フライングプローブテスタ FA1240-6x
電気検査で実装の正しさを証明する,
「つくる」「はかる」「みる」実装基板検査システム
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対応機種 FA1241-61
電池モジュールの検査を「高速」「高精度」「フィクスチャレス」で
フライング４端子プローブで、電池モジュールの検査を「高速」「高精度」「フィクスチャレス」で行うことができます。
特長
- 操作はワークフローに沿って進めるだけ。部品高さも考慮されたプログラムが短時間で完成
- アーム干渉自動演算 (UA1780との併用)
- ショット数10倍の高耐摩耗プローブもラインナップ。専用工具レスで交換も簡単
- HIOKI独自のリード浮き検出で疑似接触まで確実に検出。ワンランク上の半田付け品質保証を提供
- アナログ回路に強い位相分離測定とガーディング機能
- 部品に優しい0.2 V以下の電圧で測定
形名（発注コード）
| FA1240-61 | 大型基板対応 | お見積り |
|---|---|---|
| FA1240-63 | Mラック基板対応 | お見積り |
| FA1241-61 | CE対応, 大型基板対応 | お見積り |
電気検査で実装の正しさを証明する
電気検査の測定結果には、測定値が必ず含まれています。
電気的な特性という見えないものを見える化し、設計どおりの状態であることを確認し、数値として出荷状態を保証します。
実装基板検査の現場にはハンディのテスタ（DMM）が必ず用意されているはずです。フライングプローブテスタは定数が記載されていないチップの値を測定するだけでなく、コンタクトの難しい微少なポイントに簡単に当たり、ICリードの半田接続状態や、BGAの複雑なピン間チェックなど「見えない箇所の検査」も自動で行います。
製造現場で正しく実装された基板であることを証明するのが電気検査装置であり、低コストで少ない工数で電気検査を行うのがフライングプローブテスタです。
リードの足浮きと疑似接触の違いを明確にする
基板製造工程の各種検査をすり抜けて市場に出てしまう可能性が高い不良がリードの疑似接触不良です。
リードの浮きは、実動試験やファンクション検査または現在の画像検査技術であればほぼ確実にピックアップが可能になってきています。
そのため、外観では見つけにくい疑似接触状態を検出するのが、HIOKI独自の抵抗測定式疑似接触検査なのです。
リードとフィレット間の抵抗を４端子測定方式（ケルビン方式）を用いて正確に測定し、半田が正常に上がっているときとの抵抗値の違いを明確にします。
ガーバーデータにこだわる検査ポイント至上主義
簡単にデータが作成できる ≠ 簡単に検査ができる というのは半分は正しく、半分は間違いです。
ディスクリート時代ならイコールで構いませんが、FA1240が求めた検査データの作成は「簡単に-正確な-検査データが作成できる」ことです。
検査機が動くデータと、出荷できる検査データの差異が最小にすることで、（デバッグなどによる）生産ラインの停止時間を最小限に抑え、安心して製品を出荷することが可能になります。
「使える」検査データを「すばやく」作ることにこだわった結果、ガーバーデータとマウントデータからのデータ作成になりました。
ワークフロー採用の簡単インタフェース
ワークフローに沿って進めるだけで検査データが完成するワンルートシステム。
普段のデータ作成が簡単になるだけでなく、業務の引き継ぎでも見ているだけで把握できる単純システムです。
部品に干渉しない自動プロービング
プローブの先端を覗き込んで「当たる？、当たらない？」の確認作業をしていませんか？
このプローブの選択作業を無くすことで、作業者のデバッグ工数を激減させることができました。
FA1240では部品単位で高さと実装サイズを付加、これらの情報を元に検査プローブを自動で選択します（使えないプローブの選択も可能）。安心して電気検査のデバッグに取りかかることができます。
超硬プローブは時間とコストと基板ダメージまで減らす
新型超硬プローブにより300万回のコンタクトでも先端の摩耗がありません。
プローブの交換作業が減り、微少なポイントへのコンタクト性能が時間的にも向上します。
先端の摩耗はプローブの滑りの主因となり、ワンパス率の低下だけでなく最悪の場合は基板へダメージを与えることになります。 プローブの品質は検査装置の性能を評価する重要な項目になります。
データ作成時間1/10、ライン停止時間1/15
UA1780ソフト(オプション)と一緒に使用することで手戻りが少なく、短時間でハイクオリティーな検査プログラムを作成することが可能です。
「フライングプローブテスタはデータ作成が大変」と思っている方こそ、最新のデータ作成システムをベンチマークで体験してください。
概略仕様
| FA1240-61 FA1241-61 |
FA1240-63 | |||||
| アーム数 | 4アーム (L, ML, MR, R) | |||||
| 検査ステップ数 | 40,000ステップ (最大) | |||||
| 測定範囲 | 抵抗：400μΩ〜40ＭΩ コンデンサ：1pF〜400ｍF インダクタンス：1μH〜100H ダイオードVZ測定：0〜25V ツェナーダイオードVZ測定：0〜25V, 25〜80V (オプション) デジタルトランジスタ：0〜25V フォトカプラ：0〜25V ショート：0.4Ω〜400kΩ オープン：4Ω〜40MΩ 直流電圧測定：0〜25V ファンクション機能用電圧測定：±40V (オプション) リレーオン抵抗測定：40m〜40Ω (オプション) FETオン抵抗測定：400m〜400Ω (オプション) 簡易ファンクション測定：±25V (オプション) |
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| 測定スピード | 0.025s/step〜 | 0.025s/step〜 | ||||
| プロ−ビング精度 | 各アーム±100 μm以内 (X-Y各方向) | |||||
| 移動反復精度 | ±50 μm以内 (プロービング位置) | |||||
| 最小プロービングピッチ | 0.15 mm (4端子プローブ時0.5 mm) |
0.15 mm (4端子プローブ時0.5 mm) |
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| 検査可能サイズ | 510W × 460D mm | 400W × 330D mm | ||||
| 電源 | AC200 V (単相) 50/60 Hz, 6 kVA(FA1241はAC230 V) |
AC200 V (単相) 50/60 Hz, 5 kVA |
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| 寸法・質量 | 1406W × 1300H × 1380D mm, 1150 kg | 1266W × 1369H × 1425D mm, 1050 kg | ||||
