Software de aplicativo

• Detectar pontos significativos que podem causar defeitos latentes na placa
• Compatível com FA1816, FA1817, FA1811, FA1812, etc.

• Detecte defeitos latentes com IA
• Análise de dados utilizando tecnologia de medição de alta precisão

• 3 em 1 para edição, geração de pontos de teste e suporte a componentes integrados
• Novo algoritmo otimizado para Windows
• Livre de restrições de volume de dados para maior liberdade
• Adicionados novos comandos para reduzir o tempo de geração de dados pela metade

• Software de edição de dados Gerber que incorpora o know-how para testes de substrato
• Reduza o tempo de geração de dados em 50% com a nova plataforma

• Software de visualização dedicado para equipamentos de teste elétrico Hioki e sistemas de criação de dados

• Software de visualização de padrões para testadores de TIC e de placa simples
• Procure componentes e redes em substratos incorporados ao dispositivo

• Gere dados de teste de placa de alta qualidade sem placas físicas

• Otimize o desempenho do teste quando emparelhado com o testador de sonda voadora FA1240-50