電流プローブ CT6705
大電流・高周波の設計判断を支える、信頼できる電流波形
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絶縁導体
比類ない安定性で、高周波電流波形をとらえる
CT6704, CT6705は、フラックスゲート検出技術を用いた次世代の電流プローブです。
温度ドリフトの低減と、高周波大電流測定時の発熱抑制を実現したことで、より安全で安定した波形観測ができます。重要な設計判断を支える電流波形観測を提供します。
特長
- DC〜15 MHz帯域
- 最大500 Aの測定可能電流
- フラックスゲート方式による低ドリフト
- 高電流・高周波測定のための拡張動作範囲
- 各社オシロスコープに対応した標準BNC出力
形名（発注コード）
| CT6705 | 500 A, 15 MHz 帯域 | ¥450,000（税込 ¥495,000） |
|---|
高周波電流波形をより忠実に捉える
高速スイッチングが進むSiC/GaN評価では、立上がりやリップルを含む電流波形を正しく捉えることが重要です。CT6704, CT6705 は広帯域化により、そうした高周波成分を含む波形観測をより確実に行えます。
誘導加熱による発熱を低減
サーマルカメラで見る、高周波・大電流条件での発熱比較
高周波電流の測定では、プローブ内部で誘導加熱が発生するため、測定電流が制限されています。その結果、過入力により試験中の故障リスクが高まるおそれがあります。CT6704, CT6705は、この誘導加熱を大幅に低減するよう設計されており、評価者が高周波・大電流の波形をより安全かつ安定して測定できるよう設計されています。
- 注記:同じ条件で、従来機種と本機種を比較。画像は、サーマルカメラによる測定結果です。
高周波の測定範囲を拡大
従来は発熱やディレーティングの制約で使いにくかった条件でも、より広い周波数レンジで測定できるようになりました。
厳しい評価条件でも、安全性と実用性を両立しながら測定を進められます。
長時間の測定中でも安定した波形
フラックスゲート方式を採用した設計により、自己発熱によるオフセットドリフトを抑え、長時間の連続観測でも安定した波形評価を可能としています。
環境温度変化の影響も受けにくく、再現性を重視する評価で安心して使用できます。
オシロスコープを選ばず、柔軟に測定環境を構築できる
同じ電流プローブを、異なるオシロスコープブランドや研究・評価環境で共通して使用できます。特定の設備に限定されないので、設備運用の柔軟性を高め、既存資産を活かした効率的な測定環境の構築に貢献します。
さらに、HIOKIのメモリハイコーダ MR6000では、センサ電源供給に対応した一体型のHIOKIソリューションとして、波形観測から記録までをスムーズに行えます。
BBU負荷過渡試験向けの構成の詳細と活用事例を、フライヤーでご紹介しています。
基本仕様
| 周波数帯域 | DC〜15 MHz (−3 dB) |
|---|---|
| 立上がり時間 (10%〜90%) |
23.3 ns 以下 |
| ノイズ | 25 mA rms 以下（帯域20 MHzの測定器にて） |
| 最大定格電流 | 500 A rms（DC, 正弦波にて規定、周波数ディレーティング以内） |
| 最大ピーク電流 | ±800 A peak（2秒以内） |
| 振幅確度 | ±0.5% rdg. ±1.0 mV（DC, 正弦波45〜66 Hz, 0～200 A rms） ±1% rdg.（DC, 正弦波45〜66 Hz, 200～400 A peak） |
| 出力レート | 0.01 V/A（プローブ内部で終端） |
| 測定可能導体 | 絶縁導体 |
| 導体径 | φ 20 mm |
| 電源 | ±12 V ±0.5 V, 8.1 VA |
| 寸法・質量 | センサー部：163W × 67H × 23D mm 中継BOX：45W × 120H × 26D mm 質量：425 g |
| ケーブル長 | センサー - 中継BOX間：1700 mm 中継BOX - BNC間：300 mm 電源ケーブル：1000 mm（電源プラグ：LEMO社製 FFA.0S.304.CLAC37Y) |
| 付属品 | 取扱説明書 ×1, 携帯用ケース ×1 |
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CURRENT PROBE CT6704, CT6705
取扱説明書
日本語
英語
簡体中国語 Ver.01
