi SRF dan ESR dengan benar untuk memvalidasi kinerja komponen

Mekanisme Staging Fleksibel Mendukung Beragam Bentuk dan Ukuran Komponen

• Untuk pengujian dua wire koneksi langsung
• DC ke 3 GHz
• 6 ukuran sampel terukur: 0201 hingga 1210 (inci)

• Perlengkapan uji untuk Penganalisis Impedansi seri IM7580
• Analisis frekuensi tinggi

• Untuk pengujian dua wire koneksi langsung
• DC ke 1 MHz
• Ukuran sampel terukur: 008004 (inci)

• Perlengkapan dua wire presisi tinggi
• Reproduksibilitas tinggi dengan teknologi kontak canggih

• Pengujian koneksi langsung
• Uji SMD dengan elektroda di bagian bawah
• DC ke 8MHz（Dapat diukur hingga 10MHz, jika digabungkan dengan model pesanan khusus IM3536-01）
• Ukuran sampel terukur: Metrik (Inci): 0402 (01005), 0603 (0201), 1005 (0402)

• Pengujian 4-wire presisi tinggi untuk komponen elektronik canggih

• DC ke 8MHz, pemutusan 50Ω
• Jarak ujung elektroda: 0,3 hingga 6 mm
• Ukuran sampel terukur: 0201 hingga 2220 (inci)

• Probe 2-wire untuk pengujian LCR komponen chip kecil