• Pruebas |Z|, L, C, R
• 1 MHz a 1,3 GHz
• Velocidad de prueba de 0,5 ms, ±0,65 % de precisión, 0,07 % de variabilidad
• Medir LCR y realizar barridos de frecuencia simultáneamente
• Para I+D y producción de gran volumen de microesferas de ferrita e inductores de microprocesadores
• Comparador y Comprobación de Contactos