ベアボードハイテスタ 1231
テストヘッド治具を用いた半導体パッケージ基板検査装置
廃止
特長
- もっと早く・もっと正確に・もっと簡単に!!
- インデックステーブル方式
- ワークの供給・位置補正・検査・搬出と同時処理を行うインデックス方式で待ちの無いマルチタスクを実現
- 微細パターンへのプロービングが可能
- 高い繰り返しメカ精度でφ20μm内へのプロービングを可能にしました。
- 高密度配線基板に対応
- 最大16,384ピンで高密度配線基板の4端子検査が可能です。
- ユーザーライクなインターフェース
- 分かりやすいアイコンで直感的な操作をサポート
- 電子部品接続情報のグラフィック表示にも対応
形名（発注コード）
| 1231-11 | 合計ピン数8192 | 廃止 |
|---|---|---|
| 1231-12 | 合計ピン数16192 | 廃止 |
概略仕様
| 1231-11 | 1231-12 | |
| 最大検査ポイント数 | 8,192 (上4,096, 下4,096) | 16,192 (上8,192, 下8,192) |
|---|---|---|
| 最大検査ステップ数 | 10,000ステップ | |
| タクトタイム | 1.5秒/1個片 (1024ポイント, 導通検査, 絶縁検査, 1パターン2ポイント, 良品測定時) |
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| 最小パッド径 | φ 20 μm | |
| 固定・搬送可能基板 | 0.8〜2.5mm 15 (W) × 15 (D)〜55 (W) × 55 (D)mm (※基板サイズが表記から外れる場合は最寄りの営業所にご相談ください) |
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| 電源 | AC200 V ±10% (三相) 50/60 Hz / 消費電力: 6 kVA | |
| 寸法・質量 | 1500W × 1680H × 1750D mm, 2000 kg | |
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ベアボードハイテスタ 1231
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