PROBADOR DE SONDA VOLADORA FA1815-20
La eficiencia y la confiabilidad mejoradas llevan la producción de placas al siguiente nivel
NUEVO
Con los notables avances en la tecnología de TI que impulsan la industria de los semiconductores, la confiabilidad y la productividad se han vuelto indispensables. Los probadores de sonda voladora han sido durante mucho tiempo la herramienta estándar de la industria para la inspección de PCB. Sin embargo, a medida que las demandas de inspección se vuelven más estrictas, el FA1815-20 emerge como el probador de sonda voladora de próxima generación, listo para enfrentar los desafíos de precisión y velocidad. Además, este probador introduce un enfoque innovador para la inspección de resistencia de aislamiento que minimiza la preocupación de algunos usuarios cautelosos sobre daños a la placa con pruebas de alto voltaje en inspecciones de alta resistencia. Este avance representa el compromiso Hioki's de brindar soluciones líderes en el mercado que contribuyan al progreso social.
Nº de modelo (código de pedido)
FA1815-20 |
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Descripción general de las especificaciones
Número de brazos | 4 (2 cada uno, arriba y abajo) | |
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Sondas compatibles | Serie 1172, Serie CP1072, Serie CP1073 | |
Número de pasos de prueba | Máx. 4.000.000 pasos | |
Parámetros de prueba y rangos de medición | Medición de continuidad de corriente constante CC | 400,0 mΩ a 1000 kΩ |
Medición de resistencia de corriente constante CC | 40,00 µΩ a 400,0 kΩ | |
Medición de resistencia de voltaje constante de CC | 4.000 Ω a 40.00 MΩ | |
Medición de la resistencia de aislamiento | 1.000 kΩ a 100,0 GΩ | |
Medición de resistencia de aislamiento de bajo voltaje. | 1.000 MΩ a 100.0 GΩ | |
Medición de capacitancia de voltaje constante de CA | 100,0 fF a 10,00 μF | |
Medición de corriente de fuga | 1.000 µA a 100,0 mA | |
Medición de resistencia de alto voltaje | 1.000 kΩ a 100,0 GΩ | |
Medición del aislamiento del condensador. | 1.000 kΩ a 250,0 MΩ | |
Medición abierta | 4.000 Ω a 4.000 MΩ | |
Medición corta | 400,0 mΩ a 40,00 kΩ | |
Parámetros de prueba y medición para pruebas de placas integradas en componentes | prueba de conexión LSI | 0,000 V a 12,00 V |
Medición de resistencia de voltaje constante de CA | 10,00 Ω a 10,00 kΩ | |
Medición de capacitancia de voltaje constante de CA | 10,00 pF a 100,0 μF | |
Medición de inductancia de voltaje constante de CA | 1.000 μH a 1.000 mH | |
rango de juicio | -99,9 % a +999,9 % o valor absoluto | |
Resolución de movimiento | XY: 0,1 µm/pulso; Z: 1 μm/pulso | |
Paso mínimo de la almohadilla | Superficie superior: 34 μm (con CP1075-09) Superficie inferior: 44 μm (con CP1075-09) |
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Tamaño mínimo de la almohadilla | Superficie superior: 4 μm cuadrados (con CP1075-09) Superficie inferior: 14 μm cuadrados (con CP1075-09) |
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Velocidad de medición | Máx. 100 puntos/seg. (movimientos de 0,15 mm, sondeo simultáneo de 4 brazos, medición de capacitancia) | |
Tamaño de tablero comprobable | Espesor: 1 mm (0,04 pulg.) a 12 mm (0,47 pulg.) Dimensiones exteriores: 50 mm (1,97 pulgadas) de ancho × 50 mm (1,97 pulgadas) de profundidad a 340 mm (13,39 pulgadas) de ancho × 340 mm (13,39 pulgadas) de profundidad |
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Área máxima comprobable | 340 mm (13,39 pulg.) An × 340 mm (13,39 pulg.) Prof. | |
Método de abrazadera | Accesorio flexible Unidad de vacío para prueba de capacitancia (opciones) |
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Requisitos de aire | Presión del lado primario: 0,5 MPa a 0,99 MPa (aire seco) Consumo máximo: 0,3 L/min. (ANR) |
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Alimentación | 200 V, 220 V, 230 V, 240 V CA monofásico (especificado en el momento del pedido); 50/60 Hz; consumo máximo de energía: 5 kVA |
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Dimensiones y peso | 1355 mm (53,35 pulgadas) de ancho × 1190 mm (46,85 pulgadas) de alto × 1265 mm (49,8 pulgadas) de profundidad (sin incluir las piezas sobresalientes); 1100 kg ±50 kg (38800 onzas ±1763 onzas) |