Hioki EE Corporation dengan gembira meluncurkan FA1815-20 Flying Probe Tester(*1), solusi canggih yang dirancang untuk meningkatkan pemeriksaan papan sirkuit berkepadatan tinggi yang penting bagi pasar TI. Penguji inovatif ini mampu menginspeksi hingga 100 titik per detik, menawarkan presisi probing yang tinggi dan ketahanan insulasi(*2) inspeksi hingga 100 GΩ pada tegangan uji hanya 10 V. Dengan memastikan pengujian probe yang cepat dan berkualitas tinggi kartu(*3) dan papan berdensitas tinggi lainnya, FA1815-20 dirancang untuk meningkatkan produktivitas secara signifikan di industri semikonduktor.

• *1: Penguji probe terbang: Ini adalah perangkat yang memeriksa papan sirkuit dengan menggerakkan probe pengukuran secara cepat untuk menguji sirkuit di seluruh papan. Mereka menawarkan fleksibilitas untuk memeriksa media dengan pola bervariasi dengan mengatur informasi posisi dan parameter pengukuran.
• *2: Resistansi isolasi: Ini adalah resistansi antara pola sirkuit pada papan. Resistansi isolasi yang rendah dapat menyebabkan malfungsi dan kegagalan pada produk elektronik.
• *3: Kartu probe: Ini adalah jig yang digunakan dalam proses produksi semikonduktor, khususnya untuk chip Integrasi Skala Besar (LSI), untuk verifikasi. untuk verifikasi. Substrat dasarnya terdiri dari pola bernada halus.

Interior FA1815-20 dan papan kepadatan tinggi harus diperiksa

Latar belakang perkembangan

Pesatnya kemajuan teknologi TI baru, termasuk Artificial Intelligence (AI), Internet of Things (IoT), dan jaringan 5G, mendorong batasan produk elektronik di seluruh dunia. Seiring dengan semakin terintegrasinya teknologi ini ke dalam masyarakat, permintaan akan produk elektronik anti kegagalan pun meningkat. Inti dari teknologi ini, sirkuit elektronik, dipasang pada papan berdensitas tinggi yang, berkat kemajuan teknologi semikonduktor, menjadi lebih kompleks dan terintegrasi. Tren ini memerlukan pemeriksaan yang lebih tepat dan komprehensif untuk memastikan keandalan.

Berinovasi untuk masa depan

Dengan kemajuan luar biasa dalam teknologi TI yang mendorong kemajuan industri semikonduktor, keandalan dan produktivitas menjadi hal yang sangat diperlukan. Penguji probe terbang telah lama menjadi alat standar industri untuk inspeksi PCB. Namun, seiring dengan semakin ketatnya tuntutan inspeksi, FA1815-20 muncul sebagai alat uji probe terbang generasi berikutnya, yang siap menghadapi tantangan presisi dan kecepatan secara langsung. Selain itu, penguji ini memperkenalkan pendekatan inovatif untuk pemeriksaan resistansi isolasi yang meminimalkan kekhawatiran beberapa pengguna yang berhati-hati tentang kerusakan papan dengan pengujian tegangan tinggi dalam inspeksi resistansi tinggi. Kemajuan ini mewakili komitmen Hioki's untuk menyediakan solusi terdepan di pasar yang berkontribusi terhadap kemajuan masyarakat.

Penguji Probe Terbang FA1815-20

Fitur utama FA1815-20

Ketepatan pemeriksaan yang tak tertandingi

FA1815-20 mencapai resolusi probing dengan jarak minimum 34 µm antar pola dan dapat memeriksa bantalan uji sirkuit sekecil 4 × 4 µm persegi. Ketepatan ini penting untuk pola sirkuit yang semakin halus saat ini.

Peningkatan kecepatan inspeksi

Untuk mengatasi tantangan yang ditimbulkan oleh semakin banyaknya pola sirkuit pada papan kepadatan tinggi, FA1815-20 telah dilengkapi dengan perangkat keras mekanis yang diperbarui dan algoritma pergerakan probe baru. Peningkatan ini dapat mengurangi waktu pengujian hingga 30%(*4) dibandingkan model sebelumnya, sehingga meningkatkan produktivitas secara signifikan.

Menghilangkan kekhawatiran akan kerusakan pada PCB

Beberapa pengguna yang berhati-hati mungkin khawatir bahwa pemeriksaan resistansi isolasi tegangan tinggi dapat merusak PCB. Head amp inovatif FA1815-20 memungkinkan inspeksi hingga 100 GΩ dengan tegangan uji hanya 10 V. Hal ini secara efektif menghilangkan kekhawatiran akan kerusakan pada papan dalam inspeksi ini.

• *4: Perbandingan dalam waktu sekitar. 40.000 langkah pengujian kontinuitas dan isolasi

Aplikasi Penggunaan

• Pemeriksaan kartu probe untuk GPU dalam komputasi AI
• Pemeriksaan substrat kepadatan tinggi untuk semikonduktor 5G dan IoT
• Pemeriksaan media untuk smartphone, perangkat wearable, kendaraan otonom, dan perangkat elektronik berperforma tinggi lainnya

Ketersediaan

FA1815-20 Flying Probe Tester akan tersedia mulai 26 Maret 2024.

Link Produk

PENGUJI PROBE TERBANG FA1815-20

Hubungi kami

Untuk pertanyaan seperti penawaran harga, demonstrasi, dan penggunaan uji coba, silakan gunakan formulir kontak Hioki untuk mendapatkan respond dari perwakilan HIOKI Indonesia

• Informasi yang diberikan adalah terkini pada tanggal penerbitan.
• Harap dicatat bahwa harga, spesifikasi, dan informasi lain yang terkandung dalam teks ini dapat berubah tanpa pemberitahuan.
• Nama perusahaan dan nama produk yang digunakan dalam teks ini adalah merek dagang terdaftar atau merek dagang dari perusahaannya masing-masing.

Berita