特長
- 高精度プロービング対応、業界最高水準（ベンチマークでご体感ください！）
- Max.100回/秒の超高速検査、業界最速
- 薄物基板も確実に固定、薄物基板（0.2 mm以下）
- 自動搬送対応（FA1282-11）検査コストの削減
形名（発注コード）
| FA1282-01 | 搬送なし | 廃止 |
|---|---|---|
| FA1282-11 | 搬送あり | 廃止 |
絶縁マイクロショート検査
ショート不良のネット間に高電圧を直接印加してしまうのは、炭化などによる長期信頼性の低下が予想されます。
マイクロショート検査は、低電圧、低電流のストレスのかからない検査でPASSになった配線間にのみ、高電圧を印加し絶縁検査を行います。
ARC検出
微小な配線ギャップに高電圧を印可する絶縁検査では、電圧依存性をもった不良が存在します。
電圧印加中の測定電圧と電流をモニタし、検査中に放電など計測異常が発生した場合は絶縁異常と判定します。
両面フライングは片面フライングより遅いのか？
答えは「とても時間がかかる時がある」
フライングプローブテスタは検査時間が重要な選定基準となります。
検査ポイント数だけで比較すれば、両面検査装置のほうが長くなる可能性があります。
片面基板や、両面基板は吸着タイプが圧倒的に早くなります。
これが多層板になると内層を使った静電容量測定が可能になるため時間差は少なくなってきます。
検査ポイント数×スピード設定×検査枚数＝出荷までの時間 と想定できるのが吸着タイプフライングプローブテスタなので、単純に両面機の検査時間が長い訳ではありません。
両面、片面、どちらも一長一短があるので、使い分けていただくのが最適解と言えます。
FA1282は静電容量測定用の吸着ステージを用意していますので1台２役で活用いただけます。
ガーバ編集は FEB-LINE UA1781
データ作成システム UA1781はHIOKIオリジナルのガーバ編集ソフト
フライングデータの作成に必要な検査ノウハウと、既存の編集ソフトでは面倒なキャビティデータや、塗りデータの処理など独自の機能を搭載したFLY-LINEの後継ソフトです。
概略仕様
| アーム数 | 4アーム (上面:2, 下面:2) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 検査ステップ数 | 300,000ステップ (最大) | |||||
| 測定範囲 | 抵抗測定:40.00μΩ〜100.0 MΩ 容量測定:10.00 f F〜40.00mF インダクタンス測定:10.00μH〜100.0 mH ダイオードVZ測定:0.000V〜25.00V 絶縁測定:200.0 Ω〜100.0 GΩ コンデンサ絶縁測定:200.0 Ω〜10.00 MΩ 高電圧抵抗測定:200.0 Ω ～ 25.00 GΩ 高電圧ショート測定:400.0 mΩ ～ 400.0 kΩ 漏れ電流測定:100.0 nA ～ 10.00 mA ツェナーダイオードVZ測定:0.000 V ～ 25.00 V ディジタルトランジスタ測定:0.000 V ～ 25.00 V フォトカプラ測定:0.000 V ～ 25.00 V 導通検査:400 mΩ ～ 1.000 kΩ オープン測定:4.000 Ω ～ 4.000 MΩ ショート測定:400.0 mΩ ～ 40.00 kΩ 直流電圧測定:40.00 mV〜25.00V デイスチャージ機能 簡易ビジュアル有無テスト 簡易ビジュアルアライメント測定 |
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| 検査スピード | 100ステップ/秒 (0.15mm移動・4アーム同時プロービング容量測定時) |
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| プロービング可能エリア | 400 mm W × 324 mm D | |||||
| 固定可能基板サイズ | 厚さ: 0.1〜2.5 mm 外形: 50W × 50D〜400W × 330 mm |
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| 電源 | AC200 V ±10% (単相) 50/60 Hz, 5 kVA ※出荷時指定によりAC220 V, 230 V, 240 Vにも対応可 |
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| 寸法・質量 | 1350W × 1206H × 1240D mm, 1100 kg | |||||
