Software de la aplicacion

• Detectar puntos significativos que pueden causar defectos latentes en la placa
• Compatible con FA1816, FA1817, FA1811, FA1812, etc.

• Detectar defectos latentes con IA
• Análisis de datos utilizando tecnología de medición de alta precisión

• 3 en 1 para edición, generación de puntos de prueba y compatibilidad con componentes integrados
• Nuevo algoritmo optimizado para Windows
• Libre de restricciones de volumen de datos para una mayor libertad
• Se agregaron nuevos comandos para reducir el tiempo de generación de datos a la mitad

• Software de edición de datos de Gerber que incorpora el conocimiento para la prueba de sustratos
• Reduzca el tiempo de generación de datos en un 50 % con la nueva plataforma

• Software de visualización dedicado para equipos de prueba eléctrica Hioki y sistemas de creación de datos

• Software de visualización de patrones para probadores ICT y bare board
• Buscar componentes y redes en sustratos integrados en dispositivos

• Genere datos de prueba de placa de alta calidad sin placas físicas

• Optimice el rendimiento de las pruebas cuando se combina con el probador de sonda voladora FA1240-50